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單晶x-射線分析

本專題涉及單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)有499條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，單晶x-射線分析涉及到教育、金屬材料試驗(yàn)、無機(jī)化學(xué)、分析化學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、半導(dǎo)體材料、粒度分析、篩分、陶瓷、黑色金屬、詞匯、有色金屬、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、耐火材料、空氣質(zhì)量、核能工程、建筑材料、無損檢測(cè)、輻射測(cè)量、電站綜合、涂料配料、金屬礦、鋼鐵產(chǎn)品、化工產(chǎn)品、輻射防護(hù)、電子管、職業(yè)安全、工業(yè)衛(wèi)生、鐵合金、有色金屬產(chǎn)品、光學(xué)設(shè)備、非金屬礦、醫(yī)療設(shè)備、實(shí)驗(yàn)室醫(yī)學(xué)、水質(zhì)、醫(yī)學(xué)科學(xué)和保健裝置綜合、石油產(chǎn)品綜合、煤、消防、攝影技術(shù)、燃料、長(zhǎng)度和角度測(cè)量、橡膠和塑料工業(yè)的生產(chǎn)工藝、廢物、潤(rùn)滑劑、工業(yè)油及相關(guān)產(chǎn)品、石油、石油產(chǎn)品和天然氣儲(chǔ)運(yùn)設(shè)備。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，單晶x-射線分析涉及到教學(xué)專用儀器、金屬物理性能試驗(yàn)方法、教育、學(xué)位、學(xué)銜、無機(jī)化工原料綜合、電離輻射計(jì)量、化學(xué)試劑綜合、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、人工晶體、、篩分、篩板與篩網(wǎng)、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、輕金屬及其合金分析方法、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、物質(zhì)成份分析儀器與環(huán)境監(jiān)測(cè)儀器綜合、硅質(zhì)耐火材料、耐火材料綜合、有色金屬礦綜合、無機(jī)鹽、工業(yè)防塵防毒技術(shù)、Ｘ射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器、放射源、水泥、金屬無損檢驗(yàn)方法、核儀器與核探測(cè)器綜合、電力試驗(yàn)技術(shù)、顏料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、重金屬及其合金分析方法、光學(xué)儀器綜合、鐵礦、鋼鐵與鐵合金分析方法、化妝品、涂料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、涂料、通用核儀器、金屬化學(xué)分析方法綜合、化學(xué)、其他電真空器件、同位素與放射源綜合、放射衛(wèi)生防護(hù)、輻射防護(hù)儀器、物理學(xué)與力學(xué)、大氣環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法、元素半導(dǎo)體材料、建材產(chǎn)品綜合、稀有輕金屬及其合金、冶金原料與輔助材料綜合、半導(dǎo)體分立器件綜合、生產(chǎn)環(huán)境安全衛(wèi)生設(shè)施、鋼鐵產(chǎn)品綜合、金相檢驗(yàn)方法、石油地質(zhì)勘探、稀有金屬及其合金分析方法、輕金屬及其合金、顏料、非金屬礦、化學(xué)計(jì)量、建材原料礦、不定型耐火材料、定型隔熱耐火材料、混凝土、集料、灰漿、砂漿、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、輻射防護(hù)監(jiān)測(cè)與評(píng)價(jià)、電子元件綜合、實(shí)驗(yàn)室基礎(chǔ)設(shè)備、有色金屬及其合金產(chǎn)品綜合、燃料油、冶金輔助原料礦、放射性同位素應(yīng)用儀器、醫(yī)用核儀器、輕金屬礦、化學(xué)助劑基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、醫(yī)用射線設(shè)備、水環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法、核材料、核燃料及其分析試驗(yàn)方法、稀有金屬礦、堿性耐火材料、催化劑基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、固體燃料礦綜合、石油產(chǎn)品綜合、光學(xué)測(cè)試儀器、合成樹脂、塑料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、潤(rùn)滑油、基本有機(jī)化工原料。


行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-教育，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • JY/T 0588-2020 單晶X射線衍射儀測(cè)定小分子化合物的晶體及分子結(jié)構(gòu)分析方法通則
  • JY/T 008-1996 四圓單晶X射線衍射儀測(cè)定小分子化合物的晶體及分子結(jié)構(gòu)分析方法通則

國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 42676-2023 半導(dǎo)體單晶晶體質(zhì)量的測(cè)試 X射線衍射法
  • GB/T 30904-2014 無機(jī)化工產(chǎn)品 晶型結(jié)構(gòu)分析 X射線衍射法
  • GB/T 32188-2015 氮化鎵單晶襯底片x射線雙晶搖擺曲線半高寬測(cè)試方法
  • GB/T 19421.1-2003 層狀結(jié)晶二硅酸鈉試驗(yàn)方法 δ相層狀結(jié)晶二硅酸鈉定性分析 X射線衍射儀法
  • GB/T 19140-2003 水泥X射線熒光分析通則
  • GB/T 42360-2023 表面化學(xué)分析 水的全反射X射線熒光光譜分析
  • GB/T 13710-1992 分析用X射線管空白詳細(xì)規(guī)范
  • GB 16355-1996 X射線衍射儀和熒光分析儀放射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)
  • GB/T 30704-2014 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南
  • GB/T 5225-1985 金屬材料定量相分析 X射線衍射K值法
  • GB/T 19500-2004 X射線光電子能譜分析方法通則
  • GB/T 8359-1987 高速鋼中碳化物相的定量分析 X射線衍射儀法
  • GB/T 16597-1996 冶金產(chǎn)品分析方法 X射線熒光光譜法通則
  • GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
  • GB/T 17362-1998 黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
  • GB/Z 42520-2023 鐵礦石X射線熒光光譜分析實(shí)驗(yàn)室操作指南
  • GB/T 18873-2002 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線 能譜定量分析通則
  • GB/T 18873-2008 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線能譜定量分析通則
  • GB/T 17359-1998 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則
  • GB/T 29513-2013 含鐵塵泥 X射線熒光光譜化學(xué)分析 熔鑄玻璃片法
  • GB/T 21114-2007 耐火材料 X射線熒光光譜化學(xué)分析 - 熔鑄玻璃片法
  • GB/Z 32490-2016 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 確定本底的程序
  • GB/T 17507-2008 透射電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣的通用技術(shù)條件
  • GB/T 8156.10-1987 工業(yè)用氟化鋁中硫量的測(cè)定 X射線熒光光譜分析法
  • GB/T 22571-2008 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀.能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)
  • GB/T 20726-2015 微束分析 電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數(shù)及核查方法
  • GB/T 17507-1998 電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣通用技術(shù)條件
  • GB/T 17416.2-1998 鋯礦石化學(xué)分析方法 X射線熒光光譜法測(cè)定鋯量和鉿量
  • GB/T 21006-2007 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)的線性
  • GB/T 28892-2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜.選擇儀器性能參數(shù)的表述
  • GB/T 28633-2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜.強(qiáng)度標(biāo)的重復(fù)性和一致性
  • GB/T 14506.28-1993 硅酸鹽巖石化學(xué)分析方法 X射線熒光光譜法測(cè)定主、次元素量
  • GB/T 14849.5-2010 工業(yè)硅化學(xué)分析方法.第5部分：元素含量的測(cè)定.X射線熒光光譜法
  • GB/T 28632-2012 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.橫向分辨率測(cè)定

PT-IPQ，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • JJF 1256-2010 X射線單晶體定向儀校準(zhǔn)規(guī)范
  • JJF 1133-2005 X射線熒光光譜法黃金含量分析儀校準(zhǔn)規(guī)范

韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-航空，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • HB 6742-1993 單晶葉片晶體取向的測(cè)定X射線背射勞厄照相法

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 39123-2020 X射線和γ射線探測(cè)器用碲鋅鎘單晶材料規(guī)范
  • GB/T 36923-2018 珍珠粉鑒別方法 X射線衍射分析法
  • GB/T 40407-2021 硅酸鹽水泥熟料礦相X射線衍射分析方法
  • GB/T 36401-2018 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結(jié)果的報(bào)告
  • GB/T 16597-2019 冶金產(chǎn)品分析方法 X射線熒光光譜法通則
  • GB/T 21114-2019 耐火材料 X射線熒光光譜化學(xué)分析 熔鑄玻璃片法
  • GB/T 40110-2021 表面化學(xué)分析 全反射X射線熒光光譜法（TXRF）測(cè)定硅片表面元素污染
  • GB/T 41064-2021 表面化學(xué)分析 深度剖析 用單層和多層薄膜測(cè)定X射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質(zhì)譜中深度剖析濺射速率的方法

中國(guó)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • T/IAWBS 017-2022 金剛石單晶片X射線雙晶搖擺曲線半高寬測(cè)試方法
  • T/IAWBS 015-2021 氧化鎵單晶片X射線雙晶搖擺曲線半高寬測(cè)試方法
  • T/IAWBS 016-2022 碳化硅單晶片 X 射線雙晶搖 擺曲線半高寬測(cè)試方法
  • T/IMPCA 0001-2021 化工裝置鋼鐵及其制品中合金元素 X 射線 熒光光譜分析方法
  • T/NAIA 0128-2022 氫氧化鋁快速測(cè)定 X射線熒光光譜分析（壓片）法測(cè)定元素含量

KR-KS，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • BS ISO 17867:2015 粒徑分析. 小角X射線散射
  • BS ISO 22278:2020 精細(xì)陶瓷（先進(jìn)陶瓷、先進(jìn)技術(shù)陶瓷） 采用平行X射線束X射線衍射法測(cè)定單晶薄膜（晶片）結(jié)晶質(zhì)量的測(cè)試方法
  • BS ISO 17867:2020 粒度分析 小角 X 射線散射 (SAXS)
  • DD ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角X射線散射法
  • BS DD ISO/TS 13762:2002 粒徑分析.小角度X射線散射法
  • 20/30360821 DC BS ISO 22278 精細(xì)陶瓷（高級(jí)陶瓷、先進(jìn)技術(shù)陶瓷） 采用平行X射線束X射線衍射法測(cè)定單晶薄膜（晶片）結(jié)晶質(zhì)量的測(cè)試方法
  • BS ISO 20289:2018 表面化學(xué)分析 水的全反射X射線熒光分析
  • BS ISO 13424:2013 表面化學(xué)分析.X射線光譜.薄膜分析報(bào)表
  • BS ISO 10810:2019 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南
  • BS ISO 10810:2010 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜法.分析指南
  • BS ISO 16258-2:2015 工作場(chǎng)所空氣. 使用X射線衍射法分析可吸入石英. 間接分析法
  • BS ISO 16129:2018 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 X 射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估程序
  • PD ISO/TS 18507:2015 表面化學(xué)分析 全反射 X 射線熒光光譜在生物和環(huán)境分析中的應(yīng)用
  • BS ISO 18554:2016 表面化學(xué)分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對(duì)材料進(jìn)行分析的X射線的意外降解的識(shí)別, 評(píng)估和修正程序
  • BS ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估規(guī)程
  • BS ISO 29581-2:2010 水泥.試驗(yàn)方法.用X射線熒光法的化學(xué)分析
  • BS EN 15305:2008 無損檢驗(yàn).使用X射線衍射分析剩余應(yīng)力的試驗(yàn)方法
  • BS PD ISO/TS 18507:2015 表面化學(xué)分析. 全反射X射線熒光光譜法在生物和環(huán)境分析中的使用
  • BS EN ISO 21587-2:2007 硅酸鋁耐熔制品的化學(xué)分析(可選擇X射線熒光法).濕化學(xué)分析
  • BS ISO 15472:2010 表面化學(xué)分析.X射線光電子分光計(jì).能量等級(jí)的校準(zhǔn)
  • BS ISO 16258-1:2015 工作場(chǎng)所空氣. 使用X射線衍射法分析可吸入石英. 直接過濾法
  • BS ISO 17470:2014 微束分析. 電子探針顯微分析. 采用波長(zhǎng)分散X射線光譜測(cè)定法的定性點(diǎn)分析指南
  • BS ISO 17109:2022 表面化學(xué)分析 深度剖析 使用單層和多層薄膜的 X 射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質(zhì)譜濺射深度分析中濺射速率的測(cè)定方法...
  • 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化學(xué)分析 深度剖析 使用單一和……的 X 射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質(zhì)譜濺射深度分析中濺射速率測(cè)定方法
  • PD ISO/TR 12389:2009 水泥測(cè)試方法 測(cè)試計(jì)劃的報(bào)告 X 射線熒光化學(xué)分析
  • BS ISO 14701:2018 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 氧化硅厚度的測(cè)量
  • BS EN ISO 10058-2:2009 菱鎂礦和白云石耐火制品的化學(xué)分析（可選X射線熒光法） 濕化學(xué)分析
  • BS EN ISO 10058-2:2008 菱鎂礦和白云石耐火制品的化學(xué)分析(可選X射線熒光法).濕化學(xué)分析
  • DD ISO/TS 10798:2011 納米技術(shù) 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析表征單壁碳納米管
  • BS 6870-3:1989 鋁礦石分析.第3部分:采用波長(zhǎng)色散式X射線熒光法對(duì)多元素分析的方法
  • BS ISO 14701:2011 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜學(xué).二氧化硅厚度測(cè)量
  • BS ISO 21270:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電子和俄歇電子光譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性度
  • BS ISO 17109:2015 表面化學(xué)分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測(cè)定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質(zhì)譜法濺射深度剖析中濺射率的方法
  • BS ISO 16243:2011 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜術(shù)(XPS)的記錄和報(bào)告數(shù)據(jù)
  • BS ISO 22489:2007 微光束分析.電子探針微量分析.用波長(zhǎng)色散X-射線光譜測(cè)量法作塊狀樣品的定量點(diǎn)分析
  • BS ISO 22489:2016 微光束分析.電子探針微量分析.用波長(zhǎng)色散X-射線光譜測(cè)量法作塊狀樣品的定量點(diǎn)分析
  • BS ISO 21270:2004 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度尺度的線性
  • BS ISO 15470:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述
  • BS ISO 15470:2017 表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述
  • BS 1902-9.1:1987 耐火材料試驗(yàn)方法.第9部分:化學(xué)分析儀法.第1節(jié):硅酸鋁耐火材料X射線熒光分析法
  • BS EN 10315:2006 臨近技術(shù)使用的X射線熒光光譜法(XRF)高合金鋼分析的常規(guī)方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • ISO 17867:2015 粒徑分析. 小角X射線散射
  • ISO 22278:2020 精細(xì)陶瓷（高級(jí)陶瓷 高級(jí)工業(yè)陶瓷）.用平行X射線束X射線衍射法測(cè)定單晶薄膜（晶片）結(jié)晶質(zhì)量的試驗(yàn)方法
  • ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角度X射線濺射法
  • ISO 17867:2020 粒度分析.小角度X射線散射（SAXS）
  • ISO/CD 5861 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 石英晶體單色Al Ka XPS儀器強(qiáng)度校準(zhǔn)方法
  • ISO/DIS 5861:2023 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 石英晶體單色 Al Kα XPS 儀器強(qiáng)度校準(zhǔn)方法
  • ISO 20289:2018 表面化學(xué)分析.水的全反射X射線熒光分析
  • ISO 16258-2:2015 工作場(chǎng)所的空氣. 采用X射線衍射分析可吸入結(jié)晶二氧化硅. 第2部分: 間接分析法
  • ISO 10810:2019 表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜分析指南
  • ISO 10810:2010 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜學(xué).分析導(dǎo)則
  • ISO 14706:2000 表面化學(xué)分析 用總反射X-射線熒光(TXRF)測(cè)定法測(cè)定硅晶片的表面基本的污染
  • ISO 14706:2014 表面化學(xué)分析 用總反射X-射線熒光(TXRF)測(cè)定法測(cè)定硅晶片的表面基本的污染
  • ISO 16258-1:2015 工作場(chǎng)所的空氣. 采用X射線衍射分析可吸入結(jié)晶二氧化硅. 第1部分: 直接過濾法
  • ISO 16129:2018 表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜 - 評(píng)估X射線光電子能譜儀日常性能的方法
  • ISO 13424:2013 表面化學(xué)分析——X射線光電子能譜；薄膜分析結(jié)果的報(bào)告
  • ISO 18554:2016 表面化學(xué)分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對(duì)材料進(jìn)行分析的X射線的意外降解的識(shí)別, 評(píng)估和修正程序
  • ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估規(guī)程
  • ISO/TS 18507:2015 表面化學(xué)分析. 全反射X射線熒光光譜法在生物和環(huán)境分析中的使用
  • ISO 17470:2004 微光束分析.電子探針顯微分析.波長(zhǎng)分散X射線光譜法分析質(zhì)量點(diǎn)的指南
  • ISO/TS 10798:2011 納米技術(shù).使用掃描電鏡與X射線能譜分析的單臂碳納米管的特征描述
  • ISO 15472:2010 表面化學(xué)分析.X射線光電譜儀.能量刻度表校準(zhǔn)
  • ISO 15472:2001 表面化學(xué)分析 X射線光電譜儀 能量刻度表校準(zhǔn)
  • ISO 29581-2:2010 水泥.試驗(yàn)方法.第2部分:用X射線熒光法的化學(xué)分析
  • ISO 17470:2014 微束分析. 電子探針微量分析. 用波長(zhǎng)色散X射線光譜測(cè)定法定性點(diǎn)分析指南
  • ISO/TR 18392:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電子光譜學(xué).背景測(cè)定程序
  • ISO/CD TR 18392:2023 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜 確定背景的程序
  • ISO 21587-2:2007 硅酸鋁耐火材料的化學(xué)分析(可選擇X射線熒光法).第2部分:濕化學(xué)分析
  • ISO 14701:2018 表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜 - 氧化硅厚度的測(cè)量
  • ISO 12677:2011 用X射線熒光對(duì)耐火產(chǎn)品(XRF)進(jìn)行化學(xué)分析.熔鑄珠法
  • ISO 22489:2006 微光束分析.電子探針微量分析.運(yùn)用波長(zhǎng)色散X射線光譜測(cè)量法定量分析塊狀樣品
  • ISO 22489:2016 微光束分析.電子探針微量分析.運(yùn)用波長(zhǎng)色散X射線光譜測(cè)量法定量分析塊狀樣品
  • ISO 14701:2011 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜.二氧化硅厚度的測(cè)量
  • ISO 17109:2015 表面化學(xué)分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測(cè)定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質(zhì)譜法濺射深度剖析中濺射率的方法
  • ISO/TR 12389:2009 水泥試驗(yàn)方法.X射線熒光進(jìn)行化學(xué)分析的試驗(yàn)程序報(bào)告
  • ISO 12980:2000 鋁生產(chǎn)用碳素材料 電極用生焦和煅燒焦 X射線熒光分析
  • ISO 15470:2017 表面化學(xué)分析. X射線光電子能譜. 選擇儀器性能參數(shù)說明
  • ISO 16243:2011 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜術(shù)(XPS)的記錄和報(bào)告數(shù)據(jù)
  • ISO 10058-2:2008 菱鎂礦和白云石耐火制品的化學(xué)分析(可選X射線熒光法).第2部分:濕化學(xué)分析
  • ISO/CD 19214:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測(cè)定線狀晶體表觀生長(zhǎng)方向的方法
  • ISO 21270:2004 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性
  • ISO 17054:2010 用X射線熒光光譜法(XRF)近似技術(shù)分析高合金鋼的常規(guī)方法
  • ISO 15632:2021 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測(cè)器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范
  • ISO 15632:2012 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測(cè)器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范
  • ISO 15470:2004 表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述
  • ISO 24237:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電子光譜法.強(qiáng)度的可重復(fù)性和穩(wěn)定性
  • ISO 15632:2002 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測(cè)器的能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范

RU-GOST R，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • DIN 51418-2:2015 X射線光譜分析.X射線散射和X射線熒光分析(RFA).第2部分:定義和測(cè)量、校準(zhǔn)及評(píng)估的基本原則
  • DIN 51418-2:1996 X射線光譜分析.X射線散射和X射線熒光分析(RFA).第2部分:定義和測(cè)量、校準(zhǔn)及評(píng)估的基本原則
  • DIN 51418-1:2008 X射線光譜測(cè)定法.X射線散射和X射線熒光分析(XRF).第1部分:定義和基本原理
  • DIN EN 13925-2:2003 無損檢驗(yàn).多晶和非晶材料的X射線衍射.第2部分:程序
  • DIN EN 13925-1:2003 無損檢驗(yàn).多晶和非晶材料的X射線衍射.第1部分:總則
  • DIN EN 13925-3:2005 無損檢驗(yàn).多晶和非晶材料的X射線衍射.第3部分:儀器
  • DIN EN 13925-3:2005-07 無損檢測(cè) 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第3部分：儀器
  • DIN EN 13925-2:2003-07 無損檢測(cè) - 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 - 第 2 部分：程序
  • DIN 51418-1:1996 X光射線光譜測(cè)定法.X光射線散射和X光射線熒光分析(RFA).第1部分:定義和基本原理
  • DIN 51418-1:2008-08 射線光譜測(cè)定 X 射線發(fā)射和 X 射線熒光分析(XRF)第1部分：定義和基本原理
  • DIN EN 13925-1:2003-07 無損檢測(cè) - 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 - 第 1 部分：一般原理
  • DIN 51418-2:2015-03 X 射線光譜測(cè)定 X 射線發(fā)射和 X 射線熒光分析(XRF)第2部分：測(cè)量、校準(zhǔn)和結(jié)果評(píng)估的定義和基本原則
  • DIN EN 1330-11:2007-09 無損檢測(cè) 術(shù)語 第11部分：多晶和非晶材料 X 射線衍射中使用的術(shù)語
  • DIN IEC 62495:2011 核儀器.使用微型X射線管的便攜式X射線熒光分析設(shè)備(IEC 62495-2011)
  • DIN 50433-1:1976 無機(jī)半導(dǎo)體材料的檢驗(yàn).第1部分:采用X射線衍射現(xiàn)象對(duì)單晶體取向的測(cè)定
  • DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 無損檢測(cè) X射線衍射殘余應(yīng)力分析試驗(yàn)方法
  • DIN EN 15305:2009-01 無損檢測(cè) X射線衍射殘余應(yīng)力分析試驗(yàn)方法
  • DIN ISO 16129:2020-11 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估程序
  • DIN 51418-2 Bb.1:2000 X射線光度法.X射線散射和X射線熒光分析(XRF).第2部分:定義和測(cè)量、校準(zhǔn)及對(duì)結(jié)果評(píng)定的基本原理.附加信息和計(jì)算范例
  • DIN EN 1330-11:2007 無損檢驗(yàn).專業(yè)術(shù)語.第11部分:在多晶和非晶材料的X射線衍射中使用的術(shù)語
  • DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 無損檢驗(yàn) 使用X射線衍射法進(jìn)行分析殘余應(yīng)力分析的試驗(yàn)方法
  • DIN 55912-2 Bb.2:1999 顏料.二氧化鈦顏料.分析方法.用X射線熒光分析法制定校準(zhǔn)曲線
  • DIN EN 15305:2009 無損檢測(cè).X射線衍射法對(duì)殘余應(yīng)力分析用試驗(yàn)方法
  • DIN 50443-1:1988 半導(dǎo)體工藝使用材料的檢驗(yàn).第1部分:用X射線外形測(cè)量法檢測(cè)半導(dǎo)體單晶硅中晶體缺陷和不均勻性
  • DIN 55912-2 Bb.1:1999 顏料.二氧化鈦顏料.分析方法.用X射線熒光分析測(cè)定次要成分的實(shí)例
  • DIN EN 12698-2:2007 氮化物結(jié)合碳化硅耐火材料的化學(xué)分析.第2部分:X射線衍射(XRD)法
  • DIN EN ISO 21587-2:2007 硅酸鋁耐熔制品的化學(xué)分析(可選擇X射線熒光法).第2部分:濕化學(xué)分析
  • DIN EN ISO 21587-2:2007-12 鋁硅酸鹽耐火制品的化學(xué)分析（替代X射線熒光法）-第2部分：濕化學(xué)分析
  • DIN ISO 16129:2020 表面化學(xué)分析. X射線光電子能譜-評(píng)估X射線光電子能譜儀的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本
  • DIN 6855-2:2005 核醫(yī)療儀器的質(zhì)量控制.第2部分:用于單光子X線斷層術(shù)的帶旋轉(zhuǎn)檢測(cè)頭的角型γ射線攝像機(jī)和平面閃爍掃描術(shù)的單晶γ射線攝像機(jī)的穩(wěn)定試驗(yàn)
  • DIN 6855-2:2013 核醫(yī)療儀器的質(zhì)量控制.第2部分:用于單光子X線斷層術(shù)的帶旋轉(zhuǎn)檢測(cè)頭的角型γ射線攝像機(jī)和平面閃爍掃描術(shù)的單晶γ射線攝像機(jī)的穩(wěn)定試驗(yàn)
  • DIN EN ISO 12677:2013-02 通過 X 射線熒光(XRF)對(duì)耐火產(chǎn)品進(jìn)行化學(xué)分析 熔鑄珠法
  • DIN 51440-1:2003 汽油檢測(cè).磷含量測(cè)定.第1部分:波長(zhǎng)色散X射線光譜分析法
  • DIN ISO 15472:2020-05 表面化學(xué)分析 - X 射線光電子能譜儀 - 能量標(biāo)度校準(zhǔn) (ISO 15472:2010)
  • DIN EN ISO 10058-2:2009 菱鎂礦和白云石耐火制品的化學(xué)分析(可選X射線熒光法) 第2部分:濕化學(xué)分析
  • DIN EN ISO 10058-2:2009-04 菱鎂礦和白云石耐火制品的化學(xué)分析（替代X射線熒光法）-第2部分：濕化學(xué)分析
  • DIN EN ISO 20565-2:2009-06 含鉻耐火制品和含鉻原材料的化學(xué)分析（替代X射線熒光法）-第2部分：濕化學(xué)分析
  • DIN 51729-10:1996 固體燃料試驗(yàn).燃料灰化學(xué)成分測(cè)定.第10部分:X射線熒光分析法(RFA)
  • DIN EN ISO 14597:1999 礦物油制品.釩和鎳含量的測(cè)定.波長(zhǎng)色散X射線熒光分析法
  • DIN 25703:1993 硝酸溶液中鈾含量和钚含量的測(cè)定.波長(zhǎng)分散X射線熒光分析法
  • DIN 51729-10:2011-04 固體燃料的測(cè)試 燃料灰分化學(xué)成分的測(cè)定 第10部分：X射線熒光分析
  • DIN 51729-10:2011 固體燃料的試驗(yàn).燃料灰分化學(xué)組成的測(cè)定.第10部分:X射線熒光分析
  • DIN EN 10315:2006 使用臨近技術(shù)用X射線熒光光譜法(XRF)分析高合金鋼的常規(guī)法
  • DIN ISO 15472:2020 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀 能標(biāo)校準(zhǔn)（ISO 15472:2010）；英文文本
  • DIN 51396-2:1998 潤(rùn)滑劑的試驗(yàn).磨損元件的測(cè)定.第2部分:波長(zhǎng)彌散X射線熒光分析(XRS)
  • DIN 51431-2:2004 潤(rùn)滑劑的檢驗(yàn).鎂含量測(cè)定.第2部分:波長(zhǎng)色散的X射線光譜分析法(XRF)
  • DIN 51396-2:2008 潤(rùn)滑劑的試驗(yàn).磨損元件的測(cè)定.第2部分:波長(zhǎng)彌散X射線熒光分析(XRS)
  • DIN 51390-2:1997 礦物油制品試驗(yàn).硅含量測(cè)定.第2部分:波長(zhǎng)耗散X射線螢光分析(RFA)法

工業(yè)和信息化部，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • YS/T 1178-2017 鋁渣物相分析X射線衍射法
  • YB/T 172-2020 硅磚定量相分析 X射線衍射法
  • YS/T 1344.3-2020 摻錫氧化銦粉化學(xué)分析方法 第3部分：物相分析 X射線衍射分析法
  • YS/T 1160-2016 工業(yè)硅粉定量相分析 二氧化硅含量的測(cè)定 X射線衍射K值法
  • YS/T 483-2022 銅及銅合金分析方法 X射線熒光光譜法 （波長(zhǎng)色散型）
  • YS/T 1033-2015 干式防滲料元素含量的測(cè)定 X射線熒光光譜分析法
  • YS/T 806-2020 鋁及鋁合金化學(xué)分析方法 元素含量的測(cè)定 X射線熒光光譜法
  • YS/T 575.23-2021 鋁土礦石化學(xué)分析方法 第23部分：元素含量的測(cè)定 X射線熒光光譜法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • NF X43-600-2*NF ISO 16258-2:2015 工作場(chǎng)所空氣 通過 X 射線衍射分析可吸入結(jié)晶二氧化硅 第2部分：間接分析法
  • NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 無損檢驗(yàn).多晶和非晶材料的X射線衍射.第3部分:儀器
  • NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 無損檢驗(yàn) 多晶和非晶材料的X射線衍射 第2部分：程序
  • NF EN 1330-11:2007 無損檢測(cè) - 術(shù)語 - 第 11 部分：多晶和非晶材料的 X 射線衍射
  • NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 無損檢驗(yàn).多晶和非晶材料的X射線衍射.第1部分:基本原則
  • NF EN 13925-2:2003 無損檢測(cè) - X 射線衍射應(yīng)用于多晶和非晶材料 - 第 2 部分：程序
  • NF EN 13925-3:2005 無損檢測(cè)-應(yīng)用于多晶和非晶材料的X射線衍射-第3部分：設(shè)備
  • NF EN 13925-1:2003 無損檢測(cè) - X 射線衍射應(yīng)用于多晶和非晶材料 - 第 1 部分：一般原理
  • NF X43-600-1*NF ISO 16258-1:2015 工作場(chǎng)所空氣 通過 X 射線衍射分析可吸入結(jié)晶二氧化硅 第1部分：直接過濾法
  • NF A09-020-11*NF EN 1330-11:2007 無損檢測(cè).術(shù)語.第11部分:多結(jié)晶和非結(jié)晶材料中X射線衍射用術(shù)語
  • NF X21-071:2011 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜法.分析用導(dǎo)則
  • NF EN 15305:2009 無損檢測(cè) X射線衍射殘余應(yīng)力分析試驗(yàn)方法
  • NF ISO 16258-2:2015 工作場(chǎng)所空氣 通過 X 射線衍射測(cè)定結(jié)晶二氧化硅的可吸入部分 第2部分：間接分析方法
  • NF ISO 16258-1:2015 工作場(chǎng)所空氣 X 射線衍射法測(cè)定結(jié)晶二氧化硅的可吸入部分 第1部分：直接過濾分析方法
  • NF EN ISO 12677:2011 X射線熒光法耐火材料化學(xué)分析-熔珠法
  • NF T25-111-3:1991 碳纖維-織構(gòu)和結(jié)構(gòu)-第3部分：X 射線衍射的方位角分析
  • NF A09-185*NF EN 15305:2009 無損檢測(cè).用X射線衍射對(duì)殘余應(yīng)力分析的試驗(yàn)方法
  • NF S92-502:2006 醫(yī)用生物分析實(shí)驗(yàn)室.人類輻射學(xué).肺計(jì)數(shù).低能X-射線和α-射線發(fā)射器(小于200 keV)
  • NF X21-003:2006 微光束分析.電子探針顯微分析.波長(zhǎng)分布X射線光譜測(cè)量法定量分析指南
  • NF A09-285:1999 無損試驗(yàn).通過X射線衍射進(jìn)行殘余應(yīng)力分析的試驗(yàn)方法
  • NF X21-055:2006 表面化學(xué)分析.X射線光電譜儀.能量刻度表校準(zhǔn)
  • NF M07-095*NF EN ISO 14597:1999 石油產(chǎn)品 釩和鎳含量的測(cè)定 X射線熒光分析法
  • NF A11-103:1977 鈮鐵合金的化學(xué)分析.X射線熒光光譜法測(cè)定鈮
  • XP A06-379-1999 波長(zhǎng)散射性X射線熒光光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)常規(guī)用法的制定指南
  • NF B49-422-2*NF EN 12698-2:2008 氮化物結(jié)合碳化硅耐火材料的化學(xué)分析.第2部分:X射線衍射(XRD)法.
  • NF B40-670-2*NF EN ISO 21587-2:2007 硅酸鋁耐火材料的化學(xué)分析（可選擇X射線熒光法）第2部分：濕法化學(xué)分析
  • NF B40-677*NF EN ISO 12677:2011 X射線熒光法（XRF）對(duì)耐火產(chǎn)品進(jìn)行化學(xué)分析 鑄珠熔融法
  • FD T16-203:2011 納米技術(shù) 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析法表征單壁碳納米管
  • NF X11-683:1981 液體內(nèi)變高度重力沉積粉末顆粒分析.X射線吸收測(cè)量法
  • NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜術(shù)(XPS)的記錄和報(bào)告數(shù)據(jù)
  • NF ISO 16243:2012 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜(XPS)中的數(shù)據(jù)記錄和報(bào)告
  • NF X21-006:2007 微光束分析.電子探針微量分析.用波長(zhǎng)色散X-射線光譜測(cè)量法進(jìn)行塊狀樣品的定量點(diǎn)分析
  • NF X21-008:2012 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測(cè)器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)格
  • FD A06-326*FD CEN/TR 10354:2011 黑色金屬材料的化學(xué)分析 硅鐵的分析 X射線熒光光譜法測(cè)定硅鐵中的Si和Al
  • NF B49-329-2*NF EN ISO 10058-2:2009 菱鎂礦和白云石耐火產(chǎn)品的化學(xué)分析（可選擇X射線熒光法）第2部分：潮濕化學(xué)分析
  • NF EN ISO 21587-2:2007 鋁硅酸鹽耐火制品的化學(xué)分析（X射線熒光法的替代方法）第2部分：濕化學(xué)分析方法
  • NF B49-401*NF ISO 16169:2018 ISO 12677 X 射線熒光（XRF）分析用碳化硅和類似材料的制備 熔鑄珠法
  • NF EN 16424:2014 廢物表征-使用便攜式X射線熒光分析儀測(cè)定元素成分的篩選方法
  • NF EN ISO 10058-2:2009 氧化鎂和白云石產(chǎn)品的化學(xué)分析（X射線熒光法的替代方法）第2部分：濕化學(xué)分析方法

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • ASTM F847-94(1999) 單晶硅片參考面結(jié)晶學(xué)取向X射線測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1621-21 X射線發(fā)射光譜分析標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM D5380-93(2009) 用X射線繞射分析識(shí)別涂料中結(jié)晶顏料和填充劑的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D5380-93(2003) 通過X射線衍射分析鑒定涂料中結(jié)晶顏料和擴(kuò)展劑的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D5380-93(1998) 用X射線繞射分析法鑒定涂料中結(jié)晶顏料和填充劑的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D5380-93(2021) 通過X射線衍射分析鑒定涂料中結(jié)晶顏料和擴(kuò)展劑的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D5380-93(2014) 用X射線繞射分析法鑒定涂料中水晶顏料和填充劑的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1621-05 X射線發(fā)散光譜分析標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E1085-95(2004) 金屬的X射線輻射光譜測(cè)定分析試驗(yàn)方法
  • ASTM E1085-95(2000) 金屬的X射線輻射光譜測(cè)定分析試驗(yàn)方法
  • ASTM E1085-95(2004)e1 金屬的X射線輻射光譜測(cè)定分析試驗(yàn)方法
  • ASTM E572-94(2000) 不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E572-02a(2006)e1 不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E572-02a(2006) 不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E572-02a 不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1361-90(1999) X射線光譜分析中入射效應(yīng)校正的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E572-94(2000)e1 不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1361-02(2021) X射線光譜分析中入射效應(yīng)校正的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E322-96e1 低合金鋼和鑄鐵的X射線發(fā)射光譜測(cè)定分析法
  • ASTM D5381-93(2003) 顏料和填充劑的X射線螢光(XRF)光譜分析
  • ASTM D5381-93(1998) 顏料和填充劑的X射線螢光(XRF)光譜分析
  • ASTM C1271-99(2006) 石灰和石灰?guī)rX射線光譜分析標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM C1271-99 石灰石灰石X射線光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM C1271-99(2020) 石灰石灰石X射線光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E322-96(2004) 低合金鋼和鑄鐵的X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E2465-11e1 用 X 射線光譜法分析鎳基合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM C1271-99(2012) 石灰和石灰?guī)rX射線光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E3294-22 用粉末X射線衍射法對(duì)地質(zhì)材料進(jìn)行法醫(yī)分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E1621-13 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法元素分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E996-94(1999) 俄歇電子能譜分析和X射線光電子光譜分析數(shù)據(jù)報(bào)告的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
  • ASTM D2332-84(1999) 通過波長(zhǎng) - 分散X射線熒光分析水形沉積物的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E539-90(1996)e1 6鋁4釩鈦合金的X射線輻射光譜測(cè)定分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E539-02 6鋁4釩鈦合金的X射線輻射光譜測(cè)定分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E539-06 6鋁4釩鈦合金的X射線輻射光譜測(cè)定分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E3294-23 用粉末X射線衍射法對(duì)地質(zhì)材料進(jìn)行法醫(yī)學(xué)分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E1588-10e1 掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E539-11 利用 X 射線熒光光譜法分析鈦合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1085-09 用X 射線熒光光譜法分析低合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E2465-19 用X射線熒光光譜法分析鎳基合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1361-02 X射線光譜測(cè)定分析中共存元素效應(yīng)校正的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E1361-02(2007) X射線光譜測(cè)定分析中共存元素效應(yīng)校正的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E1361-02(2014)e1 X射線光譜測(cè)定分析中共存元素效應(yīng)校正的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM D2332-84(2003) 用波長(zhǎng)色散X射線熒光法作水沉積物分析標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程
  • ASTM C1416-99 用X射線熒光法分析天然水和廢水中鈾的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM C1416-04 用X射線熒光法分析天然水和廢水中鈾的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1621-94(1999) 用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法進(jìn)行元素分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM D2332-08 用波長(zhǎng)色散X射線熒光法作水沉積物分析標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM E1621-22 用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法進(jìn)行元素分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM C1416-04(2009) 用X 射線熒光法分析天然水和廢水中鈾的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D2332-13 用波長(zhǎng)色散X射線熒光法作水沉積物分析標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程
  • ASTM E1588-16 采用掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法進(jìn)行射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E539-19 用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法分析鈦合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D2332-13(2021) 用波長(zhǎng)色散X射線熒光法分析水成沉積物的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM E539-07 6鋁4釩鈦合金的X射線熒光光譜測(cè)定分析用標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E2465-11 用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法分析鎳基合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1085-22 用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法分析低合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E2465-13 用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法分析鎳基合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D6247-98(2004) 用X射線熒光光譜法分析聚烯烴中元素含量的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1031-96 用 X 射線光譜法分析煉鐵和煉鋼渣的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法（2002 年撤回）
  • ASTM E1588-16a 采用掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法進(jìn)行射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM E1588-17 采用掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法進(jìn)行射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM D8064-16 使用多個(gè)單色激發(fā)光束的單色能量色散X射線熒光光譜法進(jìn)行土壤和固體廢物元素分析的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E2465-06 用X射線熒光光譜測(cè)定法分析不銹鋼和合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D6247-98 用X射線熒光度譜術(shù)對(duì)聚烯烴內(nèi)元素含量分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E572-02a(2006)e2 用X射線熒光光譜測(cè)定法分析不銹鋼和合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-黑色冶金，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • JIS K 0181:2021 表面化學(xué)分析 水的全反射X射線熒光分析
  • JIS H 1292:2018 銅合金.X射線熒光分光分析法
  • JIS M 8205:1983 鐵礦石熒光X射線分析方法
  • JIS G 1256:1997 鋼鐵.X射線熒光光譜分析法
  • JIS G 1256:1982 鋼鐵的熒光X射線分析方法
  • JIS K 0131:1996 X射線衍射計(jì)測(cè)量分析的通用規(guī)則
  • JIS H 1292:2005 銅合金的X射線熒光分光分析法
  • JIS M 8205:2000 鐵礦石.X射線熒光光譜儀分析
  • JIS R 2216:2005 耐火制品X射線熒光光譜分析法
  • JIS K 0148:2005 表面化學(xué)分析.用總反射X-射線熒光(TXRF)測(cè)定法測(cè)定硅晶片的表面主要污染物
  • JIS H 1631:2008 鈦合金.X射線熒光光譜測(cè)定分析法
  • JIS G 1256 AMD 1:2010 鋼鐵.X射線熒光光譜測(cè)定分析方法
  • JIS G 1351:2006 鐵合金.X-射線熒光光譜測(cè)定分析法
  • JIS H 1292:1997 銅和銅合金的X射線熒光光譜分析法
  • JIS H 1287:2015 鎳和鎳合金. X射線熒光光譜分析方法
  • JIS G 1204:1978 鋼鐵熒光X射線分析方法的通用規(guī)則
  • JIS G 1256 AMD 2:2013 鋼鐵.X射線熒光光譜分析法(修改件2)
  • JIS H 1669:1990 鋯合金的X射線熒光光譜測(cè)定分析方法
  • JIS G 1351:1987 鐵合金的X射線熒光光譜測(cè)定分析方法
  • JIS R 2216:1995 耐火磚和耐火灰漿X射線熒光光譜分析方法
  • JIS R 5204:2002 用X射線熒光法對(duì)水泥進(jìn)行化學(xué)分析的方法
  • JIS R 5204:2019 用X射線熒光法對(duì)水泥進(jìn)行化學(xué)分析的方法
  • JIS K 0190:2010 微光束分析.電子探針顯微分析.波長(zhǎng)分散X射線光譜法對(duì)質(zhì)量點(diǎn)分析用指南
  • JIS K 0145:2002 表面化學(xué)分析.X射線光電子分光計(jì).能量刻度的校準(zhǔn)
  • JIS K 0152:2014 表面化學(xué)分析. X射線光電子能譜分析. 強(qiáng)度標(biāo)的重復(fù)性和一致性
  • JIS K 0189:2013 微束分析.電子探針顯微分析.波長(zhǎng)色散X射線光譜學(xué)用實(shí)驗(yàn)參數(shù)的測(cè)定
  • JIS Z 4752-2-6:2001 醫(yī)療圖像部門的評(píng)估和常規(guī)檢驗(yàn).第2-6部分:穩(wěn)定性試驗(yàn).計(jì)算層析X光射線照相術(shù)用X光射線設(shè)備
  • JIS Z 4752-2-6:2012 醫(yī)療圖像部門的評(píng)估和常規(guī)檢驗(yàn).第2-6部分:穩(wěn)定性試驗(yàn).計(jì)算層析X光射線照相術(shù)用X光射線設(shè)備
  • JIS A 1481-3:2014 建筑材料產(chǎn)品中石棉的測(cè)定.第3部分:X-射線衍射法對(duì)含有石棉的定量分析
  • JIS K 0162:2010 表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-建材，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-核工業(yè)，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • EN 13925-2:2003 無損檢測(cè).多晶和非晶材料的X射線衍射.第2部分:程序
  • EN 13925-3:2005 無損檢驗(yàn).多晶和非晶材料的X射線衍射.第3部分:儀器
  • EN 13925-1:2003 無損檢驗(yàn).多晶體材料和無定形材料的X射線衍射.第1部分:一般原理
  • CEN/TR 10354:2011 黑色金屬材料化學(xué)分析 硅鐵分析 X射線熒光光譜法測(cè)定硅和鋁
  • EN 12698-2:2007 氮化物結(jié)合碳化硅耐火材料的化學(xué)分析.第2部分:X射線衍射(XRD)法
  • PD CEN/TR 10354:2011 黑色金屬材料的化學(xué)分析 硅鐵的分析 X射線熒光光譜法測(cè)定硅和鋁
  • EN 15305:2008 無損檢驗(yàn).使用X射線衍射分析剩余應(yīng)力的試驗(yàn)方法.合并勘誤表-2009年1月
  • EN 10315:2006 使用臨近技術(shù)用X射線熒光光譜法(XRF)分析高合金鋼的常規(guī)法
  • EN ISO 21587-2:2007 硅酸鋁耐火材料的化學(xué)分析(可選擇X射線熒光法).第2部分:濕化學(xué)分析［代替:CEN EN 955-2］

丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • DS/EN 13925-2:2003 無損檢測(cè) 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第2部分：程序
  • DS/EN 13925-3:2005 無損檢測(cè) 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第3部分：儀器
  • DS/EN 13925-1:2003 無損檢測(cè) 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第1部分：一般原則
  • DS/EN 15305/AC:2009 無損檢測(cè) 用 X 射線衍射分析殘余應(yīng)力的試驗(yàn)方法
  • DS/EN 15305:2008 無損檢測(cè) 用 X 射線衍射分析殘余應(yīng)力的試驗(yàn)方法
  • DS/CEN/TR 10354:2012 黑色金屬材料的化學(xué)分析 硅鐵分析 X射線熒光光譜法測(cè)定Si和Al
  • DS/EN ISO 21587-2:2007 鋁硅酸鹽耐火制品的化學(xué)分析（替代 X 射線熒光法）第2部分：濕化學(xué)分析
  • DS/EN ISO 12677:2011 通過 X 射線熒光（XRF）對(duì)耐火產(chǎn)品進(jìn)行化學(xué)分析 熔鑄珠法
  • DS/ISO/TS 10798:2011 納米技術(shù) 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析法表征單壁碳納米管
  • DS/EN ISO 10058-2:2009 菱鎂礦和白云石耐火制品的化學(xué)分析（替代 X 射線熒光法） 第2部分：濕化學(xué)分析
  • DS/EN ISO 20565-2:2009 含鉻耐火制品和含鉻原材料的化學(xué)分析（替代 X 射線熒光法） 第2部分：濕化學(xué)分析

立陶宛標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • LST EN 13925-3-2005 無損檢測(cè) 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第3部分：儀器
  • LST EN 13925-2-2004 無損檢測(cè) 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第2部分：程序
  • LST EN 13925-1-2004 無損檢測(cè) 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第1部分：一般原則
  • LST EN 15305-2008 無損檢測(cè) 用 X 射線衍射分析殘余應(yīng)力的試驗(yàn)方法
  • LST EN 15305-2008/AC-2009 無損檢測(cè) 用 X 射線衍射分析殘余應(yīng)力的試驗(yàn)方法
  • LST EN ISO 21587-2:2007 鋁硅酸鹽耐火制品的化學(xué)分析（替代 X 射線熒光法） 第2部分：濕化學(xué)分析（ISO 21587-2:2007）
  • LST EN ISO 12677:2012 通過 X 射線熒光（XRF）對(duì)耐火產(chǎn)品進(jìn)行化學(xué)分析 熔鑄珠法（ISO 12677:2011）

AENOR，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • UNE-EN 13925-2:2004 無損檢測(cè) 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第2部分：程序
  • UNE-EN 13925-3:2006 無損檢測(cè) 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第3部分：儀器
  • UNE-EN 13925-1:2006 無損檢測(cè) 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第1部分：一般原則
  • UNE-EN 1330-11:2008 無損檢測(cè) 術(shù)語 第11部分：多晶和非晶材料的 X 射線衍射中使用的術(shù)語
  • UNE-EN 15305:2010 無損檢測(cè) 用 X 射線衍射分析殘余應(yīng)力的試驗(yàn)方法
  • UNE-EN ISO 21587-2:2008 鋁硅酸鹽耐火制品的化學(xué)分析（替代 X 射線熒光法） 第2部分：濕化學(xué)分析（ISO 21587-2:2007）
  • UNE-EN ISO 12677:2012 通過 X 射線熒光（XRF）對(duì)耐火產(chǎn)品進(jìn)行化學(xué)分析 熔鑄珠法（ISO 12677:2011）

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-能源，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • NB/SH/T 6015-2020 ZSM-23分子篩晶胞參數(shù)的測(cè)定 X-射線衍射法
  • NB/SH/T 6033-2021 ZSM—22分子篩晶胞參數(shù)的測(cè)定 X射線衍射法
  • NB/SH/T 6024-2021 ZSM—5分子篩相對(duì)結(jié)晶度的測(cè)定 X射線衍射法
  • NB/SH/T 0339-2021 八面沸石分子篩晶胞參數(shù)的測(cè)定 X射線衍射法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電力，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • DL/T 1151.22-2012 火力發(fā)電廠垢和腐蝕產(chǎn)物分析方法.第22部分：X-射線熒光光譜和X-射線衍射分析

美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • ANSI N43.2-2001 X射線衍射和熒光分析設(shè)備的輻射安全
  • ANSI/ASTM D6247:1998 通過X射線熒光光譜法對(duì)聚烯烴中元素含量分析的試驗(yàn)方法

國(guó)際電工委員會(huì)，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • IEC 62495:2011 核監(jiān)測(cè)儀表.利用微型X-射線管的便攜式X-射線熒光分析設(shè)備

衛(wèi)生部國(guó)家職業(yè)衛(wèi)生標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • GBZ 115-2002 X射線衍射和熒光分析儀衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 36017-2018 無損檢測(cè)儀器 X射線熒光分析管
  • GB/T 22571-2017 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)
  • GB/T 35734-2017 便攜式管激發(fā)X射線熒光分析儀 分類、安全要求及其試驗(yàn)
  • GB/T 33502-2017 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜（XPS）數(shù)據(jù)記錄與報(bào)告的規(guī)范要求

臺(tái)灣地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

廣東省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-有色金屬，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • YS/T 273.14-2008 冰晶石化學(xué)分析方法和物理性能測(cè)定方法 14部分:X射線熒光光譜分析法測(cè)定元素含量
  • YS/T 273.11-2006 冰晶石化學(xué)分析方法和物理性能測(cè)定方法.第11部分：x射線熒光光譜分析法測(cè)定硫含量
  • YS/T 869-2013 4A沸石化學(xué)成分分析方法 X射線熒光法
  • YS/T 273.15-2012 冰晶石化學(xué)分析方法和物理性能測(cè)定方法 第15部分：X射線熒光光譜分析（壓片）法測(cè)定元素含量
  • YS/T 483-2005 銅及銅合金分析方法 X射線熒光光譜法 (波長(zhǎng)色散型)
  • YS/T 703-2014 石灰石化學(xué)分析方法 元素含量的測(cè)定 X射線熒光光譜法
  • YS/T 575.23-2009 鋁土礦石化學(xué)分析方法.第23部分:X射線熒光光譜法測(cè)定元素含量

美國(guó)電氣電子工程師學(xué)會(huì)，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • IEEE 759-1984 半導(dǎo)體X射線能譜分析器的試驗(yàn)程序

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-地質(zhì)，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • DZ/T 0370-2021 便攜式X射線熒光現(xiàn)場(chǎng)分析技術(shù)規(guī)程

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-石油，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • SY/T 5163-1995 沉積巖粘土礦物相對(duì)含量X射線衍射分析方法
  • SY/T 5163-2010 沉積巖中黏土礦物和常見非黏土礦物X射線衍射分析方法
  • SY/T 6210-1996 沉積巖中粘土礦物總量和常見非粘土礦物X射線衍射定量分析方法

未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

IN-BIS，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • IS 12803-1989 X射線熒光光譜儀分析水硬性水泥的方法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-海關(guān)，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • HS/T 12-2006 滑石、綠泥石、菱鎂石混合相的定量分析 X 射線衍射儀法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-商品檢驗(yàn)，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • SN/T 2079-2008 不銹鋼及合金鋼分析方法X-射線熒光光譜法

ES-UNE，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • UNE 53934:2016 塑料 X 射線熒光法分析聚合物材料中的元素
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工業(yè)和信息化部/國(guó)家能源局，關(guān)于單晶x-射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

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  • DB37/T 266-1999 建材產(chǎn)品中廢渣摻加量的測(cè)定方法 X射線熒光分析法

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  • HG/T 6150-2023 潤(rùn)滑油加氫異構(gòu)催化劑化學(xué)成分分析方法 X射線熒光光譜法

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