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difractómetro de rayos X monocristalino

difractómetro de rayos X monocristalino, Total: 59 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en difractómetro de rayos X monocristalino son: óptica y medidas ópticas., Pruebas no destructivas, pruebas de metales, Productos de la industria química., producción de metales, Química analítica, Educación, Plástica, Protección de radiación, químicos inorgánicos, Cerámica, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, difractómetro de rayos X monocristalino

• JJG 629-1989 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
• JJG(地質(zhì)) 1014-1990 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
• JJG 629-2014 Difractómetros de rayos X policristalinos

Professional Standard - Machinery, difractómetro de rayos X monocristalino

• JB/T 11144-2011 difractómetro de rayos X
• JB/T 9400-2010 Especificación del difractómetro de rayos X.
• JB/T 9400-1999 Especificación para difractómetro de rayos X.
• JB/T 5482-2011 Aparato de orientación de rayos X.

British Standards Institution (BSI), difractómetro de rayos X monocristalino

• BS EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
• BS EN 13925-3:2005(2009) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
• BS EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
• BS EN 13925-2:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
• BS EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
• BS EN 13925-1:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
• BS ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba para la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, difractómetro de rayos X monocristalino

• GB/T 42676-2023 Método de difracción de rayos X para probar la calidad del monocristal semiconductor
• GB 16355-1996 Normas de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
• GB/T 30904-2014 Productos químicos inorgánicos para uso industrial. Análisis de forma cristalina. Método de difracción de rayos X.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), difractómetro de rayos X monocristalino

• JIS H 7805:2005 Método para la determinación del tama?o de cristalitos en catalizadores metálicos mediante difractometría de rayos X.

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), difractómetro de rayos X monocristalino

• GB/T 37983-2019 Métodos de prueba de difracción de rayos X para determinar la orientación de materiales cristalinos por rotación.

Professional Standard - Education, difractómetro de rayos X monocristalino

• JY/T 0587-2020 Principios generales de los métodos de difracción de rayos X de policristales.
• JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares peque?os mediante difracción de rayos X de cristal único
• JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares peque?os mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos
• JY/T 009-1996 Principios generales del método de derivación de rayos X de policristales con objetivo giratorio

Spanish Association for Standardization (UNE), difractómetro de rayos X monocristalino

• UNE-EN 13925-3:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• UNE-EN 13925-2:2004 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos

SCC, difractómetro de rayos X monocristalino

• NS-EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• AENOR UNE-EN 13925-3:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• DANSK DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• DANSK DS/EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
• NS-EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 2: Procedimientos.

Danish Standards Foundation, difractómetro de rayos X monocristalino

• DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• DS/EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos

Association Francaise de Normalisation, difractómetro de rayos X monocristalino

• NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: instrumentos.
• NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 2: procedimientos.
• NF EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos

German Institute for Standardization, difractómetro de rayos X monocristalino

• DIN EN 13925-3:2005-07 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
• DIN EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
• DIN EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
• DIN EN 13925-2:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
• DIN EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003

European Committee for Standardization (CEN), difractómetro de rayos X monocristalino

• EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos

Lithuanian Standards Office , difractómetro de rayos X monocristalino

• LST EN 13925-3-2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• LST EN 13925-2-2004 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos

工業(yè)和信息化部, difractómetro de rayos X monocristalino

• SH/T 1827-2019 Determinación de la cristalinidad de plásticos mediante el método de difracción de rayos X.
• YB/T 5338-2019 Método de difractómetro de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita en acero.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, difractómetro de rayos X monocristalino

• JJF 1256-2010 Especificación de calibración para equipos de orientación de monocristales de rayos X

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), difractómetro de rayos X monocristalino

• GB/T 34612-2017 Método de medición de la curva de oscilación de difracción de doble cristal de rayos X de cristales de zafiro

Professional Standard - Agriculture, difractómetro de rayos X monocristalino

• 57藥典 四部-2020 0451 Método de difracción de rayos X
• 77藥典 四部-2015 0451 Método de difracción de rayos X

PT-IPQ, difractómetro de rayos X monocristalino

• E E 14-1971 AN?LISE POR DIFRAC??O DE RAIOS X

Professional Standard - Nuclear Industry, difractómetro de rayos X monocristalino

• EJ/T 553-1991 Determinación de los parámetros de las células minerales Método de difracción de rayos X en polvo

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), difractómetro de rayos X monocristalino

• KS M 0043-2009 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.

Professional Standard - Energy, difractómetro de rayos X monocristalino

• NB/SH/T 6033-2021 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del método de difracción de rayos X del tamiz molecular ZSM-22
• NB/SH/T 6015-2020 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del tamiz molecular ZSM-23 mediante el método de difracción de rayos X
• NB/SH/T 6024-2021 Determinación de la cristalinidad relativa del método de difracción de rayos X de tamiz molecular ZSM-5

International Organization for Standardization (ISO), difractómetro de rayos X monocristalino

• ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada): método de prueba para determinar la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, difractómetro de rayos X monocristalino

• GBZ 115-2002 Estándares radiológicos para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X

GSO, difractómetro de rayos X monocristalino

• NB/SH/T 6058-2022 Determinación de la cristalinidad relativa del tamiz molecular ZSM-22 mediante el método de difracción de rayos X

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