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J42 量具與量?jī)x 標(biāo)準(zhǔn)查詢與下載



共找到 1176 條與 量具與量?jī)x 相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn),共 79 頁(yè)

Two-point inside diameter micrometer

ICS
17.040.30
CCS
J42
發(fā)布
2024-04-25
實(shí)施
2024-11-01

Nanogeometric quantity standard sample test method

ICS
17.040.30
CCS
J42
發(fā)布
2024-04-25
實(shí)施
2024-11-01

Inner diameter indicator

ICS
17.040.30
CCS
J42
發(fā)布
2024-04-25
實(shí)施
2024-11-01

Design and metrological characteristics of electronic digital display indicators

ICS
17.040.30
CCS
J42
發(fā)布
2023-09-07
實(shí)施
2024-04-01

Design and metrological characteristics of height calipers

ICS
17.040.30
CCS
J42
發(fā)布
2023-09-07
實(shí)施
2024-04-01

Geometric Product Specification (GPS) Measurement Inspection of Workpieces and Measuring Equipment Part 2: Guidance for the Evaluation of Measurement Uncertainty in GPS Measurements, Measurement Equipment Calibration, and Product Verification

ICS
17.040.40
CCS
J42
發(fā)布
2023-03-17
實(shí)施
2023-10-01

Geometric Product Specification (GPS) Measurement Inspection of Workpieces and Measuring Equipment Part 3: Guidance on reaching a consensus on the expression of measurement uncertainty

ICS
17.040.40
CCS
J42
發(fā)布
2023-03-17
實(shí)施
2023-07-01

本文件規(guī)定了配備接觸/非接觸測(cè)量模式多種探測(cè)系統(tǒng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的檢測(cè)方法。 本文件適用于以下情況: ———由制造商提出對(duì)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)及其測(cè)頭的性能指標(biāo)進(jìn)行驗(yàn)收檢測(cè); ———由使用方提出對(duì)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)及其測(cè)頭的性能指標(biāo)進(jìn)行周期性的復(fù)檢檢測(cè); ———由使用方提出對(duì)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)及其測(cè)頭的性能指標(biāo)在兩次復(fù)檢檢測(cè)之間進(jìn)行期間核查。 本文件覆蓋了單探測(cè)軸以及在測(cè)量空間少量或大部分重疊的多探測(cè)軸坐標(biāo)測(cè)量機(jī),適用于配備不同類型測(cè)頭組成的多種探測(cè)系統(tǒng)(例如,視覺(jué)測(cè)頭與接觸測(cè)頭的組合,或兩個(gè)不同用途接觸測(cè)頭的組合)。 本文件描述的檢測(cè)方法與坐標(biāo)測(cè)量機(jī)及探測(cè)系統(tǒng)引入的多種誤差密切相關(guān),是對(duì)檢測(cè)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)長(zhǎng)度測(cè)量誤差和各探測(cè)系統(tǒng)探測(cè)誤差的補(bǔ)充。在執(zhí)行本文件之前,宜先檢測(cè)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的長(zhǎng)度測(cè)量誤差以及按標(biāo)準(zhǔn)(如ISO10360 5、ISO10360 7 或ISO10360 8)檢測(cè)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)各探測(cè)系統(tǒng)的探測(cè)誤差。

Geometrical product specifications (GPS)—Acceptance and reverification tests for coordinate measuring systems (CMS)—Part 9:CMMs with multiple probing systems

ICS
17.040.30
CCS
J42
發(fā)布
2022-12-30
實(shí)施
2023-04-01

本文件規(guī)定了驗(yàn)證用于測(cè)量尺寸的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)性能的驗(yàn)收檢測(cè)方法,以確定其是否達(dá)到由制造商所規(guī)定的性能。 本文件還規(guī)定了用戶定期驗(yàn)證坐標(biāo)測(cè)量機(jī)性能的復(fù)檢檢測(cè)方法。 本文件只適用于按離散點(diǎn)探測(cè)模式進(jìn)行操作的任一形式的配置影像探測(cè)系統(tǒng)的笛卡爾坐標(biāo)系坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。 本文件未明確適用于: ———非笛卡爾坐標(biāo)系的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。但各方在達(dá)成一致的情況下,可將本文件應(yīng)用于非笛卡爾坐標(biāo)系的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。 ———使用其他類型光學(xué)測(cè)頭的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。但各方在達(dá)成一致的情況下,可將本文件應(yīng)用于使用其他光學(xué)測(cè)頭的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。 ———使用接觸式探測(cè)系統(tǒng)的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(見(jiàn)ISO10360 2 的接觸式探測(cè)系統(tǒng))。

Geometrical product specifications (GPS)—Acceptance and reverification tests for coordinate measuring systems (CMS)—Part 7: CMMs equipped with imaging probing systems

ICS
17.040.30
CCS
J42
發(fā)布
2022-12-30
實(shí)施
2023-04-01

本文件界定了GPS提取的基本術(shù)語(yǔ),規(guī)定了GPS提取中使用的基本操作框架及采樣和重構(gòu)的概念,同時(shí)規(guī)定了幾種基本幾何體的主要采樣方案。

Geometrical product specifications (GPS)—Extraction

ICS
CCS
J42
發(fā)布
2022-12-30
實(shí)施
2023-04-01

本文件規(guī)定了關(guān)節(jié)臂式坐標(biāo)測(cè)量機(jī)性能的驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè)。 本文件適用于使用接觸式測(cè)頭和可選光學(xué)距離傳感器配件(也稱為線激光掃描儀或線激光測(cè)頭)的關(guān)節(jié)臂式坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。驗(yàn)收檢測(cè)是通過(guò)測(cè)量經(jīng)校準(zhǔn)的檢測(cè)長(zhǎng)度驗(yàn)證制造商規(guī)定的性能。復(fù)檢檢測(cè)是用戶能夠定期對(duì)關(guān)節(jié)臂式坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的性能進(jìn)行復(fù)檢。 附錄E中給出了掃描儀配件檢測(cè)的詳細(xì)信息。 本文件不規(guī)定檢測(cè)頻次和周期,也不規(guī)定由哪方承擔(dān)檢測(cè)成本。 本文件規(guī)定: ———由制造商或用戶規(guī)定關(guān)節(jié)臂式坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的性能要求; ———用于證明規(guī)定要求的驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè)的執(zhí)行方式; ———符合性判定規(guī)則; ———驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè)的應(yīng)用。

Geometrical product specifications (GPS)—Acceptance and reverification tests for coordinate measuring systems (CMS)—Part 12: Articulated arm coordinate measurement machines (CMM)

ICS
17.040.30
CCS
J42
發(fā)布
2022-12-30
實(shí)施
2023-04-01

本文件規(guī)定了驗(yàn)證由制造商所規(guī)定的激光跟蹤儀性能的驗(yàn)收檢測(cè)規(guī)范,方法是測(cè)量參考檢測(cè)長(zhǎng)度;還規(guī)定了用戶定期再驗(yàn)證激光跟蹤儀性能的復(fù)檢檢測(cè)規(guī)范。 本文件規(guī)定的驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè)適用于探測(cè)系統(tǒng)為反射靶標(biāo)或反射靶標(biāo)與探針/光學(xué)測(cè)距傳感器組合的激光跟蹤儀。 本文件規(guī)定的驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè)也可適用于: ———單獨(dú)或同時(shí)使用干涉儀(IFM)、絕對(duì)測(cè)距儀(ADM)測(cè)量的激光跟蹤儀; ———使用合作目標(biāo)的其他球坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng)的相關(guān)性能檢測(cè),如使用合作靶標(biāo)的激光雷達(dá)系統(tǒng)。 注:沒(méi)有跟蹤目標(biāo)的系統(tǒng),如不使用合作靶標(biāo)的激光雷達(dá)系統(tǒng),不檢測(cè)探測(cè)性能。 本文件未明確適用于不使用球坐標(biāo)系的測(cè)量系統(tǒng),但是相關(guān)方面可協(xié)商將本文件應(yīng)用于此類系統(tǒng)。 本文件規(guī)定了: ———性能要求可由激光跟蹤儀的制造商或用戶規(guī)定; ———用于證明規(guī)定要求的驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè)的執(zhí)行方式; ———符合性判定規(guī)則; ———驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè)的應(yīng)用。

Acceptance testing and re-inspection testing of product geometry specification (GPS) coordinate measuring system (CMS) Part 10: Laser tracker

ICS
CCS
J42
發(fā)布
2022-12-30
實(shí)施
2023-04-01

本文件規(guī)定了按照制造商給定的特性指標(biāo)驗(yàn)證坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的驗(yàn)收檢測(cè)方法,也規(guī)定了用戶定期驗(yàn)證坐標(biāo)測(cè)量機(jī)性能的復(fù)檢檢測(cè)方法。 本文件規(guī)定的驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè)的方法只適用于使用光學(xué)距離傳感器的笛卡爾坐標(biāo)系坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。 本文件未明確是否適用于非笛卡爾坐標(biāo)系的坐標(biāo)測(cè)量機(jī),經(jīng)當(dāng)事方同意,本文件也可用于非笛卡爾坐標(biāo)系的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。 注:本文件不是為測(cè)量空間顯著小于檢測(cè)球尺寸的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)而制定,但本文件所述檢測(cè)原理、標(biāo)準(zhǔn)器及程序可通過(guò)調(diào)整如標(biāo)準(zhǔn)器尺寸和測(cè)量次數(shù)等參數(shù)用于此類坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè)。 本文件規(guī)定: ———由坐標(biāo)測(cè)量機(jī)制造商或用戶規(guī)定的性能要求; ———按所述要求進(jìn)行驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè)的方法; ———合格判定規(guī)則; ———驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè)的應(yīng)用。

Geometrical product specifications (GPS)—Acceptance and reverification tests for coordinate measuring systems (CMS)—Part 8: CMMs with optical distance sensors

ICS
17.040.30
CCS
J42
發(fā)布
2022-12-30
實(shí)施
2023-04-01

本文件規(guī)定了按給定工件特性(或工件批量特性)的公差或測(cè)量設(shè)備計(jì)量特性的最大允許誤差,包括測(cè)得值接近規(guī)范限時(shí)要考慮的測(cè)量不確定度,驗(yàn)證工件或測(cè)量設(shè)備的特性合格或不合格的判定規(guī)則。 本文件適用于GPS通用標(biāo)準(zhǔn)(見(jiàn)ISO14638)中界定的規(guī)范,包括: ———工件規(guī)范及其批量規(guī)范(通常以上規(guī)范限、下規(guī)范限或上下規(guī)范限的形式給出); ———測(cè)量設(shè)備規(guī)范(通常以最大允許誤差的形式給出)。 本文件僅適用于以量值形式表示的特性和最大允許誤差。

Geometrical product specifications (GPS)—Inspection by measurement of workpieces and measuring equipment—Part 1:Decision rules for verifying conformity or nonconformity with specifications

ICS
CCS
J42
發(fā)布
2022-10-12
實(shí)施
2022-10-12

本文件規(guī)定了建立和標(biāo)注批量規(guī)范的規(guī)則。 批量規(guī)范用于規(guī)定批量特征的條件。 從一組批量工件的每個(gè)工件中均可獲取某個(gè)特征的值,由這一組獲取的特征值來(lái)建立批量特征。 批量規(guī)范(應(yīng)用于批量工件的集合整體而非其各獨(dú)立個(gè)體)能看作是單個(gè)規(guī)范(應(yīng)用于各獨(dú)立個(gè)體中的每個(gè)工件)的一個(gè)補(bǔ)充要求。 批量規(guī)范表達(dá)了批量工件的統(tǒng)計(jì)假設(shè)。 注1:批量規(guī)范是單個(gè)GPS規(guī)范的補(bǔ)充。 注2:本文件的目的是給出批量規(guī)范的表達(dá)方法,而不是給出其公差設(shè)計(jì)的方法。

Geometrical product specifications (GPS)—Population specification

ICS
CCS
J42
發(fā)布
2022-10-12
實(shí)施
2022-10-12

本文件規(guī)定了壁厚千分尺(不包括電子數(shù)顯壁厚千分尺)的型式與基本參數(shù)、要求、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、標(biāo)志與包裝等。 本文件適用于分度值為0.01mm、0.001mm、0.002mm,測(cè)量范圍上限至50mm 的壁厚千分尺(不包括電子數(shù)顯壁厚千分尺)。

Micrometer for measuring pipe wall thicknesses

ICS
17.040.30
CCS
J42
發(fā)布
2022-07-11
實(shí)施
2023-02-01

本文件規(guī)定了杠桿千分尺的型式和基本參數(shù)、要求、檢查條件、檢查方法、標(biāo)志與包裝等。 本文件適用于微分頭分度值為0.01mm,量程為25mm,指示表的分度值為0.001mm、0.002mm,或分辨力為0.0005 mm、0.001 mm,測(cè)量上限至100 mm 的杠桿千分尺。

Micrometer with dial comparator

ICS
17.040.30
CCS
J42
發(fā)布
2022-07-11
實(shí)施
2023-02-01

本文件規(guī)定了公法線千分尺(不包括電子數(shù)顯公法線千分尺)的型式與參數(shù)、要求、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、標(biāo)志與包裝等。 本文件適用于分度值為0.01mm、0.001mm、0.002mm,測(cè)量范圍小于或等于500mm 的公法線千分尺(不包括電子數(shù)顯公法線千分尺)。

Micrometer for measuring root tangent lengths of gear teeth

ICS
17.040.30
CCS
J42
發(fā)布
2022-07-11
實(shí)施
2023-02-01

本文件規(guī)定了刀口尺、三棱尺和四棱尺(統(tǒng)稱“刀口形直尺”)的型式與基本參數(shù)、要求、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法和標(biāo)志與包裝等。 本文件適用于測(cè)量面長(zhǎng)度L小于或等于500 mm 的刀口形直尺。

Knife straight edge

ICS
17.040.30
CCS
J42
發(fā)布
2022-07-11
實(shí)施
2023-02-01

本文件界定了長(zhǎng)度測(cè)量器具、角度測(cè)量器具、形位誤差測(cè)量器具、表面結(jié)構(gòu)質(zhì)量測(cè)量器具、齒輪測(cè)量器具、螺紋測(cè)量器具、其他測(cè)量器具、測(cè)量鏈和通用器件及附件等幾何量測(cè)量器具的產(chǎn)品術(shù)語(yǔ)及其定義。 本文件適用于幾何量測(cè)量器具行業(yè)領(lǐng)域。

Glossary of terms for dimensional measuring instruments—Product terms

ICS
17.040.30
CCS
J42
發(fā)布
2022-07-11
實(shí)施
2023-02-01



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