BS ISO 20289:2018
表面化學(xué)分析 水的全反射X射線熒光分析
Surface chemical analysis. Total reflection X-ray fluorescence analysis of water
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- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- BS ISO 20289:2018
- 發(fā)布
- 2018年
- 發(fā)布單位
- 英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
- 當(dāng)前最新
- BS ISO 20289:2018
范圍 本文件為使用全反射 X 射線熒光 (TXRF) 儀器的技術(shù)人員提供了一種化學(xué)方法，根據(jù)良好實(shí)踐，以規(guī)定的準(zhǔn)確度和精密度對(duì)水樣進(jìn)行測(cè)量。目標(biāo)用戶是在對(duì)大量樣品進(jìn)行常規(guī)分析的實(shí)驗(yàn)室中確定的，這些實(shí)驗(yàn)室也符合 ISO/IEC 17025。本文件規(guī)定了測(cè)定水中溶解元素含量的方法（例如飲用水、地表水和地下水） ）?？紤]到特定的和額外發(fā)生的干擾，還可以測(cè)定廢水和洗...
專題
BS ISO 20289:2018相似標(biāo)準(zhǔn)
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用于制造 X 射線熒光分析全反射鏡的高質(zhì)量表面精磨工藝
01 導(dǎo)言 X 射線反射鏡是一種能反射和聚焦短波長(zhǎng) X 射線（束）的反射光學(xué)元件，廣泛應(yīng)用于各種分析儀器中。為了有效表征 X 射線的光學(xué)和物理性質(zhì)，各種反射鏡形態(tài)須達(dá)到平均粗糙度在亞納米級(jí)的高表面精度。便攜式 X 射線元素分析儀基于全反射 X 射線熒光 (TXRF) 分析技術(shù)構(gòu)建，應(yīng)用于需要...
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X射線熒光光譜（XRF）技術(shù)是一項(xiàng)可用于確定各類材料成份構(gòu)成的分析技術(shù)，已經(jīng)成熟運(yùn)用多年。其應(yīng)用方向主要包括金屬合金、礦物、石化產(chǎn)品等等。而全反射X射線熒光作為X射線熒光中的后起之秀，因?yàn)橹茦雍?jiǎn)單且具有可與原子吸收光譜 (AAS), 電感耦合等離子體質(zhì)譜 (ICP-MS) 比擬的低至PPb級(jí)別...
簡(jiǎn)述X射線熒光光譜化學(xué)分析熔鑄玻璃片法的應(yīng)用背景
X射線熒光光譜化學(xué)分析熔鑄玻璃片法，是用熔鑄玻璃片法制樣，以消除礦物和粒度效應(yīng)，將樣品鑄成適合X射線熒光光譜儀測(cè)量形狀的玻璃片，測(cè)量玻璃片中待測(cè)元素的X射線熒光強(qiáng)度，根據(jù)校準(zhǔn)曲線來得到待測(cè)元素含量...