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透射電子顯微鏡 2周
本專題涉及透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)有143條。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，透射電子顯微鏡 2周涉及到光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、計(jì)量學(xué)和測(cè)量綜合、分析化學(xué)、光學(xué)設(shè)備、教育、空氣質(zhì)量、光電子學(xué)、激光設(shè)備、金屬材料試驗(yàn)、技術(shù)制圖、表面處理和鍍涂、復(fù)合增強(qiáng)材料、物理學(xué)、化學(xué)、犯罪行為防范、電子顯示器件、長(zhǎng)度和角度測(cè)量、危險(xiǎn)品防護(hù)、涂料和清漆、醫(yī)學(xué)科學(xué)和保健裝置綜合、紙和紙板。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，透射電子顯微鏡 2周涉及到電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、、計(jì)量綜合、電磁計(jì)量、教育、學(xué)位、學(xué)銜、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、教學(xué)專用儀器、金相檢驗(yàn)方法、放大鏡與顯微鏡、稀有金屬及其合金分析方法、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、金屬化學(xué)分析方法綜合、化學(xué)試劑綜合、物質(zhì)成份分析儀器與環(huán)境監(jiān)測(cè)儀器、醫(yī)用光學(xué)儀器設(shè)備與內(nèi)窺鏡、環(huán)境衛(wèi)生、光學(xué)儀器綜合、化學(xué)、犯罪鑒定技術(shù)、大氣環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法、工業(yè)防塵防毒技術(shù)、衛(wèi)生、安全、勞動(dòng)保護(hù)、化妝品、建材原料礦、造紙綜合、紙。
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- JB/T 9352-1999 透射電子顯微鏡 試驗(yàn)方法
- JB/T 5383-1991 透射電子顯微鏡技術(shù)條件
- JB/T 5584-1991 透射電子顯微鏡放大率測(cè)試方法
- JB/T 5585-1991 透射電子顯微鏡分辨力測(cè)試方法
- JB/T 5586-1991 透射電子顯微鏡分類和基本參數(shù)
中國(guó)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- T/CSTM 00162-2020 透射電子顯微鏡校準(zhǔn)方法
- T/CSTM 00166.3-2020 石墨烯材料表征 第3部分 透射電子顯微鏡法
國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- JJG(地質(zhì)) 1016-1990 透射電子顯微鏡檢定規(guī)程
- JJG(教委) 12-1992 透射電子顯微鏡檢定規(guī)程
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-教育，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- JY/T 011-1996 透射電子顯微鏡方法通則
- JY/T 0581-2020 透射電子顯微鏡分析方法通則
英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 25498:2018 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
- BS ISO 13794:2019 周圍空氣 石棉纖維的測(cè)定 間接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法
- BS ISO 10312:2019 周圍空氣 石棉纖維的測(cè)定 直接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法
- BS ISO 25498:2010 微光束分析.解析電子顯微測(cè)定法.透射式電子顯微鏡對(duì)選定區(qū)域進(jìn)行電子衍射分析
- PD ISO/TS 10797:2012 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
- 15/30292710 DC BS ISO 19214 透射電子顯微鏡測(cè)定線狀晶體生長(zhǎng)方向的指南
- BS ISO 10312:1995 周圍環(huán)境空氣.石棉纖維的測(cè)定.直接傳遞透射電子顯微法
- BS EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) 通過透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
- BS ISO 21363:2020 納米技術(shù) 通過透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
- BS ISO 29301:2010 微光束分析.分析透射電子顯微鏡法.利用具有周期性結(jié)構(gòu)的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行標(biāo)定圖像放大的方法
- PD ISO/TS 22292:2021 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡重建棒狀納米物體的 3D 圖像
- BS PD ISO/TS 22292:2021 納米技術(shù) 利用透射電子顯微鏡重建桿支撐納米物體的三維圖像
- 18/30351714 DC BS ISO 21363 納米技術(shù) 通過透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
- BS ISO 14966:2019 周圍空氣 無機(jī)纖維顆粒數(shù)值濃度的測(cè)定 掃描電子顯微鏡法
- BS ISO 29301:2017 微束分析 分析電子顯微鏡 利用具有周期性結(jié)構(gòu)的參考材料校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法
- BS ISO 29301:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 利用具有周期性結(jié)構(gòu)的參考材料校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO/CD 25498:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
- ISO/CD 19214:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測(cè)定線狀晶體表觀生長(zhǎng)方向的方法
- ISO 25498:2010 微光束分析.解析電子顯微測(cè)定法.透射式電子顯微鏡對(duì)選定區(qū)域進(jìn)行電子衍射分析
- ISO 25498:2018 微光束分析.解析電子顯微測(cè)定法.透射式電子顯微鏡對(duì)選定區(qū)域進(jìn)行電子衍射分析
- ISO 19214:2017 微束分析. 分析電子顯微術(shù). 采用透射電子顯微鏡術(shù)測(cè)定絲狀晶體顯著增長(zhǎng)方向的方法
- ISO 21363:2020 納米技術(shù) - 通過透射電子顯微鏡測(cè)定粒度分布的方案
- ISO 29301:2010 微光束分析.分析的透射電子顯微鏡法.具有周期性結(jié)構(gòu)的基準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)圖像放大的方法
- ISO 13794:2019 環(huán)境空氣 - 石棉纖維的測(cè)定 - 間接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法
- ISO 10312:2019 環(huán)境空氣.石棉纖維的測(cè)定.直接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法
- ISO/TS 10797:2012 納米技術(shù).利用透射電子顯微鏡法進(jìn)行單壁碳納米管特征探測(cè)
- ISO/TS 22292:2021 納米技術(shù).用透射電子顯微鏡重建棒支撐納米物體的三維圖像
- ISO 20263:2017 微束分析 - 分析透射電子顯微鏡 - 分層材料橫截面圖像中界面位置的測(cè)定方法
- ISO 29301:2017 微光束分析.分析電子顯微鏡法.具有周期性結(jié)構(gòu)的基準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)圖像放大的方法
- ISO/FDIS 29301:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 使用具有周期性結(jié)構(gòu)的參考材料校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法
- ISO 29301:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 使用具有周期性結(jié)構(gòu)的參考材料校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法
國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 18907-2002 透射電子顯微鏡選區(qū)電子衍射分析方法
- GB/T 18907-2013 微束分析 分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法
- GB/T 21637-2008 冠狀病毒透射電子顯微鏡形態(tài)學(xué)鑒定方法
- GB 7667-1996 電子顯微鏡X射線泄漏劑量
- GB 7667-2003 電子顯微鏡X射線泄漏劑量
- GB/T 18873-2002 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線 能譜定量分析通則
- GB/T 18873-2008 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線能譜定量分析通則
- GB/T 28044-2011 納米材料生物效應(yīng)的透射電子顯微鏡檢測(cè)方法通則
- GB/T 17507-2008 透射電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣的通用技術(shù)條件
- GB/Z 21738-2008 一維納米材料的基本結(jié)構(gòu).高分辨透射電子顯微鏡檢測(cè)方法
- GB/T 27765-2011 SiO<下標(biāo) 2>、TiO<下標(biāo) 2>、Fe<下標(biāo) 3>O<下標(biāo) 4>及Al<下標(biāo) 2>O<下標(biāo) 3>納米顆粒生物效應(yīng)的透射電子顯微鏡檢測(cè)方法
- GB/T 17507-1998 電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣通用技術(shù)條件
- GB/T 30543-2014 納米技術(shù) 單壁碳納米管的透射電子顯微術(shù)表征方法
- GB/T 19267.6-2008 刑事技術(shù)微量物證的理化檢驗(yàn) 第6部分:掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GB/T 17361-1998 沉積巖中自生粘土礦物掃描電子顯微鏡及X射線能譜鑒定方法
- GB/T 2679.11-2008 紙和紙板 無機(jī)填料和無機(jī)涂料的定性分析.電子顯微鏡/X射線能譜法
- GB/T 2679.11-1993 紙和紙板中無機(jī)填料和無機(jī)涂料的定性分析 電子顯微鏡/X射線能譜法
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 35098-2018 微束分析 透射電子顯微術(shù) 植物病毒形態(tài)學(xué)的透射電子顯微鏡鑒定方法
上海市標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- DB31/T 315-2004 透射電子顯微鏡放大倍率校準(zhǔn)方法
韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D 2716-2008(2018) 納米顆粒直徑的測(cè)量－透射電子顯微鏡
- KS D 2716-2008 納米粒子的直徑測(cè)量技術(shù).透射電子顯微鏡
- KS D 8544-2006 金屬涂層.涂層厚度測(cè)量.透射電子顯微鏡法
- KS D 8544-2016(2021) 金屬涂層——涂層厚度測(cè)量——透射電子顯微鏡法
- KS I ISO 10312-2008(2018) 環(huán)境空氣石棉纖維的測(cè)定直接透射電子顯微鏡法
- KS I ISO 13794-2008(2018) 環(huán)境空氣中石棉纖維含量的測(cè)定間接透射電子顯微鏡法
- KS D ISO TR 17270:2007 微束分析－分析透射電子顯微術(shù)－電子能量損失譜學(xué)實(shí)驗(yàn)參數(shù)測(cè)定技術(shù)報(bào)告
KR-KS，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D 2716-2023 納米顆粒直徑的測(cè)量-透射電子顯微鏡
- KS C ISO 21363-2023 納米技術(shù)——用透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
- KS D ISO TR 17270-2007 微束分析－分析透射電子顯微術(shù)－電子能量損失譜學(xué)實(shí)驗(yàn)參數(shù)測(cè)定技術(shù)報(bào)告
工業(yè)和信息化部，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- YB/T 4676-2018 鋼中析出相的分析 透射電子顯微鏡法
美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E3143-18a 脂質(zhì)體低溫透射電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
- ASTM E3143-18 脂質(zhì)體低溫透射電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
- ASTM E3143-18b 脂質(zhì)體低溫透射電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
- ASTM E3143-18b(2023) 進(jìn)行脂質(zhì)體冷凍透射電子顯微鏡檢查的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
- ASTM D6281-06 用透射式電子顯微鏡直接轉(zhuǎn)移法測(cè)定周圍環(huán)境和室內(nèi)空氣中氣載石棉濃度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D6281-04 用透射式電子顯微鏡直接轉(zhuǎn)移法測(cè)定周圍環(huán)境和室內(nèi)空氣中氣載石棉濃度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D6281-09 用透射式電子顯微鏡直接轉(zhuǎn)移法測(cè)定周圍環(huán)境和室內(nèi)空氣中氣載石棉濃度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D7201-06(2020) 通過相位對(duì)比顯微鏡（帶有透射電子顯微鏡選項(xiàng)）在工作場(chǎng)所取樣和計(jì)數(shù)機(jī)載纖維（包括石棉纖維）的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
- ASTM D7201-06(2011) 用相襯顯微鏡(也可選擇透射電子顯微鏡)在工作場(chǎng)所采樣,并計(jì)算空氣纖維(包括石棉纖維)含量的標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程
- ASTM E986-04 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
- ASTM E986-04(2010) 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
- ASTM D5756-02 用透射電子顯微鏡對(duì)塵埃中石棉質(zhì)量濃度作微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D5756-95 用透射電子顯微鏡對(duì)塵埃中石棉質(zhì)量濃度作微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D6056-96(2011) 工作環(huán)境下空氣中單晶陶瓷晶須濃度透射電子顯微鏡測(cè)定的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D5755-95 用透射電子顯微鏡對(duì)塵埃中石棉結(jié)構(gòu)值濃度作微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D5755-02 用透射電子顯微鏡對(duì)塵埃中石棉結(jié)構(gòu)值濃度作微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D5756-02(2008) 用透射電子顯微鏡對(duì)塵埃中石棉塊表面負(fù)荷作微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D5755-03 用石棉結(jié)構(gòu)值表面負(fù)荷用透射電子顯微鏡對(duì)塵埃微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D5755-09 用石棉結(jié)構(gòu)值表面負(fù)荷用透射電子顯微鏡對(duì)塵埃微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D5755-09(2014)e1 用石棉結(jié)構(gòu)值表面負(fù)荷用透射電子顯微鏡對(duì)塵埃微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D6480-05(2010) 用透射電子顯微鏡對(duì)表面擦拭取樣中石棉結(jié)構(gòu)值濃度間接制備和分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D6281-15 用透射電子顯微鏡術(shù)直接移植法 (TEM) 測(cè)定環(huán)境和室內(nèi)大氣下空氣中石棉濃度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D6281-98 通過透射電子顯微鏡直接轉(zhuǎn)移（TEM）測(cè)定的環(huán)境和室內(nèi)環(huán)境中的空氣中石棉濃度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
- ASTM E2809-13 在法醫(yī)油漆檢查中使用掃描電子顯微鏡/X射線光譜法的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM D6480-05 用透射電子顯微鏡檢查法對(duì)石棉結(jié)構(gòu)數(shù)密度進(jìn)行表面的擦拭取樣、間接制備和分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D8526-23 使用透射電子顯微鏡測(cè)定環(huán)境大氣中碳納米管和含碳納米管顆粒濃度的分析程序的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E1588-07e1 用掃描電子顯微鏡法/能量色散X射線光譜測(cè)定法的射擊殘留物分析用標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1588-07 用掃描電子顯微鏡法/能量色散X射線光譜測(cè)定法的射擊殘留物分析用標(biāo)準(zhǔn)指南
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 34331-2017 黃瓜綠斑駁花葉病毒透射電子顯微鏡檢測(cè)方法
- GB/T 34168-2017 金、銀納米顆粒材料生物效應(yīng)的透射電子顯微鏡檢測(cè)方法
- GB/T 34002-2017 微束分析 透射電子顯微術(shù) 用周期結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法
- GB/T 33839-2017 基于生物效應(yīng)含碳基納米材料生物樣品的透射電子顯微鏡檢測(cè)方法
德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN SPEC 52407:2015-03 納米技術(shù) 使用原子力顯微鏡(AFM)和透射掃描電子顯微鏡(TSEM)進(jìn)行粒子測(cè)量的準(zhǔn)備和評(píng)估方法
- DIN EN ISO 21363:2022-03 納米技術(shù) - 通過透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布 (ISO 21363:2020)
PH-BPS，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- PNS ISO 21363:2021 納米技術(shù).用透射電子顯微鏡測(cè)量粒度和形狀分布
丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- DS/ISO/TS 10797:2012 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
- DS/ISO/TS 22292:2021 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡對(duì)桿狀支撐的納米物體進(jìn)行 3D 圖像重建
法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- FD T16-209:2012 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
- NF T16-404:2020 納米技術(shù). 通過透射電子顯微鏡測(cè)量粒度和形狀分布
- NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) 通過透射電子顯微鏡測(cè)量粒徑和形狀分布
- NF ISO 13794:2020 環(huán)境空氣 石棉纖維測(cè)定 間接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法
- NF ISO 10312:2020 環(huán)境空氣 石棉纖維的測(cè)定 直接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法
- NF X43-050:2021 空氣質(zhì)量 用透射電子顯微鏡法測(cè)定石棉纖維濃度 間接法
- NF EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) - 通過透射電子顯微鏡測(cè)定顆粒尺寸和形狀分布
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS K 3850-2:2000 空氣中纖維粒子的測(cè)量方法.第2部分:直接傳遞透射電子顯微鏡法
- JIS K 3850-3:2000 空氣中纖維粒子的測(cè)量方法.第3部分:間接傳遞透射電子顯微鏡法
歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) - 通過透射電子顯微鏡測(cè)定粒度分布的方案
- prEN ISO 21363:2021 納米技術(shù) 通過透射電子顯微鏡測(cè)量粒徑和形狀分布（ISO 21363:2020）
AENOR，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- UNE 77236:1999 環(huán)境空氣 石棉纖維的測(cè)定 直接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法
ES-UNE，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- UNE-EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) 通過透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
國(guó)際電工委員會(huì)，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO TS 10797:2012 納米技術(shù).使用透射電子顯微鏡對(duì)單壁碳納米管進(jìn)行表征
- ISO TS 22292:2021 納米技術(shù)——使用透射電子顯微鏡對(duì)棒支撐的納米物體進(jìn)行3D圖像重建
- IEC TS 62607-6-2:2023 納米制造.關(guān)鍵控制特性.第6-2部分:石墨烯.層數(shù):原子力顯微鏡、光學(xué)透射、拉曼光譜
AT-ON，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- OENORM EN ISO 21363:2021 納米技術(shù) 通過透射電子顯微鏡測(cè)量粒徑和形狀分布（ISO 21363:2020）
未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) – 使用透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和顆粒形狀分布
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-司法，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- SF/T 0139-2023 泥土檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
GOSTR，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- PNST 507-2020 納米技術(shù) 單壁碳納米管 使用透射電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜法進(jìn)行表征
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-公共安全標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- GA/T 1939-2021 法庭科學(xué) 電流斑檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 1522-2018 法庭科學(xué) 射擊殘留物檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 1938-2021 法庭科學(xué) 金屬檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 1937-2021 法庭科學(xué) 橡膠檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 909-2010 微量物證的提取、包裝方法 掃描電子顯微鏡/能譜法檢驗(yàn)射擊殘留物
- GA/T 1521-2018 法庭科學(xué) 塑料元素成分檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 1519-2018 法庭科學(xué) 墨粉元素成分檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 1520-2018 法庭科學(xué) 黑火藥、煙火藥元素成分檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 823.3-2018 法庭科學(xué)油漆物證的檢驗(yàn)方法 第3部分：掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
IX-IX-IEC，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- IEC TS 62607-6-17:2023 納米制造 關(guān)鍵控制特性 第 6-17 部分：石墨烯基材料 階參數(shù)：X 射線衍射和透射電子顯微鏡
VN-TCVN，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- TCVN 6502-1999 環(huán)境空氣.石棉纖維的測(cè)定.直接傳遞透射電子顯微法
RU-GOST R，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- GOST R 8.697-2010 確保測(cè)量一致性的國(guó)家體系.晶體中的平面間距.利用透射電子顯微鏡的測(cè)量方法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-商品檢驗(yàn)，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- SN/T 2649.1-2010 進(jìn)出口化妝品中石棉的測(cè)定 第1部分：X射線衍射-掃描電子顯微鏡法
美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于透射電子顯微鏡 2周的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM D6281-23 通過透射電子顯微鏡直接轉(zhuǎn)移 (TEM) 測(cè)定環(huán)境和室內(nèi)大氣中空氣中石棉濃度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法（標(biāo)準(zhǔn) + Redline PDF 包）
