納米材料 晶粒

本專題涉及納米材料 晶粒的標(biāo)準(zhǔn)有2條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，納米材料 晶粒涉及到無損檢測。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，納米材料 晶粒涉及到Ｘ射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器。

國家質(zhì)檢總局，關(guān)于納米材料 晶粒的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 23413-2009 納米材料晶粒尺寸及微觀應(yīng)變的測定.X射線衍射線寬化法
• GB/T 23413-2009 納米材料晶粒尺寸及微觀應(yīng)變的測定.X射線衍射線寬化法

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可能用到的儀器設(shè)備