GB/T 26074-2010
鍺單晶電阻率直流四探針測量方法

Germanium monocrystal.Measurement of resistivity-DC linear four-point probe

GBT26074-2010, GB26074-2010

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

GB/T 26074-2010

別名

GBT26074-2010
GB26074-2010

發(fā)布

2011年

總頁數(shù)

8頁

發(fā)布單位

國家質(zhì)檢總局

當(dāng)前最新

GB/T 26074-2010

 

 

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用直流四探針法測量鍺單晶電阻率的方法。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于測量試樣厚度和從試樣邊緣與任一探針端點(diǎn)的最近距離二者均大于探針間距的4倍鍺單晶的電阻率及測量直徑大于探針間距的10倍、厚度小于探針間距4倍鍺單晶圓片的電阻率。測量范圍為1×10^-3Ω?cm～1×10²Ω?cm。

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