BS ISO 20289:2018
表面化學分析 水的全反射X射線熒光分析
Surface chemical analysis. Total reflection X-ray fluorescence analysis of water
BS ISO 20289:2018 中，可能用到以下耗材
點擊查看大圖
- 標準號
- BS ISO 20289:2018
- 發(fā)布
- 2018年
- 總頁數(shù)
- 28頁
- 發(fā)布單位
- 英國標準學會
- 當前最新
- BS ISO 20289:2018
范圍 本文件為使用全反射 X 射線熒光 (TXRF) 儀器的技術(shù)人員提供了一種化學方法，根據(jù)良好實踐，以規(guī)定的準確度和精密度對水樣進行測量。目標用戶是在對大量樣品進行常規(guī)分析的實驗室中確定的，這些實驗室也符合 ISO/IEC 17025。本文件規(guī)定了測定水中溶解元素含量的方法（例如飲用水、地表水和地下水） ）?？紤]到特定的和額外發(fā)生的干擾，還可以測定廢水和洗...
其他標準
專題
BS ISO 20289:2018相似標準
推薦
用于制造 X 射線熒光分析全反射鏡的高質(zhì)量表面精磨工藝
01 導言 X 射線反射鏡是一種能反射和聚焦短波長 X 射線（束）的反射光學元件，廣泛應(yīng)用于各種分析儀器中。為了有效表征 X 射線的光學和物理性質(zhì)，各種反射鏡形態(tài)須達到平均粗糙度在亞納米級的高表面精度。便攜式 X 射線元素分析儀基于全反射 X 射線熒光 (TXRF) 分析技術(shù)構(gòu)建，應(yīng)用于需要...
X射線熒光光譜法在化學分析中的應(yīng)用
主要使用X射線束激發(fā)熒光輻射，第一次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現(xiàn)在，該方法作為非破壞性分析技術(shù)，并作為過程控制的工具，廣泛應(yīng)用于采掘和加工工業(yè)。原則上，最輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由于儀器的局限性和輕元素的低X射線產(chǎn)量，往往難以量化，所以針對能量分散式的X射線熒光光譜儀...
全反射X射線熒光TXRF在血清樣品Cu Zn Se定量分析中的應(yīng)用
X射線熒光光譜（XRF）技術(shù)是一項可用于確定各類材料成份構(gòu)成的分析技術(shù)，已經(jīng)成熟運用多年。其應(yīng)用方向主要包括金屬合金、礦物、石化產(chǎn)品等等。而全反射X射線熒光作為X射線熒光中的后起之秀，因為制樣簡單且具有可與原子吸收光譜 (AAS), 電感耦合等離子體質(zhì)譜 (ICP-MS) 比擬的低至PPb級別...
簡述X射線熒光光譜化學分析熔鑄玻璃片法的應(yīng)用背景
X射線熒光光譜化學分析熔鑄玻璃片法，是用熔鑄玻璃片法制樣，以消除礦物和粒度效應(yīng)，將樣品鑄成適合X射線熒光光譜儀測量形狀的玻璃片，測量玻璃片中待測元素的X射線熒光強度，根據(jù)校準曲線來得到待測元素含量...