JIS C 5402-2-3:2005
電子設(shè)備連接器.試驗(yàn)和測(cè)量.第2-3部分:電連續(xù)性和接觸電阻試驗(yàn).試驗(yàn)2c:接觸電阻偏差
Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 2-3: Electrical continuity and contact resistance tests -- Test 2c: Contact resistance variation
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- JIS C 5402-2-3:2005
- 發(fā)布
- 2005年
- 總頁數(shù)
- 12頁
- 發(fā)布單位
- 日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)
- 當(dāng)前最新
- JIS C 5402-2-3:2005
- 適用范圍
- 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測(cè)定電子設(shè)備連接器（以下簡稱連接器）在規(guī)定動(dòng)態(tài)條件下接觸電阻變化量的試驗(yàn)方法。
JIS C 5402-2-3:2005相似標(biāo)準(zhǔn)
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NF C93-400-2-3*NF EN 60512-2-3:2002 電子設(shè)備連接器 試驗(yàn)和測(cè)量 第2-3部分：帶電連續(xù)性和接觸電阻試驗(yàn) 試驗(yàn)2c：接觸電阻變化量