x射線(xiàn)熒光 鍍層測(cè)厚儀
本專(zhuān)題涉及x射線(xiàn)熒光 鍍層測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)有17條。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，x射線(xiàn)熒光 鍍層測(cè)厚儀涉及到分析化學(xué)、表面處理和鍍涂、長(zhǎng)度和角度測(cè)量、核能工程、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，x射線(xiàn)熒光 鍍層測(cè)厚儀涉及到Ｘ射線(xiàn)、磁粉、熒光及其他探傷儀器、電容器、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、材料防護(hù)、勘探采礦和工藝監(jiān)測(cè)核儀器、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器。
國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于x射線(xiàn)熒光 鍍層測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)
- JJF 1306-2011 X射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚儀校準(zhǔn)規(guī)范
ECIA - Electronic Components Industry Association，關(guān)于x射線(xiàn)熒光 鍍層測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)
- CB-13-1990 X 射線(xiàn)熒光測(cè)量鍍層厚度
美國(guó)電子元器件、組件及材料協(xié)會(huì)，關(guān)于x射線(xiàn)熒光 鍍層測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)
- ECA CB-13-1990 鍍層厚度測(cè)定的X射線(xiàn)熒光
工業(yè)和信息化部/國(guó)家能源局，關(guān)于x射線(xiàn)熒光 鍍層測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)
- JB/T 12962.3-2016 能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀 第3部分：鍍層厚度分析儀
IN-BIS，關(guān)于x射線(xiàn)熒光 鍍層測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)
- IS 12860-1989 X射線(xiàn)熒光技術(shù)法測(cè)定金屬鍍層厚度
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子，關(guān)于x射線(xiàn)熒光 鍍層測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)
- SJ 20147.1-1992 銀和銀合金鍍覆層厚度測(cè)量方法X射線(xiàn)熒光光譜法
法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于x射線(xiàn)熒光 鍍層測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)
- NF A91-116*NF EN ISO 3497:2001 金屬鍍層.鍍層厚度的測(cè)定.X射線(xiàn)光譜法
- NF A91-116:1976 金屬鍍層.厚度的測(cè)量.用X射線(xiàn)光譜術(shù)
韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于x射線(xiàn)熒光 鍍層測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D ISO 3497-2002(2022) 金屬鍍層鍍層厚度的測(cè)量X射線(xiàn)光譜法
- KS D ISO 3497:2002 金屬鍍層.鍍層厚度的測(cè)量.X射線(xiàn)光譜測(cè)定法
德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于x射線(xiàn)熒光 鍍層測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN EN ISO 3497:2001 金屬鍍層.鍍層厚度測(cè)量.X射線(xiàn)光譜測(cè)定法
ZA-SANS，關(guān)于x射線(xiàn)熒光 鍍層測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)
- SANS 3497:1990 金屬鍍層．鍍層厚度的測(cè)定．X射線(xiàn)光譜測(cè)定法
- SANS 3497:2008 金屬鍍層.涂層厚度測(cè)量.X射線(xiàn)光譜法
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于x射線(xiàn)熒光 鍍層測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 3497:1990 金屬鍍層.鍍層厚度的測(cè)量.X射線(xiàn)光譜測(cè)定法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-核工業(yè)，關(guān)于x射線(xiàn)熒光 鍍層測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)
- EJ/T 1100-1999 X射線(xiàn)熒光測(cè)井儀
IPC - Association Connecting Electronics Industries，關(guān)于x射線(xiàn)熒光 鍍層測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)
- IPC TM-650 2.3.44-2016 通過(guò) X 射線(xiàn)熒光（XRF）光譜法測(cè)定化學(xué)鍍鎳（EN）層的厚度和磷含量
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于x射線(xiàn)熒光 鍍層測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)
- JB/T 11145-2011 X射線(xiàn)熒光光譜儀
