JIS Z 4916:1997
X射線設(shè)備的分辨率特性測(cè)試圖

Test charts for resolution characteristics of X-ray equipment

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

JIS Z 4916:1997

發(fā)布

1997年

發(fā)布單位

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)

當(dāng)前最新

JIS Z 4916:1997

 

 

被代替標(biāo)準(zhǔn)

JIS Z 4916:1974

適用范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了由X射線吸收體(以下簡(jiǎn)稱吸收體)制成的用于測(cè)量X射線設(shè)備和X射線成像設(shè)備分辨率的X射線分辨率測(cè)試卡(以下簡(jiǎn)稱測(cè)試卡)規(guī)定如下。

專題

JIS Z 4916:1997相似標(biāo)準(zhǔn)

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