能譜分析能
本專題涉及能譜分析能的標(biāo)準(zhǔn)有55條。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，能譜分析能涉及到分析化學(xué)。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，能譜分析能涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、光學(xué)儀器綜合、化學(xué)。
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于能譜分析能的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 41072-2021 表面化學(xué)分析 電子能譜 紫外光電子能譜分析指南
- GB/T 29732-2021 表面化學(xué)分析 中等分辨俄歇電子能譜儀 元素分析用能量標(biāo)校準(zhǔn)
- GB/T 41073-2021 表面化學(xué)分析 電子能譜 X射線光電子能譜峰擬合報(bào)告的基本要求
GSO，關(guān)于能譜分析能的標(biāo)準(zhǔn)
- GSO ISO 17973:2013 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能級(jí)的校準(zhǔn)
- BH GSO ISO 17973:2016 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能級(jí)的校準(zhǔn)
- OS GSO ISO 17973:2013 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能級(jí)的校準(zhǔn)
- GSO ISO 15471:2013 表面化學(xué)分析 電子能譜 有用性能參數(shù)選擇的描述
- GSO ISO 24639:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜法元素分析能級(jí)的校準(zhǔn)程序
- OS GSO ISO 17974:2014 表面化學(xué)分析 高分辨率俄歇電子能譜儀 元素和化學(xué)態(tài)分析能級(jí)的校準(zhǔn)
- BH GSO ISO 17974:2016 表面化學(xué)分析 高分辨率俄歇電子能譜儀 元素和化學(xué)態(tài)分析能級(jí)的校準(zhǔn)
- BH GSO ISO 15472:2016 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
- BH GSO ISO 19830:2017 表面化學(xué)分析 電子能譜 X射線光電子能譜峰擬合的最低報(bào)告要求
- GSO ISO 19830:2016 表面化學(xué)分析 電子能譜 X射線光電子能譜峰擬合的最低報(bào)告要求
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于能譜分析能的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO/DIS 17973:2023 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能級(jí)的校準(zhǔn)
- ISO/CD 17973 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
- ISO 23420:2021 微束分析.分析電子顯微鏡.電子能量損失譜分析用能量分辨率的測(cè)定方法
- ISO 19830:2015 表面化學(xué)分析. 電子能譜. X射線光電子能譜峰擬合的最低報(bào)告要求
- ISO 24639:2022 微束分析.分析電子顯微鏡.用電子能量損失光譜法進(jìn)行元素分析的能量標(biāo)度校準(zhǔn)程序
- ISO/TR 19319:2003 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對(duì)橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測(cè)
韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于能譜分析能的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D ISO 17973-2021 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能級(jí)的校準(zhǔn)
- KS D ISO 17973-2011(2016) 表面化學(xué)分析中分辨率俄歇電子能譜儀元素分析用能標(biāo)的校準(zhǔn)
- KS D ISO 17974-2021 表面化學(xué)分析 高分辨率俄歇電子能譜儀 元素和化學(xué)態(tài)分析能級(jí)的校準(zhǔn)
- KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化學(xué)分析－俄歇電子能譜和X射線光電子能譜－分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測(cè)定
- KS D ISO 17974-2011(2016) 表面化學(xué)分析高分辨率俄歇電子能譜儀元素和化學(xué)狀態(tài)分析用能標(biāo)的校準(zhǔn)
- KS D ISO 19319:2005 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對(duì)橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測(cè)
法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于能譜分析能的標(biāo)準(zhǔn)
- NF ISO 17973:2006 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
- NF ISO 24236:2006 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 能級(jí)的重復(fù)性和恒定性
英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于能譜分析能的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 17973:2016 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
- BS ISO 23420:2021 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜分析能量分辨率的測(cè)定方法
- 23/30469291 DC BS ISO 17973 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
- 20/30380369 DC BS ISO 23420 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜分析能量分辨率的測(cè)定方法
- BS ISO 24639:2022 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜元素分析能量標(biāo)度的校準(zhǔn)程序
- 21/30404763 DC BS ISO 24639 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜元素分析能量標(biāo)度的校準(zhǔn)程序
- BS ISO 17974:2002(2010) 表面化學(xué)分析 高分辨率俄歇電子能譜儀 元素和化學(xué)態(tài)分析能級(jí)的校準(zhǔn)
- BS ISO 19830:2015 表面化學(xué)分析. 電子能譜. X射線光電子能譜峰擬合的最低報(bào)告要求
SCC，關(guān)于能譜分析能的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 17973:2002 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
- BS ISO 15472:2001 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
- ISO 15472:2001/DAmd 1 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀 能量校準(zhǔn) 修改件1
- BS PD ISO/TR 19319:2003 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測(cè)定
澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)，關(guān)于能譜分析能的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 17973:2024 表面化學(xué)分析 中等分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
BSI，關(guān)于能譜分析能的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 17973:2024 表面化學(xué)分析 中等分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于能譜分析能的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E1508-98(2003) 用能量分散能譜學(xué)作定量分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1508-98 用能量分散能譜學(xué)作定量分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1508-12a(2019) 用能量分散能譜學(xué)作定量分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1508-12a 用能量分散能譜學(xué)作定量分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1508-98(2008) 用能量分散能譜學(xué)作定量分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1508-12 用能量分散能譜學(xué)作定量分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于能譜分析能的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN ISO 15472 E:2019-09 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀 能標(biāo)校準(zhǔn)
國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于能譜分析能的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 29731-2013 表面化學(xué)分析 高分辨俄歇電子能譜儀 元素和化學(xué)態(tài)分析用能量標(biāo)校準(zhǔn)
- GB/T 22571-2008 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀.能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)
- GB/T 20726-2015 微束分析 電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數(shù)及核查方法
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于能譜分析能的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 22571-2017 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)
KR-KS，關(guān)于能譜分析能的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化學(xué)分析-X射線光電子能譜儀-能量刻度的校準(zhǔn)
德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于能譜分析能的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN ISO 15472:2020-05 表面化學(xué)分析 - X 射線光電子能譜儀 - 能量標(biāo)度校準(zhǔn) (ISO 15472:2010)
- DIN ISO 15472:2020 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀 能標(biāo)校準(zhǔn)（ISO 15472:2010）；英文文本
