術(shù)語 | 描述 |
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基本參數(shù)法 Fundamental Parameter Method | 通過數(shù)學(xué)模型計算X射線光譜分布和物質(zhì)相互作用的理論方法,用于消除基體效應(yīng)和提高分析精度。 |
全譜圖擬合 Full Spectrum Fitting | 利用數(shù)學(xué)模型對整個X射線光譜進(jìn)行擬合的過程,通過最小二乘法調(diào)整計算值與實(shí)測值的差異。 |
能量色散X射線熒光光譜儀 分辨率≤135 eV(以Mn:Kα為基準(zhǔn)),功率≥12 W | 用于檢測樣品中的特征X射線熒光,分析元素含量的設(shè)備。 |
粉末壓片機(jī) 最大壓力≥25 MPa | 用于將試樣制成適合X射線檢測的薄片狀樣本。 |
高速粉碎機(jī) 轉(zhuǎn)速范圍6 000 r/min~20 000 r/min | 用于將樣品破碎至均勻細(xì)小顆粒,確保分析時的粒度一致性。 |
電子天平 精度0.1 g | 用于精確稱量試樣的質(zhì)量,保證樣品制備的準(zhǔn)確性。 |
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