Energía de electrones y rayos X.

Energía de electrones y rayos X., Total: 245 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Energía de electrones y rayos X. son: Pruebas no destructivas, Química analítica, Equipo óptico, Mediciones de radiación, Protección de radiación, óptica y medidas ópticas., Fotografía, Medidas lineales y angulares., Componentes electrónicos en general., Materiales para la construcción aeroespacial., Protección contra el crimen, ingeniería de energía nuclear, Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Materiales semiconductores, Equipo medico, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., tubos electronicos, Física. Química, Procesos en la industria alimentaria., Metrología y medición en general., Astronomía. Geodesia. Geografía, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Vocabularios.

RU-GOST R, Energía de electrones y rayos X.

GOST 22091.2-1984 Dispositivos de rayos X. Los métodos de medición de la corriente y el voltaje de inyección de betatrones de rayos X.
GOST 22091.4-1986 Dispositivos de rayos X. Los métodos de medición del voltaje del tubo de rayos X.
GOST 22091.5-1986 Dispositivos de rayos X. Los métodos para medir la corriente del tubo de rayos X.
GOST 22091.14-1986 Dispositivos de rayos X. El método para medir la densidad del flujo de energía (densidad de flujo de fotones) de la radiación X.
GOST 22091.7-1984 Dispositivos de rayos X. Los métodos para medir la uniformidad de la distribución de la densidad de energía de los rayos X sobre la cobertura de rayos X.
GOST 22091.6-1984 Dispositivos de rayos X. Métodos para medir la potencia de la dosis de exposición a la radiación X y la dosis de exposición a la radiación X por pulso
GOST 22091.3-1984 Dispositivos de rayos X. Métodos para medir el campo de radiación y el ángulo del haz de radiación X.
GOST 22091.1-1984 Dispositivos de rayos X. Los métodos de medición de la corriente y el voltaje del calentador.
GOST 29025-1991 Pruebas no destructivas. Detectores de defectos de televisión por rayos X con transductores ópticos electrónicos de rayos X. Detectores de defectos radiográficos eléctricos. Requisitos técnicos generales
GOST R ISO/ASTM 51431-2012 Práctica de dosimetría en instalaciones de irradiación con haces de electrones y rayos X (bremsstrahlung) para el procesamiento de alimentos
GOST 22091.10-1984 Dispositivos de rayos X. El método para medir el equivalente AL(CU) de la envoltura del dispositivo de rayos X.
GOST 17226-1971 Medidores para medir la tasa de exposición de radiaciones gamma y X con energía fotónica de 8 a 480 fj. Requisitos técnicos y métodos de prueba.
GOST 25645.118-1984 Rayos X cósmicos de fuentes discretas. Espectros de energía y coordenadas angulares.
GOST 25645.131-1986 Gamma difusa galáctica y rayos X. Características de las distribuciones angulares y de energía.
GOST 25645.117-1984 Radiación gamma y X difusa extragaláctica. Características de las distribuciones angulares y de energía.

German Institute for Standardization, Energía de electrones y rayos X.

DIN ISO 16129:2020-11 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
DIN ISO 16129:2020 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
DIN ISO 15472:2020-05 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles
DIN 51418-2:2015-03 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
DIN 51418-2:2015 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
DIN 51418-2:1996 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
DIN ISO 15472:2020 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles

British Standards Institution (BSI), Energía de electrones y rayos X.

BS ISO 16129:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS ISO 21270:2004(2010) Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
BS ISO 15472:2010 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
BS ISO 14701:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.
BS ISO 14701:2011 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.
BS ISO 10810:2019 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
BS ISO 18516:2006(2010) Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral.
BS ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
BS ISO 19830:2015 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
BS ISO 16243:2011 Análisis químico de superficies. Registro y presentación de informes de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
BS EN 60601-2-54:2010 Equipos eléctricos médicos. Requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos de rayos X para radiografía y radioscopía.
BS EN 60601-2-54:2009 Equipos electromédicos: requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos de rayos X para radiografía y radioscopía.
BS ISO 18554:2016 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Procedimientos para identificar, estimar y corregir la degradación no deseada por rayos X en un material sometido a análisis mediante espectroscopía de fotoelectrones de rayos X.
BS EN 100012:1996 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos - Especificaciones básicas - Inspección por rayos X de componentes electrónicos
BS ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Energía de electrones y rayos X.

GB/T 17359-1998 Especificación general del análisis cuantitativo EDS de rayos X para EPMA y SEM
GB/T 25184-2010 Método de verificación para espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.
GB 7667-1996 La dosis de fuga de rayos X del microscopio electrónico.
GB 7667-2003 La dosis de fuga de rayos X del microscopio electrónico.
GB/T 19500-2004 Reglas generales para el método de análisis espectroscópico de fotoelectrones de rayos X.
GB/T 22571-2008 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.
GB/T 18873-2008 Guía general de microanálisis cuantitativo con microscopio electrónico de transmisión (TEM) y espectrometría de dispersión de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas
GB/T 18873-2002 Especificación general del microscopio electrónico de transmisión (TEM): microanálisis cuantitativo del espectro dispersivo de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas
GB/T 21006-2007 Análisis químico de superficies. Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
GB/T 28632-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral.
GB/T 11685-2003 Procedimientos de medición para sistemas detectores de rayos X de semiconductores y espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.
GB/T 30704-2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
GB/T 43598-2023 Determinación del contenido de oxígeno y la relación carbono-oxígeno del polvo de grafeno nanotecnológico mediante espectroscopía de fotoelectrones de rayos X.
GB/T 25188-2010 Mediciones de espesor para capas ultrafinas de óxido de silicio en obleas de silicio Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
GB/T 12079-2012 Mediciones de las propiedades fotoeléctricas de tubos de rayos X.
GB/T 12079-1989 Mediciones de las propiedades fotoeléctricas de tubos de rayos X.
GB/Z 32490-2016 Procedimiento para la determinación de fondo mediante espectroscopia fotoelectrónica de rayos X para análisis químico de superficies.
GB/T 15447-2008 Método de conversión de dosis absorbidas en diferentes materiales irradiados por rayos X、γ y haces electorales.
GB/T 15447-1995 Método de conversión de dosis absorbidas en diferentes materiales irradiados por rayos X,γ y haces de electrones.
GB/T 25185-2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Informes de métodos utilizados para el control y corrección de carga.
GB/T 28892-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.
GB/T 32869-2016 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
GB/T 17507-2008 Especificación general de estándares biológicos delgados para microanálisis EDS de rayos X en microscopio electrónico de transmisión
GB/T 28633-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Escala de repetibilidad y constancia de intensidad.
GB/T 28892-2024 Análisis químico de superficies Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X Expresión de parámetros de rendimiento del instrumento seleccionado
GB/T 31470-2015 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la se?al detectada en espectrómetros de electrones Auger y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.

International Organization for Standardization (ISO), Energía de electrones y rayos X.

ISO 16129:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X.
ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
ISO 14701:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.
ISO 14701:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Medición del espesor del óxido de silicio
ISO 10810:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
ISO 19830:2015 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
ISO/CD TR 18392:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Procedimientos para determinar fondos.
ISO 18554:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Procedimientos para identificar, estimar y corregir la degradación no deseada por rayos X en un material sometido a análisis mediante espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
ISO 16243:2011 Análisis químico de superficies: registro y generación de informes de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 15472:2001 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
ISO 15472:2010 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
ISO 18118:2024 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo.
ISO 13424:2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Informes de resultados de análisis de películas delgadas.

GSO, Energía de electrones y rayos X.

BH GSO ISO 16129:2015 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
OS GSO ISO 16129:2014 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
BH GSO ISO 15472:2016 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
GSO ISO 14701:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Medición del espesor del óxido de silicio
GSO ISO 21270:2014 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
BH GSO ISO 21270:2016 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
OS GSO ISO 21270:2014 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
OS GSO ISO 18554:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Procedimientos para identificar, estimar y corregir la degradación no intencionada por rayos X en un material sometido a análisis mediante espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
GSO ISO 18554:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Procedimientos para identificar, estimar y corregir la degradación no intencionada por rayos X en un material sometido a análisis mediante espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
OS GSO ISO 18516:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
BH GSO ISO 18516:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
GSO ISO 18516:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
BH GSO ISO 10810:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
GSO ISO 10810:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
OS GSO ISO 10810:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
GSO ISO 4037-4:2015 Radiaciones de referencia X y gamma para calibrar dosímetros y dosímetros y para determinar su respuesta en función de la energía del fotón. Parte 4: Calibración de dosímetros de área y personales en campos de radiación de referencia X de baja energía.
BH GSO ISO/ASTM 51431:2016 Práctica de dosimetría en instalaciones de irradiación con haces de electrones y rayos X (bremsstrahlung) para el procesamiento de alimentos
GSO ISO 19830:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
BH GSO ISO 19830:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
GSO ISO/TS 10798:2013 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
GSO ISO 15470:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
GSO IEC 61526:2015 Instrumentación de protección radiológica - Medición de dosis equivalentes personales Hp(10) y Hp(0,07) para radiaciones X, gamma, neutrones y beta - Medidores de dosis equivalentes personales de lectura directa
OS GSO ISO 16243:2015 Análisis químico de superficies: registro y presentación de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
GSO ISO 16243:2015 Análisis químico de superficies: registro y presentación de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
GSO ISO/TR 18392:2013 Análisis químico de superficies -- Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X -- Procedimientos para la determinación de fondos
BH GSO ISO 16243:2017 Análisis químico de superficies: registro y presentación de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
BH GSO ISO 19318:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Informes de métodos utilizados para el control y la corrección de carga
BH GSO ISO 13424:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Informes de resultados de análisis de películas finas
OS GSO ISO 19318:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Informes de métodos utilizados para el control y la corrección de carga
OS GSO ISO 13424:2015 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Informes de resultados de análisis de películas finas
GSO ISO 13424:2015 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Informes de resultados de análisis de películas finas
GSO ISO 15632:2015 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica.
GSO ISO 24237:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Escala de repetibilidad y constancia de intensidad
GSO ISO 15472:2013 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
GSO ISO 4037-1:2008 Radiación de referencia X y gamma para calibrar dosímetros y medidores de dosis y para determinar su respuesta en función de la energía de los fotones. Parte 1: características de la radiación y métodos de producción.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Energía de electrones y rayos X.

ASTM E2108-16 Práctica estándar para la calibración de la escala de energía de unión de electrones de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
ASTM E996-19 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E996-10(2018) Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E2108-10 Práctica estándar para la calibración de la escala de energía de unión de electrones de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
ASTM E1588-10e1 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E995-16 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
ASTM E996-04 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E996-10 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E995-11 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
ASTM E996-94(1999) Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E1523-15 Guía estándar para técnicas de control de carga y referencia de carga en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E1523-97 Guía estándar para técnicas de control de carga y referencia de carga en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E1588-16 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM ISO/ASTM 51431-05 Práctica estándar para la dosimetría en instalaciones de irradiación con haces de electrones y rayos X (Bremsstrahlung) para el procesamiento de alimentos
ASTM E2735-14(2020) Guía estándar para la selección de calibraciones necesarias para experimentos de espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
ASTM E1588-17 Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM E1588-16a Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM E902-94(1999) Práctica estándar para verificar las características operativas de los espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
ASTM E2108-00 Práctica estándar para la calibración de la escala de energía de unión de electrones de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
ASTM E1588-07e1 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía

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DIN ISO 16129 E:2020-01 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
DIN ISO 15472 E:2019-09 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía

SE-SIS, Energía de electrones y rayos X.

SIS SS IEC 573:1986 Equipos de rayos X - Medición del factor de conversión de intensificadores de imágenes de rayos X electroópticos
SIS SS-ISO 8963:1990 Dosimetría de radiaciones de referencia X y γ para protección radiológica en el rango de energía de 8 keV a 1,3 MeV
SIS SS IEC 520:1989 Equipos de rayos X. Tama?os de campo de entrada de los intensificadores de imágenes de rayos X electroópticos.
SIS SS-ISO 4037/ADD 2:1990 Radiaciones de referencia X y v para calibrar dosímetros y medidores de dosis y para determinar su respuesta en función de la energía del fotón. Anexo 2: Radiaciones de referencia de fotones a energías entre 4 MeV y 9 MeV.
SIS SS IEC 463:1983 Instrumentación nuclear: medidores y monitores portátiles de índice de exposición a radiación X o gamma de baja energía para uso en protección radiológica

Association Francaise de Normalisation, Energía de electrones y rayos X.

NF M60-513:1990 RADIACIONES DE REFERENCIA X Y GAMMA PARA CALIBRAR DOSíMETROS Y DOSíMETROS Y PARA DETERMINAR SU RESPUESTA EN FUNCIóN DE LA ENERGíA DEL FOTON. RADIACIONES DE REFERENCIA DE FOTONES A ENERGíAS ENTRE 4 MEV Y 9 MEV.
NF M60-512:1984 RADIACIONES DE REFERENCIA X Y GAMMA PARA CALIBRAR DOSíMETROS Y DOSíMETROS Y PARA DETERMINAR SU RESPUESTA EN FUNCIóN DE LA ENERGíA DEL FOTON.
NF M60-522:1998 Radiación X y gamma. Dosímetros de bolsillo tipo condensador de lectura indirecta o directa.
NF M60-512-1:1998 Radiaciones de referencia X y gamma para calibrar dosímetros y dosímetros y para determinar su respuesta en función de la energía de los fotones. Parte 1: características de la radiación y métodos de producción.
NF X21-071:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X - Directrices para el análisis.
NF ISO 16243:2012 Análisis químico de superficies: registro e informes de datos de espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
NF X21-073*NF ISO 16243:2012 Análisis químico de superficies: registro y generación de informes de datos en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS).
NF M60-512-2:2000 Radiaciones de referencia X y gamma para calibrar dosímetros y dosímetros y para determinar su respuesta en función de la energía del fotón. Parte 2: dosimetría para la protección radiológica en los rangos de energía de 8 keV a 1,3 MeV y de 4 MeV a 9 MeV.
NF C74-111:1985 Equipo electromédico. Equipos de radiología. X equipo de radiación. Conjuntos de tubos de rayos X para radiodiagnóstico. Construcción y pruebas. Requisitos.
NF S92-502:2013 Laboratorio de biología médica - Mediciones antroporadiométricas - Pulmones - Medición de emisiones de rayos X y rayos gamma de energía inferior a 200 keV
NF A09-230-1:1999 Pruebas no destructivas. Medición y evaluación del voltaje del tubo de rayos X. Parte 1: método del divisor de voltaje.
NF X21-055:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía.
NF EN 61676/A1:2009 Dispositivos electromédicos: instrumentos de dosimetría para la medición no invasiva del voltaje del tubo de rayos X en radiología diagnóstica
NF A09-230-3:1999 Ensayos no destructivos - Medición y evaluación de la tensión del tubo de rayos X - Parte 3: método espectrométrico.

SCC, Energía de electrones y rayos X.

11/30230635 DC BS ISO 16129. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS ISO 15472:2001 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de básculas de energía.
ISO 15472:2001/DAmd 1 Análisis químico de superficies. Espectrómetros fotoelectrónicos de rayos X. Calibración energética. Enmienda 1.
DIN ISO 16129 E:2020 Borrador de documento - Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
BS 326:1928 Rendimiento eléctrico de transformadores para fines de rayos X.
10/30212265 DC BS ISO 14701. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.
JIS Z 4716:2018 Métodos de medición de fugas de rayos X de las salas de examen de rayos X.
AWWA 51768 Identificación de fallas en la membrana de ósmosis inversa de baja presión mediante espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
09/30191895 DC BS ISO 10810. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
BS ISO 4037-4:2019 Protección radiológica. Radiación de referencia X y gamma para calibrar dosímetros y dosímetros y para determinar su respuesta en función de la energía del fotón-Calibración de dosímetros de área y personales en radiaciones de referencia X de baja energía...
BS ISO 15470:2004 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
CEI 45-20:1997 Medidores de tasa de exposición, indicadores y monitores de tasa de exposición instalados para radiación de rayos X o rango de energía entre 80 keV y 3 MeV
DIN ISO 15472 E:2019 Borrador de documento - Análisis químico de superficies - Espectrómetros fotoelectrónicos de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles
10/30199175 DC BS ISO 16243. Análisis químico de superficies. Registro y presentación de informes de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
04/30109485 DC ISO 51431. Práctica de dosimetría en instalaciones de irradiación con haz de electrones y rayos X (bremsstrahlung) para el procesamiento de alimentos.
DIN 51418-2 E:2014 Borrador de documento - Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Energía de electrones y rayos X.

KS A 4509-1991(1996) MéTODOS DE EVALUACIóN DE DOSIS EQUIVALENTES MEDIANTE INSIGNIAS DE PELíCULA PARA RAYOS X, RAYOS GAMMA Y NEUTRONES TéRMICOS
KS D ISO 21270-2020 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 15472-2003(2018) Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Calibración de escala de energía
KS A IEC 60532-2016(2021) Instrumentación de protección radiológica－Medidores de dosis instalados, conjuntos de advertencia y monitores－Radiación X y gamma de energía entre 50 keV y 7 MeV
KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS A 4446-2006(2016) Dispositivos de medición de la tensión del tubo de rayos X.
KS A 4446-2021 Dispositivos de medición de la tensión del tubo de rayos X.
KS A 4446-2006(2021) Dispositivos de medición de la tensión del tubo de rayos X.
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KS D ISO 19318-2020 Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Informes de métodos utilizados para el control y corrección de carga
KS A 4919-2013 Requisitos generales para dosímetros personales de rayos X y rayos γ.
KS A ISO 4037-1-2003(2018) Determinación de la respuesta en función de la energía de los fotones y X, radiación gamma de referencia para la fijación de dosímetros y dosímetros - Parte 1: Propiedades de la radiación y métodos de aparición
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KS A 4919-1994 Requisitos generales para dosímetros personales de rayos X y rayos γ.
KS D ISO 18118-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de h

AT-ON, Energía de electrones y rayos X.

ONORM S 5233-1987 Dosímetros para uso en radioterapia con cámaras de ionización para rayos X, rayos Y y haces de electrones
ONORM S 5232-1983 Dosímetros de protección radiológica; Dosímetros de advertencia para rayos Y y X.
ONORM S 5240-10-1998 Aseguramiento de la calidad de la imagen en el diagnóstico por rayos X - Pruebas de aceptación en sistemas de rayos X radiográficos y fluoroscópicos

中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會, Energía de electrones y rayos X.

GB/T 22571-2017 Análisis químico de superficies: espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.

KR-KS, Energía de electrones y rayos X.

KS D ISO 15472-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Calibración de escala de energía

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Energía de electrones y rayos X.

JIS Z 4302:2002 Insignias de película de rayos gamma y rayos X duros
JIS Z 4302:1997 Insignias de película de rayos gamma y rayos X duros
JIS K 0145:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
JIS Z 4921:1994 Dispositivos de medición de la tensión del tubo de rayos X.
JIS Z 4328:1984 Medidores de radiación para rayos X y gamma
JIS Z 4503:1989 Métodos para evaluar la dosis equivalente mediante placas de película para rayos gamma y rayos X duros.
JIS Z 4301:1997 Insignias de película de rayos X
JIS Z 4301:2002 Insignias de película de rayos X

Professional Standard - Electron, Energía de electrones y rayos X.

SJ/T 10458-1993 Guía estándar para el manejo de muestras en espectroscopia de electrones de barrena y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
SJ/T 10714-1996 Práctica estándar para comprobar las características de funcionamiento de los espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.
SJ/T 11096-1996 Métodos de medición para equipos médicos de televisión de rayos X.

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Energía de electrones y rayos X.

ECA TEP 170-1972 Detección y mediciones de radiación X para tubos de microondas, práctica recomendada en

Standard Association of Australia （SAA）, Energía de electrones y rayos X.

AS ISO 15472:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía

IAEA - International Atomic Energy Agency, Energía de electrones y rayos X.

SSG-8-2010 Seguridad radiológica de las instalaciones de irradiación de electrones gamma@ y rayos X

Professional Standard - Judicatory, Energía de electrones y rayos X.

SF/T 0139-2023 Inspección de suelos mediante microscopio electrónico de barrido/espectrometría de energía de rayos X

Professional Standard - Nuclear Industry, Energía de electrones y rayos X.

EJ/T 805-1993 Fuentes de fotones de baja energía para análisis de fluorescencia de rayos X
EJ/T 684-2016 Analizador de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía portátil

ANS - American Nuclear Society, Energía de electrones y rayos X.

6.1.1-1991 Factores de relación entre la fluencia y la dosis de neutrones y rayos gamma

Group Standards of the People's Republic of China, Energía de electrones y rayos X.

T/CSTM 01199-2024 Película metálica multicapa-Método de medición y análisis de la estructura de capas-Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Energía de electrones y rayos X.

GJB 5814-2006 Método de prueba del efecto de mejora de la dosis de rayos X para dispositivos electrónicos militares

American National Standards Institute （ANSI), Energía de electrones y rayos X.

ANSI N43.3-2008 Seguridad radiológica general: instalaciones que utilizan rayos X no médicos y fuentes selladas de rayos gamma, energías de hasta 10 MeV
ANSI N43.3-1993 Norma nacional estadounidense para la seguridad radiológica general: instalaciones que utilizan fuentes de rayos X no médicas y fuentes selladas de rayos gamma, energías de hasta 10 MeV

Professional Standard - Hygiene , Energía de electrones y rayos X.

WS/T 117-1999 Especificación de la estimación de la dosis del cristalino a partir de rayos X, γ, β y haces de electrones.

Professional Standard - Medicine, Energía de electrones y rayos X.

YY/T 0829-2011 Características y métodos de prueba para el sistema de imágenes de tomografía computarizada por emisión de positrones y rayos X.
YY/T 1408-2016 Características de rendimiento y métodos de prueba del sistema de imágenes de emisión de fotón único y tomógrafo computarizado de rayos X.

US-FCR, Energía de electrones y rayos X.

FCR FED HANDBOOK 57-1954 DOSIMETRíA FOTOGRáFICA DE RAYOS X Y GAMMA

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Energía de electrones y rayos X.

DB35/T 110-2000 Sonda electrónica y microscopio electrónico de barrido Método de análisis del espectro de energía de rayos X para la detección de evidencia física de pintura

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標準化管理委員會, Energía de electrones y rayos X.

GB/T 41073-2021 Análisis químico de superficies—Espectroscopias electrónicas—Requisitos mínimos de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
GB/T 41105.3-2021 Ensayos no destructivos. Medición y evaluación del voltaje del tubo de rayos X. Parte 3: Método espectrométrico.

Professional Standard - Public Safety Standards, Energía de electrones y rayos X.

GA/T 1522-2018 Ciencia forense Disparo Inspección de residuos Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1939-2021 Ciencias forenses Examen de puntos actuales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1938-2021 Ciencia forense Inspección de metales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1937-2021 Ciencia forense Inspección de caucho Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X

GOSTR, Energía de electrones y rayos X.

PNST 507-2020 Nanotecnologías. Nanotubos de carbono de pared simple. Caracterización mediante microscopía electrónica de transmisión y espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
PNST 508-2020 Nanotecnologías. Nanotubos de carbono de pared simple. Caracterización mediante microscopía electrónica de barrido y espectrometría de rayos X de energía dispersiva.

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, Energía de electrones y rayos X.

VDI/VDE 5575 BLATT 4-2018 Sistemas ópticos de rayos X - Espejos de rayos X y sistemas de espejos de rayos X - espejos de reflexión total y multicapa
VDI/VDE 5575 BLATT 4-2017 Sistemas ópticos de rayos X - Espejos de rayos X y sistemas de espejos de rayos X - espejos de reflexión total y multicapa
VDI/VDE 5575 Blatt 2-2013 Roentgenoptische Systeme - Messverfahren - Messaufbau und Methoden zur Bewertung roentgenoptischer Systeme

Danish Standards Foundation, Energía de electrones y rayos X.

DS/EN 100012:1995 Especificación básica: inspección por rayos X de componentes electrónicos.

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Energía de electrones y rayos X.

DB44/T 1216-2013 Caracterización del grafeno mediante microscopía electrónica de barrido y espectroscopia de rayos X.

Professional Standard - Commodity Inspection, Energía de electrones y rayos X.

SN/T 2003.5-2006 Determinación de plomo, mercurio, cromo, cadmio y bromo en equipos eléctricos y electrónicos. Parte 5: Detección cuantitativa mediante método espectrométrico de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Energía de electrones y rayos X.

JJF 1346-1990 Especificaciones técnicas para el funcionamiento de referencia de exposición a rayos X de energía media (60-250 kV)

VN-TCVN, Energía de electrones y rayos X.

TCVN 7249-2008 Práctica estándar para la dosimetría en instalaciones de irradiación con haces de electrones y rayos X (bremsstrahlung) para el procesamiento de alimentos

Association of German Mechanical Engineers, Energía de electrones y rayos X.

DVS 3205-2010 Protección contra rayos X en máquinas de haces de electrones para procesamiento de materiales.
DVS 3205-1992 Schutz vor Rontgenstrahlen an Elektronenstrahlmaschinen zur Materialbearbeitung
DVS 3205-1993 Schutz vor Rontgenstrahlen an Elektronenstrahlmaschinen zur Materialbearbeitung

PT-IPQ, Energía de electrones y rayos X.

NP 3080-1985 COMPONENTES ELECTRóNICOS Inspección por raios X Especificación de base

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Energía de electrones y rayos X.

EN 100012:1995 Especificación básica: inspección por rayos X de componentes electrónicos

Lithuanian Standards Office , Energía de electrones y rayos X.

LST EN 100012-2001 Especificación básica: inspección por rayos X de componentes electrónicos.

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