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Medición del tama?o geométrico del chip semiconductor

Medición del tama?o geométrico del chip semiconductor, Total: 12 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Medición del tama?o geométrico del chip semiconductor son: Materiales semiconductores, Vocabularios, Comunicaciones de fibra óptica., ingeniería de energía solar, pruebas de metales, Sistemas de automatización industrial.

German Institute for Standardization, Medición del tama?o geométrico del chip semiconductor

• DIN 50441-2:1998 Ensayos de materiales para la tecnología de semiconductores. Determinación de las dimensiones geométricas de obleas semiconductoras. Parte 2: Ensayos del perfil de los bordes.
• DIN 50441-1:1996 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores. Determinación de las dimensiones geométricas de obleas semiconductoras. Parte 1: Espesor y variación de espesor.
• DIN 50441-5:2001 Ensayos de materiales para la tecnología de semiconductores. Determinación de las dimensiones geométricas de obleas semiconductoras. Parte 5: Términos de forma y desviación de planitud.
• DIN 50441-4:1999 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores. Determinación de las dimensiones geométricas de obleas semiconductoras. Parte 4: Diámetro del corte, variación del diámetro, diámetro plano, longitud plana, profundidad plana.
• DIN 50441-3:1985 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; medición de las dimensiones geométricas de láminas de semiconductores; Determinación de la desviación de la planitud de rodajas pulidas mediante interferencia de haces múltiples.
• DIN V VDE V 0126-18-2-1:2007 Obleas solares - Parte 2-1: Medición de las dimensiones geométricas de las obleas de silicio - Espesor de la oblea

American National Standards Institute （ANSI), Medición del tama?o geométrico del chip semiconductor

• ANSI/TIA-455-219-2002 Medición de la geometría del extremo del casquillo multifibra FITP219
• ANSI/EIA 455-55A:1986 Geometría del revestimiento de fibras ópticas, métodos para medir la

HU-MSZT, Medición del tama?o geométrico del chip semiconductor

• MNOSZ 2795-1956 DETERMINACIóN DE LAS DIMENSIONES GEOMéTRICAS DE LA HELICITACIóN

RO-ASRO, Medición del tama?o geométrico del chip semiconductor

• STAS 738-1960 M?RIMI GEOMETRICE Unidad?i de m?sur?

工業(yè)和信息化部, Medición del tama?o geométrico del chip semiconductor

• SJ/T 11630-2016 Método de prueba para las dimensiones geométricas de obleas de silicio para células solares.

Group Standards of the People's Republic of China, Medición del tama?o geométrico del chip semiconductor

• T/QGCML 4122-2024 Máquina clasificadora de chips semiconductores

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