ISO 20411:2018
表面化學(xué)分析.二次離子質(zhì)譜法.單離子計數(shù)動態(tài)二次離子光譜法中飽和強(qiáng)度的校正方法

Surface chemical analysis - Secondary ion mass spectrometry - Correction method for saturated intensity in single ion counting dynamic secondary ion mass spectrometry

標(biāo)準(zhǔn)號

ISO 20411:2018

發(fā)布

2018年

發(fā)布單位

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織

當(dāng)前最新

ISO 20411:2018

 

 

引用標(biāo)準(zhǔn)

ISO 18115-1:2013 ISO 18115-2:2013

本文件規(guī)定了一種在脈沖計數(shù)磁扇形二次離子質(zhì)譜儀或四極二次離子質(zhì)譜儀中確定強(qiáng)度尺度線性可接受偏差極限的最大計數(shù)率的方法。 它使用基于參考材料中兩種同位素深度剖面分析的測試，該參考材料在低濃度和高濃度范圍之間具有逐漸的濃度變化。 它還包括對探測器死區(qū)時間引起的飽和強(qiáng)度的校正方法。 校正可以增加 95% 線性度的強(qiáng)度范圍，以便對于相關(guān)校正方程已被證明有效的那些光譜...

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