SAE AS6171/9-2022
通過(guò)傅立葉變換紅外光譜（FTIR）測(cè)試方法檢測(cè)可疑/假冒 EEE 部件的技術(shù)

Techniques for Suspect/Counterfeit EEE Parts Detection by Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR) Test Methods

適用范圍: 本文件定義了 FTIR 光譜法在假冒電子元件檢測(cè)方面的功能和局限性，并提出了這些目的的可能應(yīng)用。此外，本文件概述了與 FTIR 光譜應(yīng)用相關(guān)的要求，包括：操作員培訓(xùn)、樣品制備、各種采樣技術(shù)、數(shù)據(jù)解釋、計(jì)算機(jī)化光譜匹配（包括通過(guò)/失敗標(biāo)準(zhǔn)）、設(shè)備維護(hù)和數(shù)據(jù)報(bào)告。討論主要針對(duì) 400 至 4000 波數(shù)的中紅外 (IR) 區(qū)域進(jìn)行的分析；然而，許多概念適用于近紅外和遠(yuǎn)紅外。如果合同中引用了 AS6171/9，則基礎(chǔ)文件 AS6171 一般要求也應(yīng)適用。

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