ZH
EN
KR
JP
ES
DEСканирующая электронная микроскопия
Сканирующая электронная микроскопия, Всего: 84 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Сканирующая электронная микроскопия, являются: Защита от преступности, Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Краски и лаки, Строительные материалы, Аналитическая химия, Словари, Образование, Испытание металлов, Медицинские науки и учреждения здравоохранения в целом, Термодинамика и измерения температуры, Электронные устройства отображения, Физика. Химия, Обработка поверхности и покрытие, Линейные и угловые измерения.
Professional Standard - Judicatory, Сканирующая электронная микроскопия
- SF/T 0139-2023 Исследование почвы сканирующим электронным микроскопом/рентгеновской энергетической спектрометрией
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Сканирующая электронная микроскопия
- GB/T 17359-1998 Общие характеристики количественного анализа рентгеновской ЭДС для EPMA и SEM
- GB/T 17362-1998 Неразрушающий метод рентгеновского ЭДС анализа с помощью СЭМ для золотых ювелирных изделий
- GB/T 17362-2008 Метод рентгеноэнергетического спектрального анализа золотых изделий на сканирующем электронном микроскопе
- GB/T 17361-1998 Метод идентификации аутигенного глинистого минерала в осадочных породах с помощью SEM и XEDS.
- GB/T 25189-2010 Микролучевой анализ. Метод определения параметров количественного анализа SEM-EDS.
- GB/T 17361-2013 Микролучевой анализ. Идентификация аутигенного глинистого минерала в осадочных породах методом сканирующего электронного микроскопа и энергодисперсионного спектрометра.
- GB/T 19267.6-2008 Физико-химическая экспертиза следов доказательств в судебной медицине. Часть 6: Сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергодисперсионная спектрометрия.
Professional Standard - Public Safety Standards, Сканирующая электронная микроскопия
- GA/T 1939-2021 Судмедэкспертиза Текущая точечная экспертиза Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1938-2021 Судмедэкспертиза Проверка металлов Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1937-2021 Судебная медицина Проверка резины Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1522-2018 Судмедэкспертиза Осмотр остатков стрельбы Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1521-2018 Судебная медицина Исследование элементного состава пластмасс Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1519-2018 Судмедэкспертиза Проверка элементного состава тонера Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1418-2017 Исследование элементного состава судебно-медицинской экспертизы стеклянных доказательств, сканирующая электронная микроскопия/энергетическая спектроскопия
- GA/T 909-2010 Метод сбора и упаковки следов огнестрельных улик (исследование SEM/EDS)
- GA/T 1520-2018 Судебно-медицинская экспертиза черного пороха, проверка элементного состава пиротехнического порошка, сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергетическая спектрометрия
- GA/T 823.3-2018 Методы исследования красочных доказательств в судебной медицине. Часть 3: Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Сканирующая электронная микроскопия
- JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
International Organization for Standardization (ISO), Сканирующая электронная микроскопия
- ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
- ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
- ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Сканирующая электронная микроскопия
- DB35/T 110-2000 Электронный зонд и сканирующий электронный микроскоп. Метод рентгеновского энергетического спектрального анализа для обнаружения красочных вещественных доказательств.
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Сканирующая электронная микроскопия
- JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)
Professional Standard - Machinery, Сканирующая электронная микроскопия
- JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
- JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Сканирующая электронная микроскопия
- JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
- JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа
Group Standards of the People's Republic of China, Сканирующая электронная микроскопия
- T/CSTM 00229-2020 Идентификация графеновых материалов в материалах покрытий методом сканирующего электронного микроскопа-энергодисперсионного спектрометра
- T/CSTM 00346-2021 Автоматическая классификация и статистика включений в стали — метод энергодисперсионного спектра сканирующего электронного микроскопа.
- T/GAIA 017-2022 Определение содержания фтора в поверхностном покрытии алюминия и алюминиевых сплавов методом растрового электронного микроскопа и энергодисперсионного спектрометра.
- T/QGCML 1940-2023 Устройство для высокотемпературных механических испытаний сканирующего электронного микроскопа in-situ
- T/SPSTS 032-2023 Общие технические условия на сканирующую электрохимическую микроскопию
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Сканирующая электронная микроскопия
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), Сканирующая электронная микроскопия
- GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.
GSO, Сканирующая электронная микроскопия
- BH GSO ISO 22493:2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- GSO ISO 22493:2015 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- GSO ISO 9220:2013 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
SCC, Сканирующая электронная микроскопия
- BS ISO 22493:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
- 06/30128226 DC ISO 22493. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
- AWWA ACE56156 Оценка характера загрязнения поверхности мембран с помощью планшетного сканера и сканирующего электронного микроскопа
- VDI 3866 BLATT 5-2017 Определение асбеста в технических изделиях — метод сканирующей электронной микроскопии.
- DANSK DS/ISO 9220:2022 Металлические покрытия – Измерение толщины покрытия – Метод сканирующего электронного микроскопа
- 13/30203227 DC BS ISO 13083. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Стандарты по определению и калибровке пространственного разрешения сканирующей микроскопии сопротивления растеканию и сканирующей емкостной микроскопии
KR-KS, Сканирующая электронная микроскопия
Professional Standard - Education, Сканирующая электронная микроскопия
- JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
- JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), Сканирующая электронная микроскопия
- GB/T 35099-2018 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия с энергодисперсионной рентгеновской спектрометрией. Морфология и элементный анализ одиночных мелких частиц в окружающем воздухе.
British Standards Institution (BSI), Сканирующая электронная микроскопия
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
- BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
American Society for Testing and Materials (ASTM), Сканирующая электронная микроскопия
- ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E1588-95(2001) Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
- ASTM E1588-08 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E1588-95 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
- ASTM E1588-10 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E986-04 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-04(2010) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-04(2017) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-04(2024) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E1588-20 Стандартная практика анализа остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-97 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Сканирующая электронная микроскопия
- DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
國(guó)家能源局, Сканирующая электронная микроскопия
- SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
Professional Standard - Petroleum, Сканирующая электронная микроскопия
- SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
- SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
- SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
Association Francaise de Normalisation, Сканирующая электронная микроскопия
- NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
Professional Standard - Commodity Inspection, Сканирующая электронная микроскопия
- SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.
VDI - Verein Deutscher Ingenieure, Сканирующая электронная микроскопия
- VDI 3866 BLATT 5-2015 Лучшая иммунизация асбеста в технических продуктах - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
- VDI 3866 Blatt 5-2003 Определение асбеста в технической продукции - Метод сканирующей электронной микроскопии
GOSTR, Сканирующая электронная микроскопия
- PNST 508-2020 Нанотехнологии. Одностенные углеродные нанотрубки. Характеристика методами сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии.