JIS Z 4916:1997
X射線設(shè)備的分辨率特性測(cè)試圖

Test charts for resolution characteristics of X-ray equipment

JIS Z 4916:1997由日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì) JP-JISC 發(fā)布于 1997-07-20。

JIS Z 4916:1997 在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中歸屬于: C43 醫(yī)用射線設(shè)備，在國際標(biāo)準(zhǔn)分類中歸屬于: 11.040.50 射線照相設(shè)備。

JIS Z 4916:1997 X射線設(shè)備的分辨率特性測(cè)試圖的最新版本是哪一版？

最新版本是 JIS Z 4916:1997 。

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了由X射線吸收體(以下簡(jiǎn)稱吸收體)制成的用于測(cè)量X射線設(shè)備和X射線成像設(shè)備分辨率的X射線分辨率測(cè)試卡(以下簡(jiǎn)稱測(cè)試卡)規(guī)定如下。

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