雜質(zhì)光譜x
本專題涉及雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)有260條。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，雜質(zhì)光譜x涉及到有色金屬、半導(dǎo)體材料、金屬材料試驗(yàn)、農(nóng)用建筑物、結(jié)構(gòu)和裝置、非金屬礦、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、與食品接觸的物品與材料、鐵合金、建筑材料、分析化學(xué)、無(wú)機(jī)化學(xué)、陶瓷、黑色金屬、焊接、釬焊和低溫焊、核能工程、食用油和脂肪、含油種子、鋼鐵產(chǎn)品、金屬礦、食品試驗(yàn)和分析的一般方法、耐火材料、電子元器件綜合、無(wú)損檢測(cè)、教育、計(jì)量學(xué)和測(cè)量綜合、藝術(shù)和手工藝品、廢物、光纖通信、肉、肉制品和其他動(dòng)物類食品、有機(jī)化學(xué)、涂料配料、珠寶、水質(zhì)、航天系統(tǒng)和操作裝置。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，雜質(zhì)光譜x涉及到輕金屬及其合金分析方法、貴金屬及其合金分析方法、重金屬及其合金、半金屬與半導(dǎo)體材料綜合、、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、食品衛(wèi)生、金屬無(wú)損檢驗(yàn)方法、衛(wèi)生、安全、勞動(dòng)保護(hù)、重金屬及其合金分析方法、稀土金屬及其合金、稀有金屬及其合金分析方法、半金屬、鋼鐵與鐵合金分析方法、半金屬及半導(dǎo)體材料分析方法、化學(xué)、生物質(zhì)能、核材料、核燃料及其分析試驗(yàn)方法、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、稀有高熔點(diǎn)金屬及其合金、石油地質(zhì)勘探、電子技術(shù)專用材料、稀有輕金屬及其合金、鐵礦、鋼鐵產(chǎn)品綜合、金屬化學(xué)分析方法綜合、石油產(chǎn)品綜合、耐火材料綜合、電離輻射計(jì)量、鐵合金、電子元件綜合、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、元素半導(dǎo)體材料、教學(xué)專用儀器、工藝美術(shù)品、有機(jī)化工原料綜合、化學(xué)計(jì)量、建材產(chǎn)品綜合、化學(xué)試劑綜合、光通信設(shè)備、一般無(wú)機(jī)試劑、肉類加工制品、基本有機(jī)化工原料、涂料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、水環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法。
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-商品檢驗(yàn)，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- SN/T 4020-2013 純鐵雜質(zhì)含量測(cè)定 X射線熒光光譜法
- SN/T 1504.5-2005 食品容器、包裝用塑料原料.第5部分:聚烯烴中雜質(zhì)元素含量的測(cè)定.X射線熒光光譜法
- SN/T 4140-2015 出口魚肉香腸和香精中多種雜環(huán)胺的測(cè)定 液相色譜-質(zhì)譜/質(zhì)譜法
- SN/T 2698-2010 鎢制品中雜質(zhì)元素分析 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法
國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 14849.5-2014 工業(yè)硅化學(xué)分析方法 第5部分:雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 X射線熒光光譜法
- GB/T 13374-1992 八氧化三鈾中雜質(zhì)元素的光譜測(cè)定 氧化鎵載帶法
- GB/T 36590-2018(英文版) 高純銀化學(xué)分析方法 微量雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- GB/T 33352-2024 電子電氣產(chǎn)品中限用物質(zhì)篩選應(yīng)用通則 X射線熒光光譜法
- GB/T 29851-2013 光伏電池用硅材料中B、Al受主雜質(zhì)含量的二次離子質(zhì)譜測(cè)量方法
- GB/T 37211.3-2022 金屬鍺化學(xué)分析方法 第3部分:痕量雜質(zhì)元素的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- GB/T 29852-2013 光伏電池用硅材料中P、As、Sb施主雜質(zhì)含量的二次離子質(zhì)譜測(cè)量方法
- GB/T 10726-2007 化學(xué)試劑 溶劑萃取-原子吸收光譜法測(cè)定金屬雜質(zhì)通用方法
- GB/T 10726-1989 化學(xué)試劑 溶劑萃取-原子吸收光譜法測(cè)定金屬雜質(zhì)通用方法
- GB/T 31854-2015 光伏電池用硅材料中金屬雜質(zhì)含量的電感耦合等離子體質(zhì)譜測(cè)量方法
- GB/T 3144-1982 甲苯中烴類雜質(zhì)的氣相色譜測(cè)定法
- GB/T 25184-2010 X射線光電子能譜儀鑒定方法
- GB/T 6730.88-2024 鐵礦石 氯含量的測(cè)定 X射線熒光光譜法
- GB/T 29849-2013 光伏電池用硅材料表面金屬雜質(zhì)含量的電感耦合等離子體質(zhì)譜測(cè)量方法
- GB 3144-1982 甲苯中烴類雜質(zhì)的氣相色譜測(cè)定法
- GB/T 28020-2011 飾品.有害元素的測(cè)定.X射線熒光光譜法
RU-GOST R，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- GOST 24977.2-1981 高純度碲.雜質(zhì)含量光譜測(cè)定法
- GOST 24977.1-1981 高純度碲.雜質(zhì)含量化學(xué)光譜測(cè)定法
- GOST 22518.1-1977 高純度鉛.對(duì)雜質(zhì)含量化學(xué)-光譜測(cè)定法
- GOST R 56240-2014 銅. 雜質(zhì)的譜分析方法
- GOST 27566-1987 特純物質(zhì).原子發(fā)射光譜測(cè)定液相物質(zhì)中的化學(xué)元素雜質(zhì)
- GOST R 50233.5-1992 五氧化鈮.化學(xué)原子發(fā)射光譜法測(cè)定金屬雜質(zhì)
- GOST 20461-1975 氣體氦.用乳劑光譜分析法對(duì)雜質(zhì)含量測(cè)定法
- GOST 1429.14-2004 錫一鉛焊藥.含銻、銅、鉍、砷、鐵、鎳等雜質(zhì)量光譜測(cè)定法
- GOST 1429.15-1977 錫一鉛焊藥.含銻、銅、鉍、砷、鐵、鉛等雜質(zhì)量光譜測(cè)定法
- GOST 1429.14-1977 錫一鉛焊藥 含銻、銅、鉍、砷、鐵、鎳等雜質(zhì)量光譜測(cè)定法
- GOST R 55080-2012 鑄鐵. X射線熒光光譜(XRF)分析法
- GOST R 57060-2016 銅. 采用感應(yīng)耦合等離子體原子發(fā)射光譜法測(cè)量銅的雜質(zhì)質(zhì)量分?jǐn)?shù)
- GOST 23862.1-1979 稀土金屬及其氧化物.稀土元素氧化物雜質(zhì)的光譜測(cè)定法
- GOST 22091.8-1984 X射線儀.光譜成分和光譜相對(duì)污染程度測(cè)量方法
- GOST 23862.2-1979 稀土金屬及其氧化物.稀土元素氧化物雜質(zhì)的光譜測(cè)定法
- GOST 23862.3-1979 釓、鈥、餌、鐿及其氧化物測(cè)定稀土元素氧化物雜質(zhì)的光譜法
- GOST 22001-1987 試劑.化學(xué)元素混雜物含量原子和特純物質(zhì)吸收光譜測(cè)定法
- GOST 20068.4-1988 無(wú)錫青銅.鋁含量的X光譜熒光測(cè)定法
- GOST 23862.7-1979 稀土金屬及其氧化物.測(cè)定稀土元素氧化物雜質(zhì)的化學(xué)光譜法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-有色金屬，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- YS/T 361-2006 純鉑中雜質(zhì)元素的發(fā)射光譜分析
- YS/T 361-1994 純鉑中雜質(zhì)元素的發(fā)射光譜分析
- YS/T 363-2006 純銠中雜質(zhì)元素的發(fā)射光譜分析
- YS/T 363-1994 純銠中雜質(zhì)元素的發(fā)射光譜分析
- YS/T 362-1994 純鈀中雜質(zhì)元素的發(fā)射光譜分析
- YS/T 362-2006 純鈀中雜質(zhì)元素的發(fā)射光譜分析
- YS/T 364-1994 純銥中雜質(zhì)元素的發(fā)射光譜分析
- YS/T 364-2006 純銥中雜質(zhì)元素的發(fā)射光譜分析
- YS/T 365-2006 高純鉑中雜質(zhì)元素的發(fā)射光譜分析
- YS/T 365-1994 高純鉑中雜質(zhì)元素的發(fā)射光譜分析
- YS/T 1600-2023 碳化硅單晶中痕量雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- YS/T 899-2013 高純鉭化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- YS/T 1011-2014 高純鈷化學(xué)分析方法 雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- YS/T 1012-2014 高純鎳化學(xué)分析方法 雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- YS/T 897-2013 高純鈮化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- YS/T 871-2013 高純鋁化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- YS/T 739-2010 鋁電解質(zhì)分子比及主要成分的測(cè)定X射線熒光光譜法
- YS/T 895-2013 高純錸化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- YS/T 891-2013 高純鈦化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- YS/T 901-2013 高純鎢化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- YS/T 871-2023 純 鋁 化 學(xué) 分 析 方 法痕量雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- YS/T 1599-2023 高純鋯化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- YS/T 917-2013 高純鎘化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- YS/T 922-2013 高純銅化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- YS/T 1654-2023 氮化鎵化學(xué)分析方法痕量雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- YS/T 739.1-2023 鋁電解質(zhì)化學(xué)分析方法 第 1 部分： 元素含量的測(cè)定 X 射線熒光光譜法
- YS/T 229.4-2013 高純鉛化學(xué)分析方法 第4部分:痕量雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- BS EN 15063-2:2006 銅和銅合金.用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜測(cè)定法(XRF)測(cè)定主要元素和雜質(zhì).常規(guī)方法
- BS EN 15063-1:2014 銅和銅合金.用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜測(cè)定法(XRF)測(cè)定主要元素和雜質(zhì).常規(guī)方法指南
- BS EN 15063-1:2006 銅和銅合金.用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜測(cè)定法(XRF)測(cè)定主要元素和雜質(zhì).常規(guī)方法指南
- BS ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估規(guī)程
- BS EN 12938:2000(2001) 錫鉛合金分析方法.原子光譜法測(cè)定合金和雜質(zhì)元素含量
- BS EN 12938:2000 錫鉛合金分析方法.原子光譜法測(cè)定合金和雜質(zhì)元素含量
- BS ISO 16129:2018 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 X 射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估程序
- PD ISO/TR 16043:2015 鐵礦石 氯含量的測(cè)定 X射線熒光光譜法
德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN EN 15063-2:2007-01 銅和銅合金 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法（XRF）測(cè)定主要成分和雜質(zhì) 第2部分：常規(guī)方法
- DIN EN 15063-2:2007 銅和銅合金.用波長(zhǎng)色散X-射線熒光光譜法(XRF)測(cè)定主要成分和雜質(zhì).第2部分:常規(guī)方法
- DIN EN 15063-1:2015-03 銅和銅合金.波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法(XRF)測(cè)定主要成分和雜質(zhì).第1部分:常規(guī)方法指南
- DIN EN 15063-1:2007 銅和銅合金.用波長(zhǎng)色散X-射線熒光光譜法(XRF)測(cè)定主要成分和雜質(zhì).第1部分:常規(guī)方法的指導(dǎo)方針
- DIN EN 12938:2000 錫基合金的分析方法.原子光譜儀法測(cè)定合金雜質(zhì)含量
- DIN 51418-1:1996 X光射線光譜測(cè)定法.X光射線散射和X光射線熒光分析(RFA).第1部分:定義和基本原理
- DIN 25708:1995 用耦合等離子激發(fā)感應(yīng)光學(xué)發(fā)射光譜法測(cè)定核燃料中的金屬雜質(zhì)
- DIN ISO 16129:2020-11 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估程序
- DIN EN 15063-1:2015 銅和銅合金.用波長(zhǎng)色散X-射線熒光光譜法(XRF)測(cè)定主要成分和雜質(zhì).第1部分:常規(guī)方法的指導(dǎo)方針;德文版本EN 15063-1-2014
福建省地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- DB35/T 1146-2011 硅材料中雜質(zhì)元素含量測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
SCC，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- DANSK DS/EN 15063-2:2007 銅及銅合金 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法(XRF)測(cè)定主要成分和雜質(zhì) 第2部分：常規(guī)方法
- NS-EN 15063-2:2006 銅及銅合金 主要成分和雜質(zhì)的測(cè)定 波長(zhǎng)色散 X 射線熒光光譜法（XRF） 第2部分：常規(guī)方法
- NS-EN 15063-1:2006 銅及銅合金 波長(zhǎng)色散 X 射線熒光光譜法（XRF）測(cè)定主要成分和雜質(zhì) 第1部分：常規(guī)方法指南
- NS-EN 15063-1:2014 銅及銅合金 波長(zhǎng)色散 X 射線熒光光譜法（XRF）測(cè)定主要成分和雜質(zhì) 第1部分：常規(guī)方法指南
- DANSK DS/EN 15063-1:2015 銅和銅合金.波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法(XRF)測(cè)定主要成分和雜質(zhì). 第1部分:常規(guī)方法指南
- UNE-EN 15063-1:2008 銅和銅合金 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法(XRF)測(cè)定主要成分和雜質(zhì) 第1部分:常規(guī)方法指南
- DIN EN 15063-1 E:2013 銅和銅合金 通過(guò)波長(zhǎng)色散 X 射線熒光光譜法 (XRF) 測(cè)定主要成分和雜質(zhì) 第1部分：常規(guī)方法指南 草案
- DANSK DS/EN 12938:2000 錫镴分析方法 原子光譜法測(cè)定合金和雜質(zhì)元素含量
- NS-EN 12938:1999 錫分析方法原子光譜法測(cè)定合金元素和雜質(zhì)元素含量
- CAN/CGSB 3.0 No.16.0-1995 石油產(chǎn)品及相關(guān)產(chǎn)品的檢測(cè)方法 用熒光 X 光度法 (EDXRF) 檢測(cè)增碳柴油中的雜質(zhì)
- NS-EN 13615:2001 錫錠分析方法 原子光譜法測(cè)定99.90%和99.85%錫中雜質(zhì)元素含量
- DANSK DS/EN 13615:2002 錫錠分析方法 原子光譜法測(cè)定99.90%和99.85%錫級(jí)中雜質(zhì)元素含量
- BS PD ISO/TR 16043:2015 鐵礦石 氯含量的測(cè)定 X射線熒光光譜法
歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- EN 15063-1:2014 銅及銅合金.用波長(zhǎng)分散X光線熒光光譜法(XRF)測(cè)定主要成分及雜質(zhì).第1部分:日常方法指南
- EN 15063-2:2006 銅和銅合金.用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜測(cè)定法(XRF)測(cè)定主要元素和雜質(zhì).第2部分:常規(guī)方法
- EN 15063-1:2006 銅和銅合金.用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜測(cè)定法(XRF)測(cè)定主要元素和雜質(zhì).第1部分:常規(guī)方法指南
中華全國(guó)供銷合作總社，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- GH/T 1337-2021 籽棉雜質(zhì)含量快速測(cè)定 近紅外光譜法
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS H 0615:2021 光致發(fā)光光譜法測(cè)定硅晶體中雜質(zhì)濃度的試驗(yàn)方法
- JIS H 0615:1996 用光致發(fā)光光譜法測(cè)定硅晶體中雜質(zhì)濃度的試驗(yàn)方法
- JIS K 0119:2008 X射線熒光光譜測(cè)定法總則
- JIS G 1256:1997 鋼鐵.X射線熒光光譜分析法
- JIS K 0119:1997 X射線熒光光譜測(cè)定法總則
- JIS M 8205:2000 鐵礦石.X射線熒光光譜儀分析
- JIS R 2216:2005 耐火制品X射線熒光光譜分析法
- JIS G 1351:2006 鐵合金.X-射線熒光光譜測(cè)定分析法
- JIS G 1256 AMD 1:2010 鋼鐵.X射線熒光光譜測(cè)定分析方法
- JIS H 1631:2008 鈦合金.X射線熒光光譜測(cè)定分析法
- JIS H 1287:2015 鎳和鎳合金. X射線熒光光譜分析方法
- JIS H 1292:1997 銅和銅合金的X射線熒光光譜分析法
- JIS G 1256 AMD 2:2013 鋼鐵.X射線熒光光譜分析法(修改件2)
- JIS G 1351:1987 鐵合金的X射線熒光光譜測(cè)定分析方法
- JIS H 1669:1990 鋯合金的X射線熒光光譜測(cè)定分析方法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- JB/T 11145-2011 X射線熒光光譜儀
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- SN/T 1504.5-2017 食品容器、包裝用塑料原料 第5部分：聚烯烴中雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 X射線熒光光譜法
法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- NF EN 15063-2:2006 銅和銅合金 波長(zhǎng)色散 X 射線熒光(XRF)光譜分析法測(cè)定主元素和雜質(zhì) 第2部分：常規(guī)方法
- NF A08-701-2*NF EN 15063-2:2006 銅和銅合金.用波長(zhǎng)分布X-射線熒光光譜法(XRF)測(cè)定主要結(jié)構(gòu)和雜質(zhì).第2部分:常規(guī)測(cè)量
- NF A08-701-1:2006 銅和銅合金.用波長(zhǎng)分布X-射線熒光光譜法(XRF)測(cè)定主要結(jié)構(gòu)和雜質(zhì).第1部分:常規(guī)測(cè)量指南
- NF A08-701-1*NF EN 15063-1:2015 銅和銅合金.用波長(zhǎng)分布X-射線熒光光譜法(XRF)測(cè)定主要結(jié)構(gòu)和雜質(zhì).第1部分:常規(guī)測(cè)量指南
- NF EN 15063-1:2015 銅和銅合金 通過(guò)波長(zhǎng)色散 X 射線熒光(XRF)光譜分析測(cè)定主元素和雜質(zhì) 第1部分：常規(guī)方法指南
- NF EN 13615:2002 錫錠分析方法 原子光譜法測(cè)定99.90%和99.85%錫中雜質(zhì)含量
- NF X43-027:1993 空氣質(zhì)量 環(huán)境空氣 空氣中含鉛的測(cè)定 X光射線熒光光譜測(cè)定法
- NF EN 14935:2007 銅和銅合金 純銅中雜質(zhì)的測(cè)定 電熱原子吸收光譜法（ET-AAS）方法
立陶宛標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- LST EN 15063-2-2007 銅和銅合金 波長(zhǎng)色散 X 射線熒光光譜法（XRF）主要成分和雜質(zhì)的測(cè)定 第2部分：常規(guī)方法
- LST EN 15063-1-2007 銅和銅合金 用波長(zhǎng)色散 X 射線熒光光譜法（XRF）測(cè)定主要成分和雜質(zhì) 第1部分：常規(guī)方法指南
- LST EN 12938-2000 錫的分析方法 原子光譜法測(cè)定合金元素和雜質(zhì)元素含量
- LST EN 12938-2000/AC-2003 錫的分析方法 原子光譜法測(cè)定合金元素和雜質(zhì)元素含量
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-黑色冶金，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- YB/T 1507-1977 氧化釓中稀土雜質(zhì)的發(fā)射光譜 測(cè)定方法
- YB/T 1505-1977 氧化釤中稀土雜質(zhì)的發(fā)射光譜 測(cè)定方法
- YB/T 1504-1977 氧化釹中稀上雜質(zhì)的發(fā)射光譜 測(cè)定方法
- YB/T 1503-1977 氧化鑭中稀上雜質(zhì)的發(fā)射光譜 測(cè)定方法
- YB/T 6158-2023 金屬鉻 痕量雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- YB/T 4177-2008 爐渣 X射線熒光光譜分析方法
AENOR，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- UNE-EN 15063-2:2008 銅和銅合金 波長(zhǎng)色散 X 射線熒光光譜法（XRF）主要成分和雜質(zhì)的測(cè)定 第2部分：常規(guī)方法
- UNE-EN 15063-1:2015 銅和銅合金 用波長(zhǎng)色散 X 射線熒光光譜法（XRF）測(cè)定主要成分和雜質(zhì) 第1部分：常規(guī)方法指南
丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- DS/EN 15063-2:2007 銅和銅合金 波長(zhǎng)色散 X 射線熒光光譜法（XRF）主要成分和雜質(zhì)的測(cè)定 第2部分：常規(guī)方法
- DS/EN 15063-1:2007 銅和銅合金 用波長(zhǎng)色散 X 射線熒光光譜法（XRF）測(cè)定主要成分和雜質(zhì) 第1部分：常規(guī)方法指南
- DS/EN 12938/AC:2001 錫的分析方法 原子光譜法測(cè)定合金元素和雜質(zhì)元素含量
- DS/EN 12938:2001 錫的分析方法 原子光譜法測(cè)定合金元素和雜質(zhì)元素含量
YU-JUS，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- JUS C.A1.650-1987 銀的化學(xué)分析方法．雜質(zhì)含量測(cè)定．光譜法
ES-UNE，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- UNE-EN 62541-13:2015 銅和銅合金.波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法(XRF)測(cè)定主要成分和雜質(zhì).第1部分:常規(guī)方法指南
- UNE-EN 12938:1999 錫分析方法原子光譜法測(cè)定合金元素和雜質(zhì)元素含量
- UNE-EN 13615:2001 錫錠分析方法 原子光譜法測(cè)定99.90%和99.85%錫級(jí)中雜質(zhì)元素含量
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-農(nóng)業(yè)，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- 58藥典 四部-2020 0461 X射線熒光光譜法
- GB 10726-1989 化學(xué)試劑 溶劑萃取-原子吸收光譜法測(cè)定金屬雜質(zhì)通用方法
- JJG(教委) 016-1996 波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程
韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D 0078-2023 用光致發(fā)光光譜法測(cè)定硅晶體中雜質(zhì)濃度的試驗(yàn)方法
- KS D 0078-2008(2018) 用于測(cè)定雜質(zhì)濃度的硅晶體通過(guò)光致發(fā)光光譜的測(cè)試方法
- KS L 1627-2014(2019) 電感耦合等離子體光譜法測(cè)定高純鈷錠中雜質(zhì)
- KS D 1654-2003(2016) 鋼鐵X射線熒光光譜分析通則
- KS D 1654-1993 鋼鐵X射線熒光光譜分析通則
- KS D 1654-2021 鋼鐵X射線熒光光譜分析通則
- KS D 2710-2019 鈮鐵的X射線熒光光譜分析法
- KS D 1898-2009 銅合金X射線熒光光譜測(cè)定法
- KS D 1655-2008 鋼鐵的X射線熒光光譜測(cè)定法
- KS D 1898-2019 銅合金的X射線熒光光譜法分析
- KS D 1655-1993 鋼鐵的X射線熒光光譜分析方法
- KS M 0017-2020 X射線熒光光譜分析的一般規(guī)則
- KS L 1627-2019 電感耦合等離子體光譜法測(cè)定高純鈷錠中雜質(zhì)的方法
- KS L 1627-2014 電感耦合等離子體光譜法測(cè)定高純鈷錠中雜質(zhì)的方法
- KS D 1686-2011 鐵合金的X射線熒光光譜測(cè)定法
- KS D ISO 14706-2003(2018) 表面化學(xué)分析-全反射X-射線熒光分析儀測(cè)定硅片表面元素雜質(zhì)
- KS D 1655-2019 鋼鐵的X射線熒光光譜分析方法
- KS M 0017-1995 X射線熒光光譜分析的一般規(guī)則
- KS L 3316-1998 耐火制品X射線熒光光譜分析方法
- KS L 3316-1988 耐火制品X射線熒光光譜分析方法
- KS L 3316-2014(2019) 耐火制品X射線熒光光譜分析方法
- KS D 1654-2003 鋼鐵的X射線熒光光譜測(cè)定法通則
- KS D 1686-2011(2021) 鐵合金的x射線熒光光譜分析方法
- KS D 2597-1996 鋯和鋯合金X射線熒光光譜測(cè)定法
- KS L 3316-2014 耐火制品X射線熒光光譜分析方法
- KS L 3316-2019 耐火制品X射線熒光光譜分析方法
- KS D 1686-2021 鐵合金的X射線熒光光譜分析方法
- KS E 3076-2017 硅石和硅砂的X射線熒光光譜分析方法
- KS D 2597-1996(2021) 鋯及鋯合金的X射線熒光光譜分析方法
- KS E 3076-2022 硅石和硅砂的X射線熒光光譜分析方法
- KS D 2597-2021 鋯及鋯合金的X射線熒光光譜分析方法
GOSTR，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- GOST 27566-2020 特純物質(zhì) 原子發(fā)射光譜測(cè)定液相物質(zhì)中的化學(xué)元素雜質(zhì)
RO-ASRO，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- STAS 10837/2-1977 硒、鐵、硅、銀、銅、鎂、鉛、錫、銻、砷雜質(zhì)半定量光譜測(cè)定
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-稀土，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- XB/T 633-2023 稀土氧化物中雜質(zhì)元素化學(xué)分析方法 輝光放電質(zhì)譜法
HU-MSZT，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- MNOSZ 21405-1955 無(wú)雜質(zhì)，反射光玻璃
國(guó)家能源局，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- NB/T 10470-2020 固體生物質(zhì)燃料砷、磷、氯測(cè)定方法 X射線熒光光譜法
- SY/T 7420-2018 X射線熒光光譜元素錄井規(guī)范
- NB/SH/T 0977-2019 輕質(zhì)油品中氯含量的測(cè)定 單波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法
- SH/T 0842-2017 輕質(zhì)液體燃料中硫含量的測(cè)定 單波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- SJ/T 10552-2021 電子陶瓷用二氧化鈦中雜質(zhì)的發(fā)射光譜分析方法
- SJ 20744-1999 半導(dǎo)體材料雜質(zhì)含量紅外吸收光譜分析通用導(dǎo)則
- SJ/T 10553-2021 電子陶瓷用二氧化鋯中雜質(zhì)的發(fā)射光譜分析方法
- SJ/T 10553-1994 電子陶瓷用二氧化鋯中雜質(zhì)的發(fā)射光譜分析方法
- SJ/T 10552-1994 電子陶瓷用二氧化鈦中雜質(zhì)的發(fā)射光譜分析方法
- SJ/T 10551-1994 電子陶瓷用三氧化二鋁中雜質(zhì)的發(fā)射光譜分析方法
- SJ/T 10551-2021 電子陶瓷用三氧化二鋁中雜質(zhì)的發(fā)射光譜分析方法
- SJ 2594-1985 高純四氯化硅中硼及金屬雜質(zhì)的化學(xué)光譜分析方法
未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN EN 15063-1 E:2013-11 銅和銅合金 用波長(zhǎng)色散X-射線熒光光譜法 (XRF) 測(cè)定主要成分和雜質(zhì) 第1部分：常規(guī)方法的指導(dǎo)方針（草案）
- AS 4699:2000(R2016) 鋅和鋅合金 雜質(zhì)和合金元素的測(cè)量 原子發(fā)射光譜法
- AS 4862:2000(R2016) 鉛和鉛合金 雜質(zhì)和合金元素的測(cè)定 原子發(fā)射光譜法
- AS 2563:1996(R2016) 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀 精度測(cè)定
- DIN ISO 16129 E:2020-01 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜-評(píng)估X射線光電子能譜儀的日常性能的程序
- ASTM RR-F01-1013 1996 F1593-用高分辨率輝光放電質(zhì)譜儀測(cè)定電子級(jí)鋁中痕量金屬雜質(zhì)的測(cè)試方法
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 36590-2018 高純銀化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- GB/T 24581-2022 硅單晶中III、V族雜質(zhì)含量的測(cè)定 低溫傅立葉變換紅外光譜法
工業(yè)和信息化部，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- YS/T 1504-2021 高純鈀化學(xué)分析方法 雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- YS/T 1493-2021 高純鉑化學(xué)分析方法 雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- YS/T 1530-2022 高純錫化學(xué)分析方法 雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- YS/T 1473-2021 高純鉬化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- YS/T 1506-2021 高純銥化學(xué)分析方法 雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- YS/T 1494-2021 高純金化學(xué)分析方法 雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- YS/T 1495-2021 高純銠化學(xué)分析方法 雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- YS/T 1505-2021 高純釕化學(xué)分析方法 雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- YS/T 1347-2020 高純鉿化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
中國(guó)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- T/SDAS 4-2016 高純金化學(xué)分析方法 雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
- T/GAIA 007.1-2021 油脂中外源雜質(zhì)的測(cè)定 第一部分：難揮發(fā)外源雜質(zhì)的測(cè)定 液相色譜-串聯(lián)質(zhì)譜法
- T/CNFAGS 6-2023 尿素系統(tǒng)含氨介質(zhì)中硫、氯含量的測(cè)定X射線熒光光譜法
- T/CAIA SH003-2015 稻米 鎘的測(cè)定 X射線熒光光譜法
- T/CMES 08001-2020 鉻鐵 雜質(zhì)元素的測(cè)定 電感耦合等離子體原發(fā)射光譜法
- T/GAIA 007.2-2021 油脂中外源雜質(zhì)的測(cè)定 第二部分：易揮發(fā)外源雜質(zhì)的測(cè)定 頂空固相微萃取/氣相色譜-質(zhì)譜法
- T/CMES 08002-2020 鈮鐵 雜質(zhì)元素的測(cè)定 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法
- T/CSTM 00901-2023 手持式X射線熒光光譜儀校準(zhǔn)規(guī)范
- T/CACE 064-2022 煤氣化渣成分測(cè)定 X射線熒光光譜法
CZ-CSN，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- CSN 40 4009-1974 放射質(zhì)制備過(guò)程中通過(guò)發(fā)射光譜法測(cè)定重金屬和雜質(zhì)濃度
澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- AS 4861:2004 鋁及鋁合金．雜質(zhì)和合金元素的測(cè)定．原子發(fā)射光譜法
- AS 4862:2000 鉛和鉛合金．雜質(zhì)和合金元素的測(cè)定．原子發(fā)射光譜法
- AS 4699:2000 鋅和鋅合金 雜質(zhì)和合金元素的測(cè)量 原子發(fā)射光譜法
- AS 2563:1996 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀．精度測(cè)定
國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- JJG(地質(zhì)) 1006-1990 3080E型X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程
- JJG 810-1993 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程
內(nèi)蒙古自治區(qū)標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- DB15/T 1243-2017 樹(shù)脂中雜質(zhì)含量的測(cè)定 電感耦合等離子體發(fā)射光譜法
PT-IPQ，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- NP 2202-1999 水質(zhì)．鐵元素的測(cè)量，通過(guò)鄰二氮雜菲光譜測(cè)定法來(lái)進(jìn)行
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 33352-2016 電子電氣產(chǎn)品中限用物質(zhì)篩選應(yīng)用通則 X射線熒光光譜法
GSO，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- GSO ISO 16129:2014 表面化學(xué)分析 納米 X 射線光譜 評(píng)估納米 X 射線光譜日常性能的程序
- BH GSO ISO 16129:2015 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 評(píng)估X射線光電子能譜儀日常性能的程序
- OS GSO ISO 16129:2014 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 評(píng)估X射線光電子能譜儀日常性能的程序
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估規(guī)程
- ISO 5279:1980 甲苯.烴類雜質(zhì)的測(cè)定.氣相色譜法
- ISO 16129:2018 表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜 - 評(píng)估X射線光電子能譜儀日常性能的方法
- ISO/TR 16043:2015 鐵礦石. 氯含量的測(cè)定. X射線熒光光譜法
- ISO 17858:2007 水質(zhì).測(cè)定類似二氧(雜)芑的多氯聯(lián)苯.使用氣相色譜/質(zhì)譜測(cè)量法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-能源，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- NB/SH/T 0842-2017 輕質(zhì)液體燃料中硫含量的測(cè)定 單波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法
KR-KS，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D ISO 14706-2003(2023) 表面化學(xué)分析-全反射X射線熒光分析儀測(cè)定硅晶片表面元素雜質(zhì)
- KS I ISO 6332-2021 水質(zhì)鐵的測(cè)定1,10-二氮雜菲分光光度法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-教育，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- JY/T 0569-2020 波長(zhǎng)色散x射線熒光光譜方法通則
青海省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- DB63/T 1678-2018 唐卡中礦物顏料的測(cè)定 X射線熒光光譜法（能譜法）
- DB63/T 1611-2017 光纖預(yù)制棒原料四氯化硅中雜質(zhì)含量的測(cè)定 電感耦合等離子體質(zhì)譜法
美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM UOP913-92 氣相色譜法測(cè)定苯乙烯中的雜質(zhì)
- ASTM E1621-21 X射線發(fā)射光譜分析標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1621-05 X射線發(fā)散光譜分析標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM D5381-93(1998) 顏料和填充劑的X射線螢光(XRF)光譜分析
- ASTM F1710-97(2002) 使用高分辨率發(fā)光質(zhì)譜儀測(cè)試電子級(jí)鈦中痕量金屬雜質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D5381-93(2003) 顏料和填充劑的X射線螢光(XRF)光譜分析
- ASTM F2405-04(2011) 用高質(zhì)量分辨率輝光放電質(zhì)譜儀測(cè)量高純度銅中痕量金屬雜質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM F1710-97 使用高分辨率發(fā)光質(zhì)譜儀測(cè)試電子級(jí)鈦中痕量金屬雜質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
US-FCR，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
廣東省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- DB44/T 1602-2015 石材成分分析方法--X射線熒光光譜法
國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- JJF 2024-2023 能量色散X射線熒光光譜儀校準(zhǔn)規(guī)范
農(nóng)業(yè)農(nóng)村部，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
- NY/T 3904-2021 肉及肉制品中雜環(huán)胺檢測(cè) 液相色譜-串聯(lián)質(zhì)譜法
PL-PKN，關(guān)于雜質(zhì)光譜x的標(biāo)準(zhǔn)
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