GB/T 17359-1998由國(guó)家質(zhì)檢總局 CN-GB 發(fā)布于 1998-05-08,并于 1998-12-01 實(shí)施,于 2013-02-01 廢止。
GB/T 17359-1998 在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中歸屬于: N33 電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器,在國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中歸屬于: 37.020 光學(xué)設(shè)備。
GB/T 17359-1998 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則的最新版本是哪一版?
最新版本是 GB/T 17359-2023 。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了與電子探針和掃描電鏡聯(lián)用的X射線能譜儀的定量分析方法的技術(shù)要求和規(guī)范。本標(biāo)準(zhǔn)適用于電子探針和掃描電鏡X射線能譜儀對(duì)塊狀試樣的定量分析。
該文使用發(fā)射掃描電子顯微鏡和X射線能譜儀對(duì)鈦酸鋇進(jìn)行表征。針對(duì)鈦酸鋇的材料特性和工作目標(biāo),采用了多種測(cè)試工作條件,通過(guò)其結(jié)果對(duì)比,找到了對(duì)鈦酸鋇進(jìn)行形貌觀察的最佳條件,并分析了其成分...
Si(Li)探測(cè)器類(lèi)的 X 射線能譜儀已廣泛地應(yīng)用于電子探針和掃描電鏡的分析領(lǐng)域,據(jù)不完全統(tǒng)計(jì), 我國(guó)大約有500多臺(tái) X 射線能譜儀與電子探針或掃描電鏡(包括透視電子顯微鏡)聯(lián)用,已成為最為主要的微區(qū)元素分析的工具,發(fā)揮了重要的作用。但也存在著分析結(jié)果上的明顯缺陷,嚴(yán)重地影響定量分析的質(zhì)量,并導(dǎo)致...
頁(yè)巖氣系統(tǒng)主要由富含黏土礦物的致密泥頁(yè)巖組成,自生自儲(chǔ)是其顯著特征。采用高分辨率掃描電鏡分析頁(yè)巖微觀孔隙結(jié)構(gòu)及礦物成分時(shí),基于樣品制備的需要,在鏡下觀察時(shí)必須進(jìn)行樣品表面的氬離子拋光。氬離子拋光給掃描電鏡帶來(lái)了更好的圖像效果,但由于破壞了礦物的自生形態(tài)而加大了鏡下礦物識(shí)別的難度。為了更加直觀地識(shí)別和...
激發(fā)源不一樣,能譜的激發(fā)源是電子束,X射線熒光自然是X射線,所以兩者的檢測(cè)深度不一樣,能譜一般只能檢測(cè)樣品表面,而XRF可以穿透樣品。測(cè)試環(huán)境不一樣,能譜是配在電鏡上的,所以只能在真空環(huán)境下測(cè)試,而XRF則真空和大氣條件都可以。測(cè)量元素范圍不同,能譜可以測(cè)試Be~U,XRF能測(cè)到Na就不錯(cuò)了...
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