氧化層厚度測量

本專題涉及氧化層厚度測量的標(biāo)準(zhǔn)有6條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，氧化層厚度測量涉及到分析化學(xué)、長度和角度測量、表面處理和鍍涂。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，氧化層厚度測量涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、材料防護。

法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于氧化層厚度測量的標(biāo)準(zhǔn)

• NF EN ISO 1463:2021 金屬涂層和氧化層 涂層厚度的測量 顯微切片法

國家質(zhì)檢總局，關(guān)于氧化層厚度測量的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅層厚度的測量 X射線光電子能譜法
• GB/T 6462-2005 金屬和氧化物覆蓋層 厚度測量 顯微鏡法

南非標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于氧化層厚度測量的標(biāo)準(zhǔn)

• SANS 144:2008 金屬及氧化涂層.涂層厚度測量.顯微方法

CZ-CSN，關(guān)于氧化層厚度測量的標(biāo)準(zhǔn)

• CSN ISO 1463:1993 金屬涂層和氧化涂層．涂層厚度測量．顯微鏡方法

YU-JUS，關(guān)于氧化層厚度測量的標(biāo)準(zhǔn)

• JUS C.T7.228-1984 鋁和鋁合金的陽極氧化．氧化物涂層厚度的測量．渦電流法

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可能用到的儀器設(shè)備