鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)

本專題涉及鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)有100條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)涉及到長度和角度測(cè)量、表面處理和鍍涂、化工設(shè)備、工業(yè)自動(dòng)化系統(tǒng)、建筑材料、涂料和清漆、分析化學(xué)。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)涉及到Ｘ射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器、材料防護(hù)、長度計(jì)量、、紡織檢測(cè)儀器、機(jī)械量儀表、自動(dòng)秤重裝置與其他檢測(cè)儀表、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、化工專用儀器儀表、稀有金屬及其合金分析方法、電容器、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器。

國家計(jì)量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• JJF 1306-2011 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀校準(zhǔn)規(guī)范
• JJF 1224-2009 鋼筋保護(hù)層、樓板厚度測(cè)量儀校準(zhǔn)規(guī)范
• JJF 1126-2004 超聲波測(cè)厚儀校準(zhǔn)規(guī)范
• JJF 1965-2022 錫膏厚度測(cè)量儀校準(zhǔn)規(guī)范
• JJF 1707-2018 電解式(庫侖)測(cè)厚儀校準(zhǔn)規(guī)范
• JJF(紡織)020-2010 織物厚度儀校準(zhǔn)規(guī)范
• JJF(紡織) 020-2010 織物厚度儀校準(zhǔn)規(guī)范
• JJF 1488-2014 橡膠、塑料薄膜測(cè)厚儀校準(zhǔn)規(guī)范
• JJF 1100-2016 平面等厚干涉儀校準(zhǔn)規(guī)范
• JJF 1100-2003 平面等厚干涉儀校準(zhǔn)規(guī)范
• JJF 1613-2017 掠入射X射線反射膜厚測(cè)量儀器校準(zhǔn)規(guī)范
• JJF(建材) 159-2019 建筑玻璃光學(xué)法則厚儀校準(zhǔn)規(guī)范
• JJF(紡織)101-2021 杠桿式土工合成材料厚度儀校準(zhǔn)規(guī)范
• JJF(紡織) 101-2021 杠桿式土工合成材料厚度儀校準(zhǔn)規(guī)范
• JJF 1712-2018 薄層色譜掃描儀校準(zhǔn)規(guī)范

法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• NF A91-114:1995 金屬鍍層.鍍層厚度的測(cè)量.表面光度儀法
• NF A91-116*NF EN ISO 3497:2001 金屬鍍層.鍍層厚度的測(cè)定.X射線光譜法
• NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 金屬鍍層 鍍層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡法
• NF A91-110:1995 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測(cè)定.顯微鏡法
• NF A91-110*NF EN ISO 1463:2021 金屬和氧化物鍍層. 鍍層厚度的測(cè)量. 顯微鏡法
• NF A91-110:2004 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測(cè)量.顯微鏡法
• NF A91-108:1995 金屬鍍層.鍍層厚度的測(cè)量.掃描電子顯微鏡法
• XP T30-129*XP CEN ISO/TS 19397:2018 使用超聲波測(cè)厚儀測(cè)定涂層的膜厚
• NF A91-111:1995 金屬鍍層.鍍層厚度的測(cè)量.陽極分解的電量計(jì)法
• NF A91-112:1995 磁性基體的非磁性鍍層.鍍層厚度的測(cè)量.磁性法

ZA-SANS，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• SANS 4518:1980 金屬鍍層．鍍層厚度的測(cè)量．表面光法度輪廓儀法
• SANS 3497:1990 金屬鍍層．鍍層厚度的測(cè)定．X射線光譜測(cè)定法
• SANS 4524-1:1985 金屬鍍層．鍍金合金電鍍層的試驗(yàn)方法．第1部分：鍍層厚度的測(cè)量
• SANS 2177:1986 金屬鍍層．鍍層厚度的測(cè)量．陽極分解的電量計(jì)法
• SANS 3497:2008 金屬鍍層.涂層厚度測(cè)量.X射線光譜法

歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• EN ISO 4518:2021 金屬鍍層.鍍層厚度的測(cè)量.表面光法度輪廓儀法
• EN ISO 4518:1995 金屬鍍層.鍍層厚度的測(cè)量.表面光法度輪廓儀法(ISO 4518-1990)
• EN ISO 1463:2021 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測(cè)定.顯微鏡法
• EN ISO 1463:1994 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測(cè)定.顯微鏡法
• EN ISO 1463:2004 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測(cè)定.顯微鏡法 ISO 1463-2003

韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• KS D ISO 4519:2009 金屬鍍層.鍍層厚度的測(cè)量.表面光法度輪廓儀法
• KS D 8544-2016 金屬鍍層鍍層厚度測(cè)量鍍層透射電鏡法
• KS D ISO 4518-2012(2022) 金屬鍍層鍍層厚度的測(cè)量輪廓法
• KS D ISO 3497-2002(2022) 金屬鍍層鍍層厚度的測(cè)量X射線光譜法
• KS D ISO 3497:2002 金屬鍍層.鍍層厚度的測(cè)量.X射線光譜測(cè)定法
• KS D 0246-2021 金屬鍍層厚度測(cè)試方法
• KS D ISO 9220-2009(2022) 金屬鍍層鍍層厚度的測(cè)量掃描電子顯微鏡法
• KS D 8519-2009 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測(cè)定.顯微鏡法
• KS D ISO 9220-2009(2017) 金屬鍍層鍍層厚度的測(cè)量掃描電子顯微鏡法
• KS D ISO 3868:2002 金屬鍍層和其他無機(jī)物涂層.涂層厚度的測(cè)量.菲索(Fizeau)多光束干涉儀法
• KS D ISO 2178:2002 磁性基質(zhì)的非磁性鍍層.鍍層厚度的測(cè)量.磁性法

IN-BIS，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• IS 12434-1988 涂層/鍍層厚度測(cè)試儀規(guī)范 破壞性類型

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-化工，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• HG/T 3240~3241-2007 電腦膜層測(cè)厚儀 電腦內(nèi)孔膜層測(cè)厚儀
• HG/T 3240-2007 電腦膜層測(cè)厚儀
• HG/T 3241-2007 電腦內(nèi)孔膜層測(cè)厚儀

中國團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• T/CMA HG100-2023 超聲波測(cè)厚儀用標(biāo)準(zhǔn)圓管校準(zhǔn)方法
• T/CAMS 127-2023 電纜絕緣層厚度測(cè)量儀

FI-SFS，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• SFS 4071-1977 金屬鍍層．鉻鍍層的厚度測(cè)定．點(diǎn)測(cè)法

丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• DS/ISO 4518:2021 金屬鍍層 鍍層厚度的測(cè)量 輪廓法
• DS/ISO 1463:1983 金屬和氧化物鍍層. 鍍層厚度的測(cè)定. 顯微鏡法
• DS/EN ISO 9220:1995 金屬鍍層 鍍層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡法
• DS/ISO 2178:1983 磁性基質(zhì)的非磁性鍍層. 鍍層厚度的測(cè)量. 磁性法
• DS/ISO 2177:1986 金屬鍍層. 鍍層厚度的測(cè)量. 陽極分解的電量計(jì)法

美國機(jī)械工程師協(xié)會(huì)，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• ASME B1.25-2019 螺紋測(cè)厚儀校準(zhǔn)中的測(cè)量不確定因素

美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• ASTM B244-09 渦流儀器測(cè)量鋁陽極鍍層及其它非磁性基底金屬絕緣鍍層的厚度標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
• ASTM B244-09(2021) 渦流儀器測(cè)量鋁陽極鍍層及其它非磁性基底金屬絕緣鍍層的厚度標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
• ASTM B244-09(2014) 渦流儀器測(cè)量鋁陽極鍍層及其它非磁性基底金屬絕緣鍍層的厚度標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
• ASTM B244-97 用渦流儀器測(cè)量鋁陽極鍍層及其它非磁性基底金屬絕緣鍍層的厚度標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
• ASTM B244-97(2002) 用渦流儀器測(cè)量鋁陽極鍍層及其它非磁性基底金屬絕緣鍍層的厚度標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
• ASTM B504-90(2023) 用庫侖法測(cè)量金屬鍍層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• DIN EN ISO 4518 E:2020-06 金屬鍍層 鍍層厚度的測(cè)量 外形測(cè)定法（草案）

德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• DIN EN ISO 3497:2001 金屬鍍層.鍍層厚度測(cè)量.X射線光譜測(cè)定法
• DIN CEN ISO/TS 19397:2018-05*DIN SPEC 55661:2018-05 使用超聲波測(cè)厚儀測(cè)定涂層膜厚
• DIN EN ISO 1463:2004 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測(cè)定.顯微鏡法

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• ISO 3497:1990 金屬鍍層.鍍層厚度的測(cè)量.X射線光譜測(cè)定法
• ISO 1463:1982 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測(cè)定.顯微鏡法
• ISO 1463:1973 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測(cè)定.顯微鏡法
• ISO/CD 19397:2023 使用超聲波測(cè)厚儀測(cè)定涂層的膜厚
• ISO 3868:1976 金屬和其他無機(jī)覆蓋層 鍍層厚度的測(cè)量 裴索多光束干涉儀法
• ISO 2177:1985 金屬鍍層.鍍層厚度的測(cè)量.陽極分解的電量計(jì)法

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• BS EN ISO 9220:1989 金屬鍍層.鍍層厚度測(cè)量.掃描電子顯微鏡法
• PD CEN ISO/TS 19397:2018 使用超聲波測(cè)厚儀測(cè)定涂層的膜厚

(美國)福特汽車標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• FORD FLTM BQ 003-05-2000 黑鉻鍍層的厚度的測(cè)定

NO-SN，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• NS 1182-1979 金屬鍍層 鍍層厚度的測(cè)量 陽極溶液庫侖法

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• JIS H 8401:1999 噴鍍覆層的厚度測(cè)量方法
• JIS H 8501:1988 鍍層厚度試驗(yàn)方法

YU-JUS，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• JUS C.A6.031-1990 金屬和氧化物鍍層．鍍層厚度的測(cè)定．顯微鏡法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• SJ 20129-1992 金屬鍍覆層厚度測(cè)量方法

ECIA - Electronic Components Industry Association，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• CB-13-1990 X 射線熒光測(cè)量鍍層厚度

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-航天，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• QJ 478-1990 金屬鍍覆層厚度測(cè)量方法

CEN - European Committee for Standardization，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• CEN ISO/TS 19397:2018 使用超聲波測(cè)厚儀測(cè)定涂層的膜厚

GSO，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• GSO ISO/TS 19397:2021 使用超聲波測(cè)厚儀測(cè)定涂層的膜厚
• BH GSO ISO/TS 19397:2022 使用超聲波測(cè)厚儀測(cè)定涂層的膜厚

美國保護(hù)涂層協(xié)會(huì)，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• SSPC PA 9-2015 使用超聲波測(cè)厚儀測(cè)量干涂層厚度

SCC，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• BS PD CEN ISO/TS 19397:2018 使用超聲波測(cè)厚儀測(cè)定涂層的膜厚
• UNE 112031-1:1994 金屬鍍層 電沉積金和合金鍍層的試驗(yàn)方法 第1部分：鍍層厚度的測(cè)定

SSPC - The Society for Protective Coatings，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• PA 9-2015 使用超聲波測(cè)厚儀測(cè)量干涂層厚度

PL-PKN，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• PN C81515-1974 油漆．非破壞鍍層厚度的測(cè)量

VN-TCVN，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• TCVN 5878-2007 磁性基質(zhì)的非磁性鍍層.鍍層厚度的測(cè)量.磁性法

美國電子元器件、組件及材料協(xié)會(huì)，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• ECA CB-13-1990 鍍層厚度測(cè)定的X射線熒光

臺(tái)灣地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• CNS 4830-1979 鎘電鍍層滴定式厚度測(cè)定法
• CNS 4829-1979 鋅電鍍層滴定式厚度測(cè)定法
• CNS 4161-1987 金屬鍍層用電解式厚度測(cè)定法

工業(yè)和信息化部/國家能源局，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• JB/T 12962.3-2016 能量色散X射線熒光光譜儀 第3部分：鍍層厚度分析儀

立陶宛標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)

• LST EN ISO 9220:2001 金屬鍍層-鍍層厚度的測(cè)量-掃描電子顯微鏡法（ISO 9220:1988）

本站其他標(biāo)準(zhǔn)專題： 鍍層測(cè)厚儀校準(zhǔn)，鍍層測(cè)厚儀 校準(zhǔn)，鍍層測(cè)厚儀校準(zhǔn)片，鍍層測(cè)厚儀的校準(zhǔn)，鍍層測(cè)厚儀，鍍層 測(cè)厚儀，測(cè)厚儀校準(zhǔn)，測(cè)厚儀 校準(zhǔn)，熒光 鍍層測(cè)厚儀，凃鍍層測(cè)厚儀，熒光鍍層測(cè)厚儀，鍍層測(cè)厚儀器，新型鍍層測(cè)厚儀，新款鍍層測(cè)厚儀，x熒光鍍層測(cè)厚儀，x射線 鍍層測(cè)厚儀，x射線鍍層測(cè)厚儀，測(cè)厚儀校準(zhǔn)片，測(cè)厚儀 校準(zhǔn)片，測(cè)厚儀怎么校準(zhǔn)。

 

可能用到的儀器設(shè)備