ZH
RU
EN
ES

X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)は全部で 91 項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)に関連している。

X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì) 國際標(biāo)準(zhǔn)分類において、これらの分類：分析化學(xué)、 長さと角度の測定、 光學(xué)および光學(xué)測定、 放射線測定、 金屬鉱石、 原子力工學(xué)、 計(jì)測學(xué)と測定の総合、 電気、磁気、電気および磁気測定、 非破壊検査、 金屬材料試験、 表面処理?メッキ、 塗料成分、 天文學(xué)、測地學(xué)、地理學(xué)。

International Organization for Standardization (ISO), X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• ISO 21270:2004 表面化學(xué)分析 X線光電子分光裝置とオージェ電子分光裝置 強(qiáng)度スケールの直線性
• ISO 16129:2018 表面化學(xué)分析 - X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計(jì)の日常的な性能を評(píng)価する方法
• ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光裝置の日常的な性能評(píng)価手順
• ISO 15472:2010 表面化學(xué)分析、X線光電子分光裝置、エネルギースケール校正
• ISO 15472:2001 表面化學(xué)分析 X線光電子分光計(jì)のエネルギースケール校正
• ISO 15470:2017 表面化學(xué)分析、X 線光電子分光法、機(jī)器の性能パラメーターの説明
• ISO/TR 18231:2016 鉄鉱石 波長分散型蛍光X線分析裝置 精度測定
• ISO 15470:2004 表面化學(xué)分析、X 線光電子分光法、選択された機(jī)器性能パラメーターの説明

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• KS D ISO 21270:2005 表面化學(xué)分析 X線光電子分光裝置とオージェ電子分光裝置 強(qiáng)度スケールの直線性
• KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化學(xué)分析 X線光電子分光裝置およびオージェ電子分光裝置の強(qiáng)度スケールの直線性
• KS C IEC 60759:2009 半導(dǎo)體X線分光計(jì)の標(biāo)準(zhǔn)試験手順
• KS C IEC 60759-2009(2019) 半導(dǎo)體X線分光計(jì)の標(biāo)準(zhǔn)試験手順
• KS D ISO 15472:2003 表面化學(xué)分析、X線光電分光裝置、エネルギースケールの校正
• KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化學(xué)分析用のX線光電子分光計(jì)のいくつかの性能パラメータの説明
• KS C IEC 61452:2017 核計(jì)測「放射性核種のガンマ線放射率の測定」ゲルマニウムエネルギー分光計(jì)の校正と使用
• KS D ISO 3497-2002(2017) 金屬皮膜 - 皮膜厚さ測定 - X線分光法
• KS D ISO 15470:2005 表面化學(xué)分析、X 線光電子分光法、選択された機(jī)器性能パラメーターの説明

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• GB/T 21006-2007 表面化學(xué)分析 X 線光電子分光計(jì)およびオージェ電子分光計(jì)の強(qiáng)度スケールの直線性
• GB/T 25184-2010 X線光電子分光裝置による識(shí)別方法
• GB/T 20726-2006 半導(dǎo)體検出器X線分光器の一般原理
• GB/T 31364-2015 エネルギー分散型蛍光X線分析裝置の主な性能試験方法
• GB/T 11685-2003 半導(dǎo)體X線検出器システムおよび半導(dǎo)體X線エネルギー分析裝置の測定方法
• GB/T 22571-2008 表面化學(xué)分析 X線光電子分光裝置 エネルギースケールの校正
• GB/T 28892-2012 表面化學(xué)分析 X 線光電子分光法 選択された機(jī)器の性能パラメーターの表現(xiàn)
• GB/Z 42358-2023 鉄鉱石の波長分散型蛍光X線分析裝置の精度判定
• GB/T 20726-2015 マイクロビーム分析の主な性能パラメータと検証方法 電子プローブマイクロ分析 X線エネルギー分光計(jì)

British Standards Institution (BSI), X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• BS ISO 21270:2004 表面化學(xué)分析 X 線光電子分光計(jì)およびオージェ電子分光計(jì)の強(qiáng)度スケールの直線性
• BS ISO 16129:2018 表面化學(xué)分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光裝置の日常的な性能評(píng)価手順
• BS ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光裝置の日常的な性能評(píng)価手順
• BS PD ISO/TR 18231:2016 鉄鉱石 波長分散型蛍光X線分析裝置 精度の測定
• PD ISO/TR 18231:2016 鉄鉱石の精密測定波長分散型蛍光X線分析裝置
• BS ISO 15470:2005 表面化學(xué)分析、X 線光電子分光法、選択された機(jī)器性能パラメーターの説明
• BS ISO 15470:2017 表面化學(xué)分析、X 線光電子分光法、選択された機(jī)器性能パラメーターの説明
• BS ISO 15632:2012 マイクロビーム分析：電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計(jì)の検査用に選択された機(jī)器の仕様と性能パラメータ
• BS ISO 15632:2021 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計(jì)の検査用のマイクロビーム分析仕様および選択された機(jī)器性能パラメータ

未注明發(fā)布機(jī)構(gòu), X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• BS ISO 21270:2004(2010) 表面化學(xué)分析X線光電子分光裝置およびオージェ電子分光裝置強(qiáng)度スケールの直線性

American Society for Testing and Materials (ASTM), X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• ASTM E1217-11(2019) オージェ電子分光計(jì)および一部の X 線光電子分光計(jì)で検出される信號(hào)のサンプル領(lǐng)域を決定するための標(biāo)準(zhǔn)的な手法
• ASTM E996-04 オージェ電子分光計(jì)および X 線光電子分光法からのデータを報(bào)告するための標(biāo)準(zhǔn)的な方法
• ASTM E996-10 オージェ電子分光計(jì)および X 線光電子分光法からのデータを報(bào)告するための標(biāo)準(zhǔn)的な方法
• ASTM E2108-16 X線光電子分光計(jì)の電子結(jié)合エネルギースケールの標(biāo)準(zhǔn)的な手法
• ASTM E902-94(1999) X線光電子分光裝置の動(dòng)作特性を確認(rèn)するための標(biāo)準(zhǔn)的な方法
• ASTM D5381-93(2014) 顔料およびフィラーの蛍光 X 線 (XR) 分光分析の標(biāo)準(zhǔn)ガイド
• ASTM E1172-22 波長分散型 X 線分光計(jì)の説明と指定に関する標(biāo)準(zhǔn)的な手法
• ASTM E1172-16 波長分散型 X 線分光計(jì)の説明と指定に関する標(biāo)準(zhǔn)的な手法
• ASTM E1217-11 X線光電子分光器およびオージェ電子分光器を使用して、検出信號(hào)に影響を與えるサンプルの領(lǐng)域を決定するための標(biāo)準(zhǔn)的な操作手順
• ASTM E902-05 X線光電子分光裝置の動(dòng)作特性を確認(rèn)するための標(biāo)準(zhǔn)的な方法
• ASTM E1217-00 X線光電子分光計(jì)とオージェ電子分光計(jì)を使用した、検出信號(hào)に影響を與えるサンプル面積の決定の標(biāo)準(zhǔn)的な手法
• ASTM E1217-05 X線光電子分光計(jì)とオージェ電子分光計(jì)を使用した、検出信號(hào)に影響を與えるサンプル面積の決定の標(biāo)準(zhǔn)的な手法

Professional Standard - Machinery, X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• JB/T 11145-2011 蛍光X線分析裝置
• JB/T 6215-2011 非破壊検査機(jī)器 工業(yè)用X線管シリーズのスペクトル
• JB/T 11602.3-2013 非破壊検査裝置のX線管電圧の測定と評(píng)価 第3部：エネルギースペクトル試験

SE-SIS, X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• SIS SS IEC 759:1986 核実験裝置。 半導(dǎo)體X線エネルギー分光器検出プログラム

German Institute for Standardization, X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• DIN ISO 16129:2020-11 表面化學(xué)分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光裝置の日常的な性能評(píng)価手順
• DIN ISO 16129:2020 表面化學(xué)分析 X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計(jì)の日常的な性能を評(píng)価する手順 (ISO 16129-2018)、英語テキスト
• DIN ISO 15632:2022-09 エネルギー分散型 X 線分光計(jì)の仕様と検査のための、選択された機(jī)器の性能パラメータのマイクロビーム分析
• DIN ISO 15472:2020-05 表面化學(xué)分析 - X 線光電子分光計(jì) - エネルギースケール校正 (ISO 15472:2010)
• DIN ISO 15472:2020 表面化學(xué)分析用 X 線光電子分光計(jì)のエネルギー標(biāo)準(zhǔn)の校正 (ISO 15472:2010)、英語テキスト

CZ-CSN, X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• CSN 35 6575 Z1-1997 半導(dǎo)體X線分光計(jì)の標(biāo)準(zhǔn)試験手順

International Electrotechnical Commission (IEC), X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• IEC 60759:1983 半導(dǎo)體X線分光計(jì)の標(biāo)準(zhǔn)試験手順
• IEC 60759:1983/AMD1:1991 半導(dǎo)體X線分光器の標(biāo)準(zhǔn)試験手順の変更1

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• JJF 2024-2023 エネルギー分散型蛍光X線分析裝置の校正仕様
• JJF 2067-2023 エネルギー線分光計(jì)の校正仕様書
• JJF 1850-2020 ゲルマニウムガンマ線分光器校正仕様書
• JJF 1133-2005 蛍光X線分析裝置の金含有量分析裝置の校正仕様

工業(yè)和信息化部/國家能源局, X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• JB/T 12962.2-2016 エネルギー分散型蛍光X線分析裝置 その2：元素分析裝置
• JB/T 12962.3-2016 エネルギー分散型蛍光X線分析裝置 その3：膜厚測定裝置
• JB/T 12962.1-2016 エネルギー分散型蛍光X線分析裝置 第1部：一般的な技術(shù)

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• ANSI/IEEE Std 759-1984 半導(dǎo)體X線分光計(jì)のIEEE標(biāo)準(zhǔn)試験手順

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• JIS M 8205:2000 鉄鉱石 蛍光X線分析裝置
• JIS K 0162:2010 表面化學(xué)分析、X 線光電子分光法、選択された機(jī)器性能パラメーターの説明

IN-BIS, X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• IS 12737-1988 半導(dǎo)體X線エネルギー分光計(jì)の標(biāo)準(zhǔn)試験手順
• IS 12803-1989 蛍光X線分析裝置を用いた水硬性セメントの分析方法

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• JJG(地質(zhì)) 1006-1990 3080E型蛍光X線分析裝置の校正手順
• JJG 810-1993 波長分散型蛍光X線分析裝置の校正手順

Group Standards of the People's Republic of China, X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• T/CSTM 00901-2023 ハンドヘルド蛍光X線分析計(jì)の校正仕様

Professional Standard - Electron, X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• SJ/T 10714-1996 X線光電子分光裝置の動(dòng)作特性を確認(rèn)する標(biāo)準(zhǔn)的な方法

Association Francaise de Normalisation, X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• NF X21-055:2006 表面化學(xué)分析、X線光電子分光裝置、エネルギースケール校正

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• GB/T 22571-2017 表面化學(xué)分析用X線光電子分光裝置のエネルギースケールの校正

KR-KS, X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化學(xué)分析?X線光電子分光裝置?エネルギースケールの校正

Standard Association of Australia （SAA）, X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• AS 2563:1996 波長分散型蛍光X線分析裝置。 精度測定
• AS 2563:2019 鉄鉱石の精密測定波長分散型蛍光X線分析裝置
• AS ISO 15470:2006 表面化學(xué)分析。 X線光電子分光法。 選択した機(jī)器のパフォーマンスパラメータの説明

RU-GOST R, X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• GOST 22091.8-1984 線裝置、スペクトル成分およびスペクトル相対汚染レベルの測定方法
• GOST 22091.14-1986 X線裝置 X線エネルギー束密度（光束密度）測定方法
• GOST 25645.118-1984 個(gè)別の線源からの X 線放射、エネルギー スペクトルと角度座標(biāo)
• GOST 22091.7-1984 X線裝置、X線照射野エネルギー束密度分布の均一性の測定方法

Professional Standard - Agriculture, X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• JJG(教委) 016-1996 波長分散型蛍光X線分析裝置の校正手順

Professional Standard - Nuclear Industry, X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• EJ/T 584-1994 探査用のポータブルガンマ線測定器およびガンマ線分光計(jì)
• EJ/T 1139-2001 探査用ガンマ線放射器およびガンマ線分光計(jì)の性能と試験方法
• EJ/T 584-2014 探査用ポータブルガンマ線測定器および 4 チャンネルガンマ線分光計(jì)

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì)

• GB/T 40196-2021 蛍光X線分析法を用いた木材防腐剤および木材防腐剤中のCCAおよびACQの測定方法

その他：   X線分光計(jì) エネルギー分光計(jì).