JIS C 5402-2-3:2005
電子設(shè)備連接器.試驗(yàn)和測(cè)量.第2-3部分:電連續(xù)性和接觸電阻試驗(yàn).試驗(yàn)2c:接觸電阻偏差

Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 2-3: Electrical continuity and contact resistance tests -- Test 2c: Contact resistance variation

JIS C 5402-2-3:2005 發(fā)布?xì)v史

JIS C 5402-2-3:2005由日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì) JP-JISC 發(fā)布于 2005-03-20。

JIS C 5402-2-3:2005 在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中歸屬于: L23 連接器，在國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中歸屬于: 31.220.10 插頭和插座裝置、連接器。

JIS C 5402-2-3:2005 電子設(shè)備連接器.試驗(yàn)和測(cè)量.第2-3部分:電連續(xù)性和接觸電阻試驗(yàn).試驗(yàn)2c:接觸電阻偏差的最新版本是哪一版？

最新版本是 JIS C 5402-2-3:2005 。

JIS C 5402-2-3:2005的歷代版本如下：

• 2019年 JIS C 5402-7-2:2019 電子設(shè)備連接器 試驗(yàn)和測(cè)量 第 7-2 部分：沖擊試驗(yàn)（自由連接器） 試驗(yàn) 7b：機(jī)械強(qiáng)度沖擊
• 1992年 JIS C 5402:1992 電子設(shè)備用連接器的試驗(yàn)方法

 

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測(cè)定電子設(shè)備連接器（以下簡(jiǎn)稱連接器）在規(guī)定動(dòng)態(tài)條件下接觸電阻變化量的試驗(yàn)方法。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

JIS C 5402-2-3:2005

發(fā)布

2005年

發(fā)布單位

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)

當(dāng)前最新

JIS C 5402-2-3:2005

 

 

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