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小角X線散亂計(jì)

小角X線散亂計(jì)は全部で 27 項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)に関連している。

小角X線散亂計(jì) 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類において、これらの分類：粒度分析、スクリーニング、 長(zhǎng)さと角度の測(cè)定、 金屬材料試験、 非破壊検査、 天文學(xué)、測(cè)地學(xué)、地理學(xué)、 光學(xué)および光學(xué)測(cè)定。

GSO, 小角X線散亂計(jì)

• OS GSO ISO 17867:2017 粒子徑分析 -- 小角X線散亂
• GSO ISO 17867:2017 粒子徑分析 -- 小角X線散亂

International Organization for Standardization (ISO), 小角X線散亂計(jì)

• ISO 17867:2015 粒子徑分析、小角X線散亂
• ISO 17867:2020 粒子徑分析、小角X線散亂(SAXS)
• ISO/FDIS 23484 小角X線散亂(SAXS)による粒子濃度の測(cè)定
• ISO 23484:2023 小角X線散亂(SAXS)による粒子濃度の測(cè)定
• ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角X線スパッタリング法
• ISO 20804:2022 小角X線散亂(SAXS)による多孔質(zhì)系および粒子系の比表面積の決定

British Standards Institution (BSI), 小角X線散亂計(jì)

• BS ISO 17867:2015 粒子徑分析、小角X線散亂
• DD ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角X線散亂
• BS ISO 17867:2020 粒子徑分析 小角 X 線散亂 (SAXS)
• BS DD ISO/TS 13762:2002 粒子徑分析 小角X線散亂法
• BS ISO 23484:2023 小角X線散亂(SAXS)による粒子濃度の測(cè)定
• 22/30441138 DC BS ISO 23484 小角 X 線散亂 (SAXS) による粒子濃度の測(cè)定
• BS ISO 20804:2022 小角X線散亂(SAXS)による多孔質(zhì)系および粒子系の比表面積の決定

SCC, 小角X線散亂計(jì)

• DANSK DS/ISO 17867:2020 粒子サイズ分析 – 小角 X 線散亂 (SAXS)
• BS DD ISO/TS 13762:2001 粒子サイズ分析。 小角X線散亂法
• DANSK DS/ISO 23484:2023 小角X線散亂（SAXS）による粒子濃度の測(cè)定
• DANSK DS/ISO 20804:2022 小角X線散亂（SAXS）による多孔質(zhì)および粒子系の比表面積の測(cè)定

未注明發(fā)布機(jī)構(gòu), 小角X線散亂計(jì)

• JIS Z 8891:2023 粒子サイズ分析 -- 小角 X 線散亂 (SAXS)

RU-GOST R, 小角X線散亂計(jì)

• GOST R 8.698-2010 測(cè)定の一貫性を確保するための國(guó)家制度 ナノ粒子および膜の空間パラメータ 小角X線散亂回折裝置を用いた測(cè)定方法
• GOST 22091.3-1984 X線裝置、X線照射野サイズと作業(yè)ビーム開き角度の測(cè)定方法
• GOST 25645.118-1984 個(gè)別の線源からの X 線放射、エネルギー スペクトルと角度座標(biāo)

Group Standards of the People's Republic of China, 小角X線散亂計(jì)

• T/CSCM 05-2020 小角X線散亂による繊維內(nèi)の細(xì)孔分布の測(cè)定

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 小角X線散亂計(jì)

• GB/T 13221-2004 X線小角散亂法によるナノパウダーの粒度分布の測(cè)定
• GB/T 13221-1991 X線小角散亂法による超微粉末の粒度分布測(cè)定

Professional Standard - Machinery, 小角X線散亂計(jì)

• JB/T 11144-2011 X線回折裝置

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