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difractómetro policristalino de rayos X

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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en difractómetro policristalino de rayos X son: Pruebas no destructivas, Educación, óptica y medidas ópticas., Productos de la industria química., producción de metales, pruebas de metales, Química analítica.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, difractómetro policristalino de rayos X

• JJG 629-1989 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
• JJG(地質(zhì)) 1014-1990 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
• JJG 629-2014 Difractómetros de rayos X policristalinos

British Standards Institution (BSI), difractómetro policristalino de rayos X

• BS EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
• BS EN 13925-3:2005(2009) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
• BS EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
• BS EN 13925-2:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
• BS EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
• BS EN 13925-1:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales

Professional Standard - Education, difractómetro policristalino de rayos X

• JY/T 0587-2020 Principios generales de los métodos de difracción de rayos X de policristales.
• JY/T 009-1996 Principios generales del método de derivación de rayos X de policristales con objetivo giratorio

Professional Standard - Machinery, difractómetro policristalino de rayos X

• JB/T 11144-2011 difractómetro de rayos X
• JB/T 9400-2010 Especificación del difractómetro de rayos X.
• JB/T 9400-1999 Especificación para difractómetro de rayos X.

Spanish Association for Standardization (UNE), difractómetro policristalino de rayos X

• UNE-EN 13925-3:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• UNE-EN 13925-2:2004 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos

Association Francaise de Normalisation, difractómetro policristalino de rayos X

• NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: instrumentos.
• NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 2: procedimientos.
• NF EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos

German Institute for Standardization, difractómetro policristalino de rayos X

• DIN EN 13925-3:2005-07 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
• DIN EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
• DIN EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
• DIN EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
• DIN EN 13925-2:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003

SCC, difractómetro policristalino de rayos X

• NS-EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• AENOR UNE-EN 13925-3:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• DANSK DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• DANSK DS/EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
• NS-EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 2: Procedimientos.

Danish Standards Foundation, difractómetro policristalino de rayos X

• DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• DS/EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos

European Committee for Standardization (CEN), difractómetro policristalino de rayos X

• EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos

Lithuanian Standards Office , difractómetro policristalino de rayos X

• LST EN 13925-3-2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• LST EN 13925-2-2004 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), difractómetro policristalino de rayos X

• JIS H 7805:2005 Método para la determinación del tama?o de cristalitos en catalizadores metálicos mediante difractometría de rayos X.

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會, difractómetro policristalino de rayos X

• GB/T 37983-2019 Métodos de prueba de difracción de rayos X para determinar la orientación de materiales cristalinos por rotación.

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