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電子雙束顯微電鏡

本專(zhuān)題涉及電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)有385條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，電子雙束顯微電鏡涉及到詞匯、分析化學(xué)、焊接、釬焊和低溫焊、光學(xué)設(shè)備、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、電子顯示器件、計(jì)量學(xué)和測(cè)量綜合、建筑材料、空氣質(zhì)量、教育、電子元器件組件、表面處理和鍍涂、金屬的腐蝕、光電子學(xué)、激光設(shè)備、電子元器件綜合、金屬材料試驗(yàn)、長(zhǎng)度和角度測(cè)量、熱力學(xué)和溫度測(cè)量、犯罪行為防范、試驗(yàn)條件和規(guī)程綜合、技術(shù)制圖、復(fù)合增強(qiáng)材料、橡膠和塑料用原料、物理學(xué)、化學(xué)、鋼鐵產(chǎn)品、陶瓷、涂料和清漆。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，電子雙束顯微電鏡涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、放大鏡與顯微鏡、技術(shù)管理、記錄儀器及光線(xiàn)示波器、光學(xué)設(shè)備、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、化學(xué)試劑綜合、物理學(xué)與力學(xué)、、計(jì)量綜合、電磁計(jì)量、教育、學(xué)位、學(xué)銜、化學(xué)計(jì)量、檢驗(yàn)專(zhuān)用設(shè)備、教學(xué)專(zhuān)用儀器、電子元件綜合、溫度與壓力儀表、材料防護(hù)、石油地質(zhì)勘探、石油勘探、開(kāi)發(fā)與集輸工程綜合、半導(dǎo)體發(fā)光器件、稀有金屬及其合金分析方法、金相檢驗(yàn)方法、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、犯罪鑒定技術(shù)、公共醫(yī)療設(shè)備、金屬化學(xué)分析方法綜合、油頁(yè)巖、混凝土、集料、灰漿、砂漿、氣體介質(zhì)與放射性物質(zhì)采樣方法、大氣環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法、物質(zhì)成份分析儀器與環(huán)境監(jiān)測(cè)儀器、醫(yī)用光學(xué)儀器設(shè)備與內(nèi)窺鏡、鋼鐵與鐵合金分析方法、火工產(chǎn)品、炭黑、大氣、水、土壤環(huán)境質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)、光學(xué)儀器綜合、化學(xué)、工業(yè)防塵防毒技術(shù)、光學(xué)計(jì)量、特種陶瓷。


韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

KR-KS，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • KS D ISO 22493-2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
  • KS D ISO 16700-2023 微束分析掃描電子顯微鏡圖像放大率校準(zhǔn)指南
  • KS D ISO 23833-2022 微束分析.電子探針顯微分析（EPMA）.詞匯
  • KS D 2716-2023 納米顆粒直徑的測(cè)量-透射電子顯微鏡
  • KS D ISO TR 17270-2007 微束分析－分析透射電子顯微術(shù)－電子能量損失譜學(xué)實(shí)驗(yàn)參數(shù)測(cè)定技術(shù)報(bào)告
  • KS D ISO 15632-2023 微束分析.與掃描電子顯微鏡（SEM）或電子探針微量分析儀（EPMA）一起使用的能量色散X射線(xiàn)光譜儀（EDS）的規(guī)范和檢查所選儀器性能參數(shù)
  • KS C ISO 19749-2023 納米技術(shù)——用掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
  • KS C ISO 21363-2023 納米技術(shù)——用透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布

法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • NF ISO 15932:2014 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
  • NF X21-005:2006 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南
  • XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 微束分析 掃描電子顯微鏡 評(píng)價(jià)圖像清晰度的方法
  • XP ISO/TS 24597:2011 微束分析 - 掃描電子顯微鏡 - 評(píng)估圖像清晰度的方法
  • NF X21-016*NF ISO 15932:2014 微束分析 分析電子顯微術(shù) 詞匯
  • NF X21-010:2009 微光束分析.掃描電子顯微術(shù).詞匯
  • NF A91-108:1995 金屬鍍層.鍍層厚度的測(cè)量.掃描電子顯微鏡法
  • NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 金屬鍍層 鍍層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡法
  • NF EN ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測(cè)量.掃描電子顯微鏡法
  • FD T16-209:2012 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
  • NF T16-404:2020 納米技術(shù). 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量粒度和形狀分布
  • NF T16-403*NF ISO 19749:2021 納米技術(shù) 通過(guò)掃描電子顯微鏡測(cè)量粒徑和形狀分布
  • NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量粒徑和形狀分布
  • NF T25-111-4:1991 碳纖維-織構(gòu)和結(jié)構(gòu)-第4部分：掃描電子顯微鏡斷口法
  • NF ISO 13794:2020 環(huán)境空氣 石棉纖維測(cè)定 間接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法
  • NF ISO 10312:2020 環(huán)境空氣 石棉纖維的測(cè)定 直接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法
  • NF X21-007:2008 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線(xiàn)法測(cè)定鋼中碳含量的指南
  • NF X43-050:2021 空氣質(zhì)量 用透射電子顯微鏡法測(cè)定石棉纖維濃度 間接法
  • NF EN ISO 19749:2023 納米技術(shù) - 通過(guò)掃描電子顯微鏡測(cè)定顆粒尺寸和形狀分布
  • NF EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) - 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)定顆粒尺寸和形狀分布
  • NF X43-050:1996 空氣質(zhì)量.用電子顯微鏡傳送法測(cè)定石棉纖維的密度.間接法
  • NF X21-003:2006 微光束分析.電子探針顯微分析.波長(zhǎng)分布X射線(xiàn)光譜測(cè)量法定量分析指南

GSO，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • BH GSO ISO 15932:2017 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
  • BH GSO ISO 22493:2017 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
  • OS GSO ISO 15932:2015 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
  • GSO ISO 22493:2015 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
  • BH GSO ISO 25498:2017 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
  • OS GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
  • GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析掃描電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
  • GSO ISO/TS 24597:2013 微束分析 掃描電子顯微鏡 圖像清晰度評(píng)價(jià)方法
  • OS GSO ISO/TS 24597:2013 微束分析 掃描電子顯微鏡 評(píng)估圖像清晰度的方法
  • GSO ISO 24639:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜法元素分析能級(jí)的校準(zhǔn)程序
  • GSO ISO 15932:2015 微量分析 分析電子顯微鏡 詞匯
  • GSO ISO 9220:2013 金屬涂層 涂層厚度測(cè)量 掃描電子顯微鏡法
  • GSO ISO 29301:2016 微束分析 分析透射電子顯微鏡 使用具有周期性結(jié)構(gòu)的參考材料校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法
  • BH GSO ISO 29301:2017 微束分析 分析透射電子顯微鏡 使用具有周期性結(jié)構(gòu)的參考材料校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法
  • OS GSO ISO 29301:2016 微束分析 分析透射電子顯微鏡 使用具有周期性結(jié)構(gòu)的參考材料校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法
  • GSO ISO 10312:2015 環(huán)境空氣石棉纖維的測(cè)定直接透射電子顯微鏡法
  • OS GSO ISO 10312:2015 環(huán)境空氣石棉纖維的測(cè)定直接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法
  • BH GSO ISO 10312:2017 環(huán)境空氣石棉纖維的測(cè)定直接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法
  • GSO ISO 13794:2024 環(huán)境空氣 石棉纖維的測(cè)定 間接傳輸透射電子顯微鏡法

SCC，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • BS ISO 22493:2008 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
  • 06/30128226 DC ISO 22493 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
  • 12/30245653 DC BS ISO 15932 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
  • 08/30138435 DC BS ISO 24597 微束分析 掃描電子顯微鏡 圖像清晰度評(píng)估方法
  • DANSK DS/ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度測(cè)量 掃描電子顯微鏡法
  • VDI 3866 BLATT 5-2017 工業(yè)產(chǎn)品中石棉的測(cè)定掃描電子顯微鏡法
  • BS EN ISO 9220:1995 金屬涂層 涂層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡法
  • DANSK DS/EN ISO 9220:1994 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 掃描電子顯微鏡法
  • AWWA JAW3027 期刊 AWWA 凝血機(jī)制：使用硫酸鋁的電子顯微鏡研究
  • DANSK DS/ISO/TS 10797:2012 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
  • BS PD ISO/TS 10797:2012 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
  • AWWA JAW6742 期刊 AWWA 通過(guò)透射電子顯微鏡分析水中的石棉纖維
  • AENOR UNE-EN ISO 9220:1996 金屬涂層 涂層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡法 (ISO 9220:1988)
  • NS-EN ISO 9220:1994 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 掃描電子顯微鏡法（ISO 9220:1988）
  • 09/30179503 DC BS ISO 29301 微束分析 分析透射電子顯微鏡 使用產(chǎn)生周期性衍射圖案的參考材料校準(zhǔn)圖像放大倍數(shù)的方法
  • DANSK DS/ISO 21363:2020 納米技術(shù) 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
  • AWWA ACE56156 使用平板掃描儀和掃描電子顯微鏡評(píng)估膜表面污染模式
  • DANSK DS/ISO 19749:2021 納米技術(shù) 通過(guò)掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
  • VDI 3861 BLATT 2-2008 測(cè)量排放物 測(cè)量流動(dòng)清潔氣體中的無(wú)機(jī)纖維顆粒 掃描電子顯微鏡法
  • DANSK DS/ISO/TS 22292:2021 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡重建棒狀納米物體的 3D 圖像
  • NS-EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量粒度和形狀分布（ISO 21363:2020）
  • DANSK DS/EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量粒度和形狀分布（ISO 21363:2020）
  • NS-EN ISO 19749:2023 納米技術(shù) 通過(guò)掃描電子顯微鏡測(cè)量粒度和形狀分布（ISO 19749:2021）
  • DANSK DS/EN ISO 19749:2023 納米技術(shù) 通過(guò)掃描電子顯微鏡測(cè)量粒度和形狀分布 (ISO 19749:2021)
  • DIN EN ISO 21363 E:2021 納米技術(shù) 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量粒度和形狀分布 (ISO 21363:2020) 草案
  • DIN EN ISO 19749 E:2022 納米技術(shù) 通過(guò)掃描電子顯微鏡測(cè)量粒度和形狀分布 (ISO 19749:2021) 草案
  • AWWA QTC98270 將原位粒子計(jì)數(shù)與掃描電子顯微鏡計(jì)數(shù)進(jìn)行匹配 用于處理設(shè)施過(guò)程控制

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測(cè)量用掃描電子顯微鏡的鑒定
  • ISO/CD 25498:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
  • ISO/DIS 25498:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
  • ISO 15932:2013 微光束分析.分析電子顯微鏡.詞匯
  • ISO 22493:2008 微光束分析.掃描電子顯微鏡方法.詞匯
  • ISO 16700:2004 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南
  • ISO 16700:2016 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南
  • ISO/CD 19214:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測(cè)定線(xiàn)狀晶體表觀生長(zhǎng)方向的方法
  • ISO 25498:2010 微光束分析.解析電子顯微測(cè)定法.透射式電子顯微鏡對(duì)選定區(qū)域進(jìn)行電子衍射分析
  • ISO 25498:2018 微光束分析.解析電子顯微測(cè)定法.透射式電子顯微鏡對(duì)選定區(qū)域進(jìn)行電子衍射分析
  • ISO 19214:2017 微束分析. 分析電子顯微術(shù). 采用透射電子顯微鏡術(shù)測(cè)定絲狀晶體顯著增長(zhǎng)方向的方法
  • ISO/TS 24597:2011 微光束分析.掃描電子顯微鏡檢查法.圖像清晰度評(píng)價(jià)法
  • ISO 21466:2019 微束分析.掃描電子顯微鏡.用CD-SEM評(píng)定臨界尺寸的方法
  • ISO 22493:2014 微束分析. 掃描電子顯微術(shù). 詞匯
  • ISO 23420:2021 微束分析.分析電子顯微鏡.電子能量損失譜分析用能量分辨率的測(cè)定方法
  • ISO 24639:2022 微束分析.分析電子顯微鏡.用電子能量損失光譜法進(jìn)行元素分析的能量標(biāo)度校準(zhǔn)程序
  • ISO/CD 20263:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 層狀材料橫截面圖像中界面位置的確定方法
  • ISO 20263:2017 微束分析 - 分析透射電子顯微鏡 - 分層材料橫截面圖像中界面位置的測(cè)定方法
  • ISO 29301:2017 微光束分析.分析電子顯微鏡法.具有周期性結(jié)構(gòu)的基準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)圖像放大的方法
  • ISO/FDIS 29301:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 使用具有周期性結(jié)構(gòu)的參考材料校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法
  • ISO 29301:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 使用具有周期性結(jié)構(gòu)的參考材料校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法
  • ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測(cè)量.掃描電子顯微鏡法
  • ISO 9220:1988 金屬覆蓋層 鍍層厚度測(cè)量 掃描電子顯微鏡法
  • ISO 29301:2010 微光束分析.分析的透射電子顯微鏡法.具有周期性結(jié)構(gòu)的基準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)圖像放大的方法
  • ISO 13794:1999 環(huán)境空氣 石棉纖維的測(cè)定 間接傳遞電子顯微鏡法
  • ISO 10312:1995 環(huán)境空氣 石棉纖維的測(cè)定 直接傳遞電子顯微鏡法
  • ISO 19463:2018 微光束分析.電子探針顯微分析儀（EPMA）.執(zhí)行質(zhì)量保證程序的指南
  • ISO 21363:2020 納米技術(shù) - 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)定粒度分布的方案
  • ISO 13794:2019 環(huán)境空氣 - 石棉纖維的測(cè)定 - 間接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法
  • ISO 10312:2019 環(huán)境空氣.石棉纖維的測(cè)定.直接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法
  • ISO 19749:2021 納米技術(shù).用掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
  • ISO 16592:2006 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線(xiàn)法測(cè)定鋼的碳含量的指南
  • ISO 16592:2012 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線(xiàn)法測(cè)定鋼的碳含量的指南
  • ISO/WD TR 23683:2023 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 使用電掃描探針顯微鏡對(duì)半導(dǎo)體器件中載流子濃度進(jìn)行實(shí)驗(yàn)量化的指南
  • ISO 23692:2021 微束分析.電子探針顯微分析.連續(xù)鑄鋼產(chǎn)品中Mn樹(shù)枝狀偏析的定量分析
  • ISO 14966:2019 環(huán)境空氣.無(wú)機(jī)纖維顆粒數(shù)值濃度的測(cè)定.掃描電子顯微鏡法
  • ISO 17470:2004 微光束分析.電子探針顯微分析.波長(zhǎng)分散X射線(xiàn)光譜法分析質(zhì)量點(diǎn)的指南
  • ISO/TS 10797:2012 納米技術(shù).利用透射電子顯微鏡法進(jìn)行單壁碳納米管特征探測(cè)
  • ISO/TS 22292:2021 納米技術(shù).用透射電子顯微鏡重建棒支撐納米物體的三維圖像
  • ISO 14966:2002 環(huán)境空氣.無(wú)機(jī)纖維顆粒的數(shù)值濃度的測(cè)定.掃描電子顯微鏡檢查法

英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • BS ISO 25498:2018 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
  • 24/30479937 DC BS ISO 25498 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
  • BS ISO 16700:2004 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.圖像放大校準(zhǔn)指南
  • 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 掃描電子顯微鏡 用于掃描電子顯微鏡（TIFF/SEM）的標(biāo)記圖像文件格式
  • 24/30474499 DC BS ISO 19214 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測(cè)定線(xiàn)狀晶體表觀生長(zhǎng)方向的方法
  • BS ISO 25498:2010 微光束分析.解析電子顯微測(cè)定法.透射式電子顯微鏡對(duì)選定區(qū)域進(jìn)行電子衍射分析
  • BS ISO 21466:2019 微束分析 掃描電子顯微鏡 CDSEM評(píng)估關(guān)鍵尺寸的方法
  • BS ISO 16700:2016 微束分析 掃描電子顯微鏡 校準(zhǔn)圖像放大率的指南
  • BS ISO 15932:2013 微束分析. 分析電子顯微術(shù). 詞匯
  • BS ISO 22493:2014 微束分析. 掃描電子顯微術(shù). 詞匯
  • BS ISO 23420:2021 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜分析能量分辨率的測(cè)定方法
  • BS ISO 24639:2022 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜元素分析能量標(biāo)度的校準(zhǔn)程序
  • 18/30344520 DC BS ISO 21466 微束分析 掃描電子顯微鏡 CD-SEM 評(píng)估關(guān)鍵尺寸的方法
  • 20/30380369 DC BS ISO 23420 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜分析能量分辨率的測(cè)定方法
  • 21/30404763 DC BS ISO 24639 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜元素分析能量標(biāo)度的校準(zhǔn)程序
  • BS ISO 20263:2017 微束分析 分析電子顯微鏡 層狀材料橫截面圖像中界面位置的確定方法
  • 24/30479444 DC BS ISO 20263 微束分析 分析電子顯微鏡 層狀材料橫截面圖像中界面位置的確定方法
  • BS EN ISO 9220:1989 金屬鍍層.鍍層厚度測(cè)量.掃描電子顯微鏡法
  • BS ISO 29301:2017 微束分析 分析電子顯微鏡 利用具有周期性結(jié)構(gòu)的參考材料校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法
  • BS ISO 29301:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 利用具有周期性結(jié)構(gòu)的參考材料校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法
  • BS EN ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡法
  • BS ISO 13794:1999 環(huán)境空氣.石棉纖維的測(cè)定.間接傳遞電子顯微鏡法
  • PD ISO/TS 10797:2012 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
  • 19/30394914 DC BS ISO 15632 微束分析 用于電子探針顯微鏡或電子探針微量分析儀(EPMA)的能量色散 X 射線(xiàn)光譜儀的規(guī)格和檢查的選定儀器性能參數(shù)
  • BS ISO 29301:2010 微光束分析.分析透射電子顯微鏡法.利用具有周期性結(jié)構(gòu)的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行標(biāo)定圖像放大的方法
  • 21/30394409 DC BS ENISO 9220 金屬涂層 涂層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡法
  • BS ISO 16592:2012 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線(xiàn)法測(cè)定鋼碳含量的指南
  • BS ISO 19749:2021 納米技術(shù) 用掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
  • 15/30292710 DC BS ISO 19214 透射電子顯微鏡測(cè)定線(xiàn)狀晶體生長(zhǎng)方向的指南
  • BS ISO 13794:2019 周?chē)諝?石棉纖維的測(cè)定 間接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法
  • BS ISO 10312:2019 周?chē)諝?石棉纖維的測(cè)定 直接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法
  • BS CECC 13:1985(1999) 電子元件質(zhì)量評(píng)估協(xié)調(diào)制度：基本規(guī)范：半導(dǎo)體芯片的掃描電子顯微鏡檢查
  • BS EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
  • BS EN ISO 19749:2023 納米技術(shù) 通過(guò)掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
  • BS ISO 21363:2020 納米技術(shù) 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
  • BS ISO 11938:2013 微束分析.電子探針顯微分析.使用波長(zhǎng)色散光譜對(duì)元素映射的分析方法
  • PD ISO/TS 22292:2021 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡重建棒狀納米物體的 3D 圖像
  • BS ISO 14966:2019 周?chē)諝?無(wú)機(jī)纖維顆粒數(shù)值濃度的測(cè)定 掃描電子顯微鏡法
  • BS PD ISO/TS 22292:2021 納米技術(shù) 利用透射電子顯微鏡重建桿支撐納米物體的三維圖像
  • 18/30351714 DC BS ISO 21363 納米技術(shù) 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
  • 18/30351679 DC BS ISO 19749 納米技術(shù) 通過(guò)掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
  • BS ISO 17470:2014 微束分析. 電子探針顯微分析. 采用波長(zhǎng)分散X射線(xiàn)光譜測(cè)定法的定性點(diǎn)分析指南
  • BS ISO 14966:2002 環(huán)境空氣.無(wú)機(jī)纖維顆粒的數(shù)值濃度的測(cè)定.掃描電子顯微鏡檢查法
  • 18/30375050 DC BS ISO 14966 環(huán)境空氣 無(wú)機(jī)纖維顆粒數(shù)值濃度的測(cè)定 掃描電子顯微鏡法

德國(guó)機(jī)械工程師協(xié)會(huì)，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 33834-2017 微束分析 掃描電子顯微術(shù) 生物試樣掃描電子顯微鏡分析方法
  • GB/T 33838-2017 微束分析 掃描電子顯微術(shù) 圖像銳度評(píng)估方法
  • GB/T 34331-2017 黃瓜綠斑駁花葉病毒透射電子顯微鏡檢測(cè)方法
  • GB/T 34168-2017 金、銀納米顆粒材料生物效應(yīng)的透射電子顯微鏡檢測(cè)方法
  • GB/T 34831-2017 納米技術(shù) 貴金屬納米顆粒電子顯微鏡成像 高角環(huán)形暗場(chǎng)法
  • GB/T 34002-2017 微束分析 透射電子顯微術(shù) 用周期結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法

國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 18907-2013 微束分析 分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法
  • GB/T 23414-2009 微束分析.掃描電子顯微術(shù).術(shù)語(yǔ)
  • GB/T 21636-2008 微束分析.電子探針顯微分析(EPMA)術(shù)語(yǔ)
  • GB 7667-1996 電子顯微鏡X射線(xiàn)泄漏劑量
  • GB 7667-2003 電子顯微鏡X射線(xiàn)泄漏劑量
  • GB/T 18907-2002 透射電子顯微鏡選區(qū)電子衍射分析方法
  • GB/T 17361-2013 微束分析 沉積巖中自生粘土礦物鑒定 掃描電子顯微鏡及能譜儀方法
  • GB/T 43610-2023 微束分析 分析電子顯微術(shù) 線(xiàn)狀晶體表觀生長(zhǎng)方向的透射電子顯微術(shù)測(cè)定方法
  • GB/T 32055-2015 微束分析 電子探針顯微分析 波譜法元素面分析
  • GB/T 21638-2008 鋼鐵材料缺陷電子束顯微分析方法通則
  • GB/T 21637-2008 冠狀病毒透射電子顯微鏡形態(tài)學(xué)鑒定方法
  • GB/T 30705-2014 微束分析 電子探針顯微分析 波譜法實(shí)驗(yàn)參數(shù)測(cè)定導(dǎo)則
  • GB/T 18295-2001 油氣儲(chǔ)層砂巖樣品 掃描電子顯微鏡分析方法
  • GB/T 28634-2012 微束分析.電子探針顯微分析.塊狀試樣波譜法定量點(diǎn)分析
  • GB/T 43889-2024 微束分析 電子探針顯微分析儀（EPMA）質(zhì)量保證程序?qū)嵤?dǎo)則
  • GB/T 15247-2008 微束分析.電子探針顯微分析.測(cè)定鋼中碳含量的校正曲線(xiàn)法
  • GB/T 19267.6-2003 刑事技術(shù)微量物證的理化檢驗(yàn) 第6部分;掃描電子顯微鏡法
  • GB/T 43748-2024 微束分析 透射電子顯微術(shù) 集成電路芯片中功能薄膜層厚度的測(cè)定方法
  • GB/T 43749-2024 微束分析 電子探針顯微分析 無(wú)水碳酸鹽礦物的定量分析方法
  • GB/T 43883-2024 微束分析 分析電子顯微術(shù) 金屬中納米顆粒數(shù)密度的測(cè)定方法
  • GB/T 28044-2011 納米材料生物效應(yīng)的透射電子顯微鏡檢測(cè)方法通則
  • GB/T 43088-2023 微束分析 分析電子顯微術(shù) 金屬薄晶體試樣中位錯(cuò)密度的測(cè)定方法
  • GB/T 43087-2023 微束分析 分析電子顯微術(shù) 層狀材料截面像中界面位置的確定方法
  • GB/T 17507-1998 電子顯微鏡X射線(xiàn)能譜分析生物薄標(biāo)樣通用技術(shù)條件
  • GB/T 20726-2015 微束分析 電子探針顯微分析X射線(xiàn)能譜儀主要性能參數(shù)及核查方法
  • GB/T 18873-2002 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線(xiàn) 能譜定量分析通則
  • GB/T 18873-2008 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線(xiàn)能譜定量分析通則
  • GB/Z 21738-2008 一維納米材料的基本結(jié)構(gòu).高分辨透射電子顯微鏡檢測(cè)方法
  • GB/T 19267.6-2008 刑事技術(shù)微量物證的理化檢驗(yàn) 第6部分:掃描電子顯微鏡/X射線(xiàn)能譜法
  • GB/T 17507-2008 透射電子顯微鏡X射線(xiàn)能譜分析生物薄標(biāo)樣的通用技術(shù)條件
  • GB/T 28873-2012 納米顆粒生物形貌效應(yīng)的環(huán)境掃描電子顯微鏡檢測(cè)方法通則
  • GB/T 34831-2017(英文版) 納米技術(shù) 貴金屬納米粒子的電子顯微鏡成像 高角度環(huán)形暗場(chǎng)成像方法
  • GB/T 17361-1998 沉積巖中自生粘土礦物掃描電子顯微鏡及X射線(xiàn)能譜鑒定方法

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 35098-2018 微束分析 透射電子顯微術(shù) 植物病毒形態(tài)學(xué)的透射電子顯微鏡鑒定方法
  • GB/T 40300-2021 微束分析 分析電子顯微學(xué) 術(shù)語(yǔ)
  • GB/T 21636-2021 微束分析 電子探針顯微分析（EPMA） 術(shù)語(yǔ)
  • GB/T 4930-2021 微束分析 電子探針顯微分析 標(biāo)準(zhǔn)樣品技術(shù)條件導(dǎo)則
  • GB/T 35099-2018 微束分析 掃描電鏡-能譜法 大氣細(xì)粒子單顆粒形貌與元素分析

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • ASTM E986-97 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E986-04(2017) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E986-04(2024) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E986-04 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM E986-04(2010) 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM E766-98(2003) 校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)
  • ASTM E766-98 校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)
  • ASTM B651-83(2001) 用雙束干涉顯微鏡測(cè)量鎳+鉻或銅+鎳+鉻電鍍表面腐蝕部位的試驗(yàn)方法
  • ASTM B651-83(1995) 用雙束干涉顯微鏡測(cè)量鎳+鉻或銅+鎳+鉻電鍍表面腐蝕部位的試驗(yàn)方法
  • ASTM B651-83(2006) 用雙束干涉顯微鏡測(cè)量鎳+鉻或銅+鎳+鉻電鍍表面腐蝕部位的試驗(yàn)方法
  • ASTM B651-83(2015) 用雙束干涉顯微鏡測(cè)量鎳+鉻或銅+鎳+鉻電鍍表面腐蝕部位的試驗(yàn)方法
  • ASTM B651-83(2010) 雙束干涉顯微鏡測(cè)量鎳+鉻或銅+鎳+鉻電鍍表面腐蝕部位的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E2090-00 利用光電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡對(duì)清潔室擦刷工具釋放粒子和纖維的尺寸差異計(jì)數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E2090-12 利用光電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡對(duì)清潔室擦刷工具釋放粒子和纖維的尺寸差異計(jì)數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E766-14 掃描電子顯微鏡放大倍率校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)方法
  • ASTM E3143-18a 脂質(zhì)體低溫透射電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM E3143-18 脂質(zhì)體低溫透射電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM E766-98(2008)e1 掃描電子顯微鏡的放大系數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)校正規(guī)范
  • ASTM E3143-18b 脂質(zhì)體低溫透射電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM B651-83(2019) 使用雙光束干涉顯微鏡的鎳加鉻或銅鎳鎳鉻電鍍表面腐蝕點(diǎn)測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM B651-83(2024) 用雙光束干涉顯微鏡測(cè)量鎳加鉻或銅加鎳加鉻電鍍表面腐蝕部位的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM C1723-16(2022) 用掃描電子顯微鏡檢查硬化混凝土的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM C1723-10 用掃描電子顯微鏡檢驗(yàn)硬化混凝土的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM C1723-16 用掃描電子顯微鏡檢查硬化混凝土的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM D3849-13 用電子顯微鏡對(duì)碳黑形態(tài)特性的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D3849-14 用電子顯微鏡對(duì)碳黑形態(tài)特性的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D3849-95a(2000) 用電子顯微鏡測(cè)定炭黑形態(tài)特征的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D3849-07 用電子顯微鏡測(cè)定炭黑形態(tài)特征的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E766-14(2019) 校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM D3849-22 用電子顯微鏡測(cè)定炭黑形態(tài)特征的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E3143-18b(2023) 進(jìn)行脂質(zhì)體冷凍透射電子顯微鏡檢查的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E766-14e1 用于校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM D3849-02 炭黑的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法.用電子顯微鏡分析炭黑的形態(tài)特征
  • ASTM D3849-04 炭黑的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法.用電子顯微鏡分析炭黑的形態(tài)特征
  • ASTM B748-90(1997) 用掃描電子顯微鏡測(cè)量橫截面測(cè)定金屬涂層厚度的方法
  • ASTM B748-90(2006) 用掃描電子顯微鏡測(cè)量橫截面測(cè)定金屬涂層厚度的方法
  • ASTM D7201-06(2020) 通過(guò)相位對(duì)比顯微鏡（帶有透射電子顯微鏡選項(xiàng)）在工作場(chǎng)所取樣和計(jì)數(shù)機(jī)載纖維（包括石棉纖維）的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E2142-08(2015) 用掃描電子顯微鏡評(píng)定和分類(lèi)鋼中夾雜物的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E2142-08 用掃描電子顯微鏡分級(jí)和分類(lèi)鐵中內(nèi)含物的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D3849-14a 炭黑的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法. 使用電子顯微鏡測(cè)定炭黑的形態(tài)特征
  • ASTM E2142-08(2023) 用掃描電子顯微鏡評(píng)定和分類(lèi)鋼中夾雜物的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D7201-06(2011) 用相襯顯微鏡(也可選擇透射電子顯微鏡)在工作場(chǎng)所采樣,并計(jì)算空氣纖維(包括石棉纖維)含量的標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程
  • ASTM B748-90(2010) 掃描電子顯微鏡測(cè)量橫截面測(cè)定金屬涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E2809-13 在法醫(yī)油漆檢查中使用掃描電子顯微鏡/X射線(xiàn)光譜法的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM B748-90(2021) 用掃描電子顯微鏡測(cè)量橫截面測(cè)量金屬涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • JIS K 0149-1:2008 微光束分析.掃描電子顯微鏡法.校準(zhǔn)圖像放大指南
  • JIS K 0132:1997 掃描電子顯微鏡總則
  • JIS K 3850-1:2006 空中纖維分子的測(cè)定.第1部分:光學(xué)顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
  • JIS K 3850-1:2000 空氣中纖維粒子的測(cè)量方法.第1部分:光學(xué)顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
  • JIS K 0189:2013 微束分析.電子探針顯微分析.波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)光譜學(xué)用實(shí)驗(yàn)參數(shù)的測(cè)定
  • JIS K 3850-3:2000 空氣中纖維粒子的測(cè)量方法.第3部分:間接傳遞透射電子顯微鏡法
  • JIS K 3850-2:2000 空氣中纖維粒子的測(cè)量方法.第2部分:直接傳遞透射電子顯微鏡法
  • JIS R 1633:1998 掃描電子顯微鏡觀察用精細(xì)陶瓷和陶瓷粉末的樣品制備方法
  • JIS K 0190:2010 微光束分析.電子探針顯微分析.波長(zhǎng)分散X射線(xiàn)光譜法對(duì)質(zhì)量點(diǎn)分析用指南

國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

中國(guó)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-教育，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

美國(guó)電子電路和電子互連行業(yè)協(xié)會(huì)，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

RU-GOST R，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • GOST 21006-1975 電子顯微鏡.術(shù)語(yǔ)、定義和字母符號(hào)
  • GOST R 8.594-2009 確保測(cè)量一致性的國(guó)家體系.掃描電子顯微鏡
  • GOST R 8.636-2007 國(guó)家測(cè)量統(tǒng)一性保證體系.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)方法
  • GOST 8.594-2009 國(guó)家測(cè)量統(tǒng)一性保證體系.掃描電子顯微鏡.鑒定方法
  • GOST R 8.631-2007 國(guó)家測(cè)量統(tǒng)一性保證體系.掃描電子測(cè)量顯微鏡.驗(yàn)證方法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-石油，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

上海市標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

(美國(guó))固態(tài)技術(shù)協(xié)會(huì),隸屬EIA，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

國(guó)際電工委員會(huì)，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • IEC PAS 62191:2000 非氣密封裝電子元件的聲學(xué)顯微鏡
  • ISO TS 10797:2012 納米技術(shù).使用透射電子顯微鏡對(duì)單壁碳納米管進(jìn)行表征

國(guó)家能源局，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

工業(yè)和信息化部，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

江蘇省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • DB32/T 3459-2018 石墨烯薄膜微區(qū)覆蓋度測(cè)試 掃描電子顯微鏡法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-司法，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • SF/T 0139-2023 泥土檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線(xiàn)能譜法

德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • DIN SPEC 52407:2015-03 納米技術(shù) 使用原子力顯微鏡(AFM)和透射掃描電子顯微鏡(TSEM)進(jìn)行粒子測(cè)量的準(zhǔn)備和評(píng)估方法
  • DIN EN ISO 9220:2022-05 金屬涂層-涂層厚度的測(cè)量-掃描電子顯微鏡法
  • DIN EN ISO 9220:2021 金屬涂層-涂層厚度的測(cè)量-掃描電子顯微鏡法（ISO/DIS 9220:2021）
  • DIN ISO 16592:2015 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線(xiàn)法測(cè)定鋼的碳含量的指南(ISO 16592-2012)
  • DIN EN ISO 19749:2023-07 納米技術(shù) - 通過(guò)掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布（ISO 19749:2021）
  • DIN EN ISO 21363:2022-03 納米技術(shù) - 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布 (ISO 21363:2020)
  • DIN EN ISO 19749:2023 納米技術(shù) 通過(guò)掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布（ISO 19749:2021）

VDI - Verein Deutscher Ingenieure，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • VDI 3866 BLATT 5-2015 技術(shù)產(chǎn)品中石棉的測(cè)定掃描電子顯微鏡法
  • VDI 3866 Blatt 5-2003 工業(yè)產(chǎn)品中石棉的測(cè)定掃描電子顯微鏡法
  • VDI 3861 Blatt 2-1994 流動(dòng)潔凈廢氣中無(wú)機(jī)纖維顆粒的測(cè)量掃描電子顯微鏡法
  • VDI 3861 Blatt 2-1996 流動(dòng)潔凈廢氣中無(wú)機(jī)纖維顆粒的測(cè)量掃描電子顯微鏡法
  • VDI 3861 Blatt 2-2006 固定源排放廢氣中無(wú)機(jī)纖維顆粒的測(cè)量掃描電子顯微鏡法
  • VDI 3877 Blatt 1-2009 測(cè)量室內(nèi)污染 測(cè)量表面沉積的纖維灰塵 掃描電子顯微鏡法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-公共安全標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • GA/T 1939-2021 法庭科學(xué) 電流斑檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線(xiàn)能譜法
  • GA/T 1938-2021 法庭科學(xué) 金屬檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線(xiàn)能譜法
  • GA/T 1937-2021 法庭科學(xué) 橡膠檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線(xiàn)能譜法
  • GA/T 909-2010 微量物證的提取、包裝方法 掃描電子顯微鏡/能譜法檢驗(yàn)射擊殘留物
  • GA/T 1522-2018 法庭科學(xué) 射擊殘留物檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線(xiàn)能譜法
  • GA/T 1521-2018 法庭科學(xué) 塑料元素成分檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線(xiàn)能譜法
  • GA/T 1519-2018 法庭科學(xué) 墨粉元素成分檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線(xiàn)能譜法

SE-SIS，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • EN ISO 9220:2022 金屬覆蓋層.鍍層厚度測(cè)量.掃描電子顯微鏡法
  • EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) - 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)定粒度分布的方案
  • EN ISO 9220:1994 金屬覆蓋層.鍍層厚度測(cè)量.掃描電子顯微鏡法(ISO 9220-1988)
  • EN ISO 19749:2023 納米技術(shù).用掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
  • prEN ISO 9220:2021 金屬鍍層-鍍層厚度的測(cè)量-掃描電子顯微鏡法（ISO/DIS 9220:2021）
  • prEN ISO 21363:2021 納米技術(shù) 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量粒徑和形狀分布（ISO 21363:2020）

丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

DIN，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • DIN ISO 15632:2022 微束分析 用于掃描電子顯微鏡 (SEM) 或電子探針微分析儀 (EPMA) 的能量色散 X 射線(xiàn)譜儀 (EDS) 的規(guī)范和檢查的選定儀器性能參數(shù)
  • DIN EN ISO 9220:2022 金屬覆蓋層 涂層厚度測(cè)量 掃描電子顯微鏡法（ISO 9220:2022）

ES-UNE，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • UNE-EN ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡方法
  • UNE-EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
  • UNE-EN ISO 19749:2023 納米技術(shù) 通過(guò)掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布

PH-BPS，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • PNS ISO 21363:2021 納米技術(shù).用透射電子顯微鏡測(cè)量粒度和形狀分布

IT-UNI，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • UNI 7604-1976 用復(fù)制品進(jìn)行的金屬材料電子顯微鏡檢測(cè)．顯微照相檢測(cè)用復(fù)制品的準(zhǔn)備
  • UNI 7329-1974 使用復(fù)制品進(jìn)行金屬材料的電子顯微鏡檢測(cè)．顯微結(jié)構(gòu)檢測(cè)用復(fù)制品的準(zhǔn)備

AENOR，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • UNE-EN ISO 9220:1996 金屬涂層 涂層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡法 （ISO 9220:1988）
  • UNE 77236:1999 環(huán)境空氣 石棉纖維的測(cè)定 直接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法

立陶宛標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • LST EN ISO 9220:2001 金屬鍍層-鍍層厚度的測(cè)量-掃描電子顯微鏡法（ISO 9220:1988）

AT-ON，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • OENORM EN ISO 9220:2021 金屬鍍層-鍍層厚度的測(cè)量-掃描電子顯微鏡法（ISO/DIS 9220:2021）
  • OENORM EN ISO 21363:2021 納米技術(shù) 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量粒徑和形狀分布（ISO 21363:2020）

國(guó)家軍用標(biāo)準(zhǔn)-國(guó)防科工委，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • GJB 5384.22-2005 煙火藥性能試驗(yàn)方法 第21部分:煙霧固態(tài)微粒粒子數(shù)濃度測(cè)定 電子顯微鏡法
  • GJB 5384.23-2005 煙火藥性能試驗(yàn)方法 第23部分:煙霧固態(tài)微粒粒度頒布測(cè)定 電子顯微鏡法

國(guó)家軍用標(biāo)準(zhǔn)-總裝備部，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • GJB 8684.22-2015 煙火藥性能試驗(yàn)方法 第22部分：煙霧固態(tài)微粒粒子數(shù)濃度測(cè)定 電子顯微鏡法
  • GJB 8684.23-2015 煙火藥性能試驗(yàn)方法 第23部分：煙霧固態(tài)微粒粒度分布測(cè)定 電子顯微鏡法

GOST，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • GOST R ISO 14966-2022 大氣的空氣 無(wú)機(jī)纖維顆粒濃度的測(cè)定 掃描電子顯微鏡法

BE-NBN，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • NBN EN ISO 9220:1995 金屬保護(hù)層．保護(hù)層厚度的測(cè)定：使用電子掃描顯微鏡（ISO 9220-1988）

IPC - Association Connecting Electronics Industries，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • DIN EN ISO 21363 E:2021-09 納米技術(shù) 通過(guò)透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布（草案）
  • DIN EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) – 使用透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和顆粒形狀分布
  • SEMI F73-0309-2009 掃描電子顯微鏡 (SEM) 評(píng)估不銹鋼部件潤(rùn)濕表面狀況的測(cè)試方法

美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于電子雙束顯微電鏡的標(biāo)準(zhǔn)

  • ANSI/ASTM D6059:2001 用掃描電子顯微鏡測(cè)定工作環(huán)境空氣中單晶陶瓷須晶濃度的方法
  • ANSI/ASTM D6056:2001 用傳輸電子顯微鏡測(cè)定工作環(huán)境空氣中單晶陶瓷須晶濃度的方法

電子雙束顯微電鏡，雙束電子顯微鏡，雙束掃描電子顯微鏡，中心雙束掃描電子顯微鏡，透射電子顯微鏡雙束衍射，微束分析 分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法。

 

可能用到的儀器設(shè)備

 

恒溫顯微鏡加熱板

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顯微鏡恒溫加熱板

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顯微鏡掃描自相關(guān)儀

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D9650TM C-SAM?超聲波掃描顯微鏡

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