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Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal, Total: 96 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal son: Educación, óptica y medidas ópticas., Química analítica, Protección de radiación, pruebas de metales, Pruebas no destructivas, químicos inorgánicos, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Productos de la industria química., producción de metales, Metales no ferrosos, Refractarios, Plástica, Minerales no metalíferos, Materiales de construcción, Mediciones de radiación, Cerámica, Centrales eléctricas en general, Calidad del aire.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• JJG 629-1989 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
• JJG(地質(zhì)) 1014-1990 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
• JJG 629-2014 Difractómetros de rayos X policristalinos

PT-IPQ, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• E E 14-1971 AN?LISE POR DIFRAC??O DE RAIOS X

Professional Standard - Education, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares peque?os mediante difracción de rayos X de cristal único
• JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares peque?os mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos
• JY/T 0587-2020 Principios generales de los métodos de difracción de rayos X de policristales.
• JY/T 009-1996 Principios generales del método de derivación de rayos X de policristales con objetivo giratorio

Professional Standard - Machinery, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• JB/T 11144-2011 difractómetro de rayos X
• JB/T 9400-1999 Especificación para difractómetro de rayos X.
• JB/T 9400-2010 Especificación del difractómetro de rayos X.
• JB/T 5482-2011 Aparato de orientación de rayos X.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• KS M 0043-2009 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
• KS M 0043-2009(2019) Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• GB 16355-1996 Normas de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
• GB/T 42676-2023 Método de difracción de rayos X para probar la calidad del monocristal semiconductor
• GB/T 30904-2014 Productos químicos inorgánicos para uso industrial. Análisis de forma cristalina. Método de difracción de rayos X.
• GB/T 8359-1987 Carburos en acero rápido. Análisis de fase cuantitativa. Método de difractómetro de rayos X.
• GB/T 19421.1-2003 Métodos de prueba de disilicato de sodio en capas cristalinas - Análisis cualitativo de disilicato de sodio en capas cristalinas delta - Método de difractómetro de rayos X
• GB/T 5225-1985 Materiales metálicos--Análisis de fase cuantitativo--Método de difracción de rayos X del "valor K"

British Standards Institution (BSI), Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• BS EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
• BS EN 13925-3:2005(2009) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
• BS EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
• BS EN 13925-2:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
• BS EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
• BS EN 13925-1:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
• BS ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba para la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• GBZ 115-2002 Estándares radiológicos para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X

SCC, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• DANSK DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• AENOR UNE-EN 13925-3:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• NS-EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• DANSK DS/EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
• NS-EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 2: Procedimientos.
• NS-EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X a partir de materiales policristalinos y amorfos. Parte 1: Principios generales.
• AENOR UNE-EN 13925-1:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.
• DANSK DS/EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.
• DANSK DS/EN 15305:2008 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X

European Committee for Standardization (CEN), Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos

AENOR, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• UNE-EN 13925-3:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• UNE-EN 13925-2:2004 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
• UNE-EN 13925-1:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.

German Institute for Standardization, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• DIN EN 13925-3:2005-07 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
• DIN EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
• DIN EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
• DIN EN 13925-2:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
• DIN EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
• DIN EN 13925-1:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
• DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008, corrección de errores según DIN EN 15305:2009-01; Versión alemana EN 15305:2008/AC:2009
• DIN EN 15305:2009-01 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008

Association Francaise de Normalisation, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: instrumentos.
• NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 2: procedimientos.
• NF EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
• NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: procedimientos
• NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 1: principios generales.
• NF X43-600-2*NF ISO 16258-2:2015 Aire en el lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Parte 2: método de análisis indirecto.
• NF EN 15305:2009 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• JIS H 7805:2005 Método para la determinación del tama?o de cristalitos en catalizadores metálicos mediante difractometría de rayos X.
• JIS K 0131:1996 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• GB/T 37983-2019 Métodos de prueba de difracción de rayos X para determinar la orientación de materiales cristalinos por rotación.
• GB/T 36923-2018 Identificación de polvo de perlas: análisis de difracción de rayos X.
• GB/T 40407-2021 Método de análisis de difracción de rayos X en polvo para determinar las fases en el clinker de cemento portland

Danish Standards Foundation, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• DS/EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
• DS/EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.

Lithuanian Standards Office , Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• LST EN 13925-3-2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• LST EN 13925-2-2004 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
• LST EN 13925-1-2004 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.

工業(yè)和信息化部, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• YS/T 1178-2017 Método de difracción de rayos X de análisis de fase de escoria de aluminio.
• YB/T 172-2020 Análisis de fase cuantitativa de ladrillos de sílice mediante el método de difracción de rayos X.
• SH/T 1827-2019 Determinación de la cristalinidad de plásticos mediante el método de difracción de rayos X.
• YB/T 5338-2019 Método de difractómetro de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita en acero.

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• YB/T 5336-2006 Análisis cuantitativo de la fase de carburo en acero de alta velocidad mediante el método de difracción de rayos X
• YB/T 172-2000 Análisis cuantitativo de fases de ladrillos de sílice. Método de difracción de rayos X.
• YB/T 5320-2006 Método del valor K de difracción de rayos X para el análisis de fase cuantitativo de materiales metálicos

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• JJF 1256-2010 Especificación de calibración para equipos de orientación de monocristales de rayos X

American National Standards Institute （ANSI), Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• ANSI N43.2-2001 Seguridad radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• GB/T 34612-2017 Método de medición de la curva de oscilación de difracción de doble cristal de rayos X de cristales de zafiro

Professional Standard - Customs, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• HS/T 12-2006 Análisis cuantitativo de fase mixta de talco, clorito y magnesita. Método de difractómetro de rayos X

Professional Standard - Energy, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• NB/SH/T 6033-2021 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del método de difracción de rayos X del tamiz molecular ZSM-22
• NB/SH/T 6015-2020 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del tamiz molecular ZSM-23 mediante el método de difracción de rayos X
• NB/SH/T 6024-2021 Determinación de la cristalinidad relativa del método de difracción de rayos X de tamiz molecular ZSM-5
• NB/SH/T 0339-2021 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del método de difracción de rayos X de tamiz molecular de faujasita

Professional Standard - Agriculture, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• 57藥典 四部-2020 0451 Método de difracción de rayos X
• 77藥典 四部-2015 0451 Método de difracción de rayos X

Professional Standard - Nuclear Industry, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• EJ/T 553-1991 Determinación de los parámetros de las células minerales Método de difracción de rayos X en polvo
• EJ/T 767-1993 Analizador de fluorescencia de rayos X excitado por fuentes radiactivas.

GSO, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• NB/SH/T 6058-2022 Determinación de la cristalinidad relativa del tamiz molecular ZSM-22 mediante el método de difracción de rayos X
• NB/SH/T 0972-2018 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del tamiz molecular SAPO-11 mediante el método de difracción de rayos X en polvo
• NB/SH/T 0971-2018 Determinación de la cristalinidad relativa del tamiz molecular SAPO-11 mediante el método de difracción de rayos X en polvo
• BH GSO ISO 16258-2:2022 Aire en el lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Parte 2: Método por análisis indirecto.
• GSO ISO 16258-2:2021 Aire en el lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Parte 2: Método por análisis indirecto.

International Organization for Standardization (ISO), Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada): método de prueba para determinar la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo

Professional Standard - Electricity, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• DL/T 1151.22-2012 Métodos analíticos de incrustaciones y productos de corrosión en centrales eléctricas. Parte 22: métodos de prueba estándar de espectrometría de fluorescencia de rayos X y difracción de rayos X.

KR-KS, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• KS D ISO 14706-2003(2023) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total

Professional Standard - Building Materials, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

• JC/T 1085-2008 Analizador de fluorescencia de rayos X para cemento.

Otros:   analizador de difracción de rayos X, difractómetro de rayos X monocristalino, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal, Difractómetro de rayos X de monocristal.