GB/T 26074-2010
鍺單晶電阻率直流四探針測(cè)量方法
Germanium monocrystal.Measurement of resistivity-DC linear four-point probe
GBT26074-2010, GB26074-2010
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- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- GB/T 26074-2010
- 別名
- GBT26074-2010
GB26074-2010 - 發(fā)布
- 2011年
- 總頁數(shù)
- 8頁
- 發(fā)布單位
- 國家質(zhì)檢總局
- 當(dāng)前最新
- GB/T 26074-2010
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用直流四探針法測(cè)量鍺單晶電阻率的方法。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)量試樣厚度和從試樣邊緣與任一探針端點(diǎn)的最近距離二者均大于探針間距的4倍鍺單晶的電阻率及測(cè)量直徑大于探針間距的10倍、厚度小于探針間距4倍鍺單晶圓片的電阻率。測(cè)量范圍為1×10-3Ω?cm～1×102Ω?cm。
GB/T 26074-2010 中提到的儀器設(shè)備
| 四探針法測(cè)量裝置 符合標(biāo)準(zhǔn)要求的直流恒流源和電壓表 | 包括四個(gè)探針、恒流源、電壓表等組件，用于精確施加電流并測(cè)量電壓。 |