該文使用發(fā)射掃描電子顯微鏡和X射線能譜儀對鈦酸鋇進行表征。針對鈦酸鋇的材料特性和工作目標,采用了多種測試工作條件,通過其結(jié)果對比,找到了對鈦酸鋇進行形貌觀察的最佳條件,并分析了其成分...
Si(Li)探測器類的 X 射線能譜儀已廣泛地應用于電子探針和掃描電鏡的分析領(lǐng)域,據(jù)不完全統(tǒng)計, 我國大約有500多臺 X 射線能譜儀與電子探針或掃描電鏡(包括透視電子顯微鏡)聯(lián)用,已成為最為主要的微區(qū)元素分析的工具,發(fā)揮了重要的作用。但也存在著分析結(jié)果上的明顯缺陷,嚴重地影響定量分析的質(zhì)量,并導致...
頁巖氣系統(tǒng)主要由富含黏土礦物的致密泥頁巖組成,自生自儲是其顯著特征。采用高分辨率掃描電鏡分析頁巖微觀孔隙結(jié)構(gòu)及礦物成分時,基于樣品制備的需要,在鏡下觀察時必須進行樣品表面的氬離子拋光。氬離子拋光給掃描電鏡帶來了更好的圖像效果,但由于破壞了礦物的自生形態(tài)而加大了鏡下礦物識別的難度。為了更加直觀地識別和...
激發(fā)源不一樣,能譜的激發(fā)源是電子束,X射線熒光自然是X射線,所以兩者的檢測深度不一樣,能譜一般只能檢測樣品表面,而XRF可以穿透樣品。測試環(huán)境不一樣,能譜是配在電鏡上的,所以只能在真空環(huán)境下測試,而XRF則真空和大氣條件都可以。測量元素范圍不同,能譜可以測試Be~U,XRF能測到Na就不錯了...
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