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小角X線散亂計+

小角X線散亂計+は全部で 18 項標準に関連している。

小角X線散亂計+ 國際標準分類において、これらの分類：長さと角度の測定、 粒度分析、スクリーニング、 天文學(xué)、測地學(xué)、地理學(xué)、 非破壊検査。

RU-GOST R, 小角X線散亂計+

• GOST R 8.698-2010 測定の一貫性を確保するための國家制度 ナノ粒子および膜の空間パラメータ 小角X線散亂回折裝置を用いた測定方法
• GOST 25645.118-1984 個別の線源からの X 線放射、エネルギー スペクトルと角度座標
• GOST 22091.3-1984 X線裝置、X線照射野サイズと作業(yè)ビーム開き角度の測定方法

British Standards Institution (BSI), 小角X線散亂計+

• BS ISO 17867:2015 粒子徑分析、小角X線散亂
• BS ISO 17867:2020 粒子徑分析 小角 X 線散亂 (SAXS)
• DD ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角X線散亂
• BS DD ISO/TS 13762:2002 粒子徑分析 小角X線散亂法
• BS ISO 23484:2023 小角X線散亂(SAXS)による粒子濃度の測定
• 22/30441138 DC BS ISO 23484 小角 X 線散亂 (SAXS) による粒子濃度の測定
• BS ISO 20804:2022 小角X線散亂(SAXS)による多孔質(zhì)系および粒子系の比表面積の決定

International Organization for Standardization (ISO), 小角X線散亂計+

• ISO 17867:2015 粒子徑分析、小角X線散亂
• ISO 17867:2020 粒子徑分析、小角X線散亂(SAXS)
• ISO/FDIS 23484 小角X線散亂(SAXS)による粒子濃度の測定
• ISO 23484:2023 小角X線散亂(SAXS)による粒子濃度の測定
• ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角X線スパッタリング法
• ISO 20804:2022 小角X線散亂(SAXS)による多孔質(zhì)系および粒子系の比表面積の決定

Group Standards of the People's Republic of China, 小角X線散亂計+

• T/CSCM 05-2020 小角X線散亂による繊維內(nèi)の細孔分布の測定

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 小角X線散亂計+

• GB/T 13221-2004 X線小角散亂法によるナノパウダーの粒度分布の測定

その他：   小角X線散亂計, 小角X線散亂裝置, X線小角散亂計, X線小角散亂計, 小角X線散亂裝置, 小角X線散亂, 小角X線散亂, X線小角散亂, 小角X線散亂, 小角X線散亂, X線小角散亂計, 小角X散亂計, 小角X線散亂, 小角X線散亂計, 小角X線散亂, 小角+X+線散亂裝置, 小角X線散亂計, X線小角散亂, 小角X線散亂計+, 小角光線散亂裝置.