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Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

Für die Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop gibt es insgesamt 83 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop die folgenden Kategorien: Optoelektronik, Laserger?te, analytische Chemie, Optische Ausrüstung, Farben und Lacke, Optik und optische Messungen, Baumaterial, Wortschatz, erziehen, L?ngen- und Winkelmessungen, Oberfl?chenbehandlung und Beschichtung, Nichteisenmetalle, Luftqualit?t, Elektronische Anzeigeger?te, Thermodynamik und Temperaturmessung, Kriminalpr?vention.

Group Standards of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• T/NLIA 004-2021 In-situ-REM-Zugversuchsmethode für additiv gefertigte Aluminiumlegierungen
• T/CSTM 00229-2020 Identifizierung von Graphenmaterialien in Beschichtungsmaterialien Rasterelektronenmikroskop-Energiedispersionsspektrometer-Methode
• T/SPSTS 032-2023 Allgemeine Spezifikationen für die elektrochemische Rastermikroskopie
• T/CSTM 00795-2022 Materialexperimentelle Daten – Anforderungen für Rasterelektronenmikroskopbilder
• T/COEMA 21O-2024 Polygonaler Scanspiegel für LIDAR
• T/QGCML 1940-2023 Rasterelektronenmikroskop-In-situ-Hochtemperatur-Mechanikprüfger?t

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• GB/T 25189-2010 Mikrostrahlanalyse. Bestimmungsmethode für quantitative Analyseparameter von SEM-EDS
• GB/T 20307-2006 Allgemeine Regeln für die L?ngenmessung im Nanometerbereich mittels REM
• GB/T 16594-1996 L?ngenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
• GB/T 31563-2015 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskop-Methode
• GB/T 17722-1999 Vergoldete Dickenmessung mittels REM
• GB/T 16594-2008 Allgemeine Regeln für die L?ngenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
• GB/T 19267.6-2008 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik. Teil 6: Rasterelektronenmikroskop/R?ntgenenergiedispersive Spektrometrie
• GB/T 17362-2008 Methode zur Analyse des R?ntgenenergiespektrums mit einem Rasterelektronenmikroskop für Goldprodukte
• GB/T 17362-1998 Zerst?rungsfreie Methode der R?ntgen-EDS-Analyse mit REM für Goldschmuck
• GB/T 27788-2011 Mikrostrahlanalyse.Rasterelektronenmikroskopie.Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung
• GB/T 17359-1998 Allgemeine Spezifikation der quantitativen R?ntgen-EDS-Analyse für EPMA und SEM

Professional Standard - Education, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• JY/T 010-1996 Allgemeine Prinzipien der analytischen Rasterelektronenmikroskopie
• JY/T 0584-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der Rasterelektronenmikroskopie
• JY/T 0582-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der Rastersondenmikroskopie

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• JIS K 0132:1997 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie

International Organization for Standardization (ISO), Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen
• ISO 22493:2008 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln

Professional Standard - Machinery, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• JB/T 6842-1993 Testmethode des Rasterelektronenmikroskops
• JB/T 5384-1991 Rasterelektronenmikroskop – Technische Spezifikation
• JB/T 7503-1994 Dicke des Querschnitts von Metallbeschichtungen Rasterelektronenmikroskop-Messmethode

Professional Standard - Commodity Inspection, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• SN/T 4388-2015 Lederidentifizierung. Rasterelektronenmikroskopie und optische Mikroskopie
• SN/T 3009-2011 Identifizierung von Meerwasserkorrosion auf metallischen Oberfl?chen mittels REM

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• JJF 1916-2021 Kalibrierungsspezifikation für Rasterelektronenmikroskope (REM)
• JJF 1351-2012 Kalibrierungsspezifikation für Rastersondenmikroskope

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• JJG(教委) 11-1992 Vorschriften zur Kalibrierung von Rasterelektronenmikroskopen
• JJG 550-1988 Verifizierungsregelung des Rasterelektronenmikroskops

SCC, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• 13/30203227 DC BS ISO 13083. Chemische Oberfl?chenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Normen zur Definition und Kalibrierung der r?umlichen Aufl?sung der Raster-Spreading-Resistance-Mikroskopie und der Raster-Kapazit?tsmikroskopie
• BS ISO 22493:2008 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Wortschatz
• AWWA ACE56156 Auswertung von Verschmutzungsmustern auf Membranoberfl?chen mittels Flachbettscanner und Rasterelektronenmikroskop
• 06/30128226 DC ISO 22493. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Wortschatz
• VDI 3866 BLATT 5-2017 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode
• VDI 3866 BLATT 5-2017 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode
• DANSK DS/ISO 9220:2022 Metallische Schichten – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• KS I 0051-2019 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
• KS M 0044-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
• KS I 0051-1999(2019) Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
• KS I 0051-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
• KS D ISO 22493-2012(2017) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
• KS D ISO 22493:2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
• KS D ISO 22493:2012 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
• KS D 2714-2016(2021) Rastersondenmikroskop – Methode für Querkraftmikroskop
• KS D 2714-2016 Rastersondenmikroskop – Methode für Querkraftmikroskop
• KS D 2714-2021 Rastersondenmikroskop – Methode für Querkraftmikroskop

GSO, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• BH GSO ISO 22493:2017 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
• GSO ISO 22493:2015 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
• GSO ISO 9220:2013 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• GJB 2666-1996 Spezifikation zum Scannen reflektierender Berylliumspiegel
• GJB 2666A-2018 Spezifikation zum Scannen reflektierender Berylliumspiegel
• GJB 737.11-1993 Prüfmethoden für pyrotechnische Chemikalien Partikelgr??enbestimmung Rasterelektronenmikroskopie

KR-KS, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• KS D ISO 22493-2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• GB/T 33834-2017 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Rasterelektronenmikroskopanalyse biologischer Proben

British Standards Institution (BSI), Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• 18/30319114 DC BS ISO 20171. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Markiertes Bilddateiformat für Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM)
• BS EN ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren

American Society for Testing and Materials (ASTM), Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• ASTM E766-98(2003) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops
• ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops
• ASTM E2382-04(2020) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
• ASTM E986-04 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgr??e von Rasterelektronenmikroskopen
• ASTM E986-04(2010) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgr??e von Rasterelektronenmikroskopen
• ASTM E2382-04 Leitfaden zu Scanner- und Spitzenartefakten in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
• ASTM E2382-04(2012) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
• ASTM E986-04(2017) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgr??e von Rasterelektronenmikroskopen
• ASTM E986-04(2024) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgr??e von Rasterelektronenmikroskopen
• ASTM E766-14 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops
• ASTM E986-97 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgr??e von Rasterelektronenmikroskopen

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• DB31/T 297-2003 Kalibrierungsmethode für die Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops

國(guó)家能源局, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• SY/T 5162-2021 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode von Gesteinsproben

Professional Standard - Petroleum, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• SY 5162-2014 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode für Gesteinsproben
• SY/T 5162-2014 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
• SY/T 5162-1997 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop

Association of German Mechanical Engineers, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• VDI 3866 Blatt 5-2004 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode

Professional Standard - Aviation, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• HB 20094.4-2012 Prüfverfahren zur Bestimmung von Verschlei?metallen in Betriebsflüssigkeiten für die Luftfahrt. Teil 4: Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersive Spektrometrie

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• DB32/T 4546-2023 Technische Spezifikationen für die automatisierte Inspektion von Diatomeenbildern mittels Rasterelektronenmikroskopen

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• DB44/T 1527-2015 Mikrostrahlanalyse-Rasterelektronenmikroskop-Bildklarheitsbewertungsmethode

Professional Standard - Judicatory, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• SF/T 0139-2023 Bodeninspektion Rasterelektronenmikroskop/R?ntgenenergiespektrometrie

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• VDI 3866 BLATT 5-2015 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
• VDI 3866 Blatt 5-2003 Determination of asbestos in technical products - Scanning electron microscopy method

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

• GB/T 27788-2020 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung

Sonstige:   Rasterelektronenmikroskop, Rasterelektronenmikroskop,, Rasterelektronenmikroskop,, SEM, Rasterelektronenmikroskopische Messung, Rasterelektronenmikroskop, SEM-Methode, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop, Umwelt-Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop, Rasterelektronenmikroskop und Umwelt-Rasterelektronenmikroskop, Rasterelektronenmikroskopie und Umwelt-Rasterelektronenmikroskopie, , Rasterelektronenmikroskop, Umwelt-Rasterelektronenmikroskopie und Rasterelektronenmikroskopie, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop, Umwelt-REM und SEM, Rasterelektronenmikroskop., .Rasterelektronenmikroskop, Feld-Rasterelektronenmikroskopie und Umgebungs-Rasterelektronenmikroskopie, Umwelt-REM und SEM.