本文件定義了 FTIR 光譜法在假冒電子元件檢測方面的功能和局限性,并提出了這些目的的可能應(yīng)用。此外,本文件概述了與 FTIR 光譜應(yīng)用相關(guān)的要求,包括:操作員培訓(xùn)、樣品制備、各種采樣技術(shù)、數(shù)據(jù)解釋、計算機化光譜匹配(包括通過/失敗標(biāo)準(zhǔn))、設(shè)備維護和數(shù)據(jù)報告。討論主要針對 400 至 4000 波數(shù)的中紅外 (IR) 區(qū)域進行的分析;然而,許多概念適用于近紅...
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