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一般的晶粒多大

本專題涉及一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)有114條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中,一般的晶粒多大涉及到粒度分析、篩分、化工產(chǎn)品、金屬生產(chǎn)、有色金屬、鋼鐵產(chǎn)品、無(wú)損檢測(cè)、金屬材料試驗(yàn)、塑料、空氣質(zhì)量、分析化學(xué)、土質(zhì)、土壤學(xué)、土方工程、挖掘、地基構(gòu)造、地下工程、物理學(xué)、化學(xué)、航空器和航天器工程、頻率控制和選擇用壓電器件與介質(zhì)器件、電子顯示器件、通風(fēng)機(jī)、風(fēng)扇、空調(diào)器、木基板材、電信系統(tǒng)、金屬礦、試驗(yàn)條件和規(guī)程綜合、光纖通信、電氣設(shè)備元件、飼料。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中,一般的晶粒多大涉及到金屬化學(xué)分析方法綜合、金相檢驗(yàn)方法、金屬無(wú)損檢驗(yàn)方法、重金屬及其合金、型鋼、異型鋼、環(huán)境條件與通用試驗(yàn)方法、鋼鐵產(chǎn)品綜合、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、石英晶體、壓電元件、物質(zhì)成份分析儀器與環(huán)境監(jiān)測(cè)儀器綜合、通風(fēng)、空調(diào)工程、警用裝備與器械、、半金屬及半導(dǎo)體材料分析方法、化工機(jī)械與設(shè)備綜合、光通信設(shè)備。


日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì),關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

俄羅斯標(biāo)準(zhǔn)局,關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì),關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

  • ASTM E930-99(2007) 評(píng)價(jià)在金相磨片中觀察到的最大晶粒(ALA晶粒)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E930-99 評(píng)價(jià)在金相磨片中觀察到的最大晶粒(ALA晶粒)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E930-18 估計(jì)金相截面中觀察到的最大晶粒度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法(ALA晶粒度)
  • ASTM E930-99(2015) 估算在金相切片中觀察到的最大晶粒的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法 (ALA晶粒尺寸)
  • ASTM F1708-02 評(píng)價(jià)熔體 區(qū)技術(shù)下顆粒多晶硅的光譜分析法
  • ASTM RR-E04-1008 2013 E2627-使用電子背散射衍射 (EBSD) 測(cè)定完全再結(jié)晶多晶材料中的平均晶粒尺寸的實(shí)踐
  • ASTM E2627-13(2019) 用電子背散射衍射(EBSD)測(cè)定完全再結(jié)晶多晶材料中平均晶粒尺寸的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-黑色冶金,關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

  • YB/T 4290-2012 金相檢測(cè)面上最大晶粒尺寸級(jí)別(ALA晶粒度)測(cè)定方法

澳洲霍頓汽車有限公司,關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

意大利統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)化組織,關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

  • UNI EN 10113-1:1994 可焊細(xì)晶粒結(jié)構(gòu)鋼熱軋產(chǎn)品 一般交貨條件
  • UNI EN 14530:2005 工作環(huán)境的大氣 柴油顆粒物質(zhì)的測(cè)定 一般要求

丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì),關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

  • DS/EN 13925-1:2003 無(wú)損檢測(cè) 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第1部分:一般原則
  • DS/EN 14530:2004 工作場(chǎng)所大氣 柴油顆粒物的測(cè)定 一般要求
  • DANSK DS/EN 13925-1:2003 無(wú)損檢測(cè) 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第1部分:一般原則
  • DANSK DS/EN 14530:2004 工作場(chǎng)所大氣 柴油機(jī)顆粒物的測(cè)定 一般要求
  • DANSK DS/ISO 1392:1986 結(jié)晶點(diǎn)的測(cè)定 一般方法
  • DANSK DS/EN 17289-1:2021 散裝材料的表征 粒度加權(quán)細(xì)粒部分和結(jié)晶二氧化硅含量的測(cè)定 第1部分:一般信息和測(cè)試方法的選擇

德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì),關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

  • DIN EN 13925-1:2003-07 無(wú)損檢測(cè) - 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 - 第 1 部分:一般原理
  • DIN EN 14530:2004-06 工作場(chǎng)所大氣柴油機(jī)顆粒物的測(cè)定一般要求
  • DIN EN 10113-1:1993 熱軋可焊接細(xì)晶粒結(jié)構(gòu)鋼板材;第1部分:一般供貨條件
  • DIN EN ISO 643:2024 鋼材 顯微組織測(cè)定的名義晶粒大?。↖SO 643:2024)
  • DIN EN 17289-1:2021-02 散裝材料的表征 粒度加權(quán)細(xì)粒部分和結(jié)晶二氧化硅含量的測(cè)定 第1部分:一般信息和測(cè)試方法的選擇
  • DIN EN 17289-1 E:2019-03 散裝材料的表征 粒度加權(quán)細(xì)粒部分和結(jié)晶二氧化硅含量的測(cè)定 第1部分:一般信息和試驗(yàn)方法的選擇(草案)

西班牙標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì),關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

  • AENOR UNE-EN 13925-1:2006 無(wú)損檢測(cè) 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第1部分:一般原則
  • UNE-EN 14530:2004 工作場(chǎng)所大氣.柴油顆粒物的測(cè)定.一般要求
  • UNE-EN 13925-1:2006 無(wú)損檢測(cè) 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第1部分:一般原則
  • UNE-EN 10113-1:1994 可焊接細(xì)晶粒結(jié)構(gòu)鋼熱軋產(chǎn)品 第1部分:一般交付條件
  • UNE 70106:1986 結(jié)晶點(diǎn)的測(cè)定 一般方法
  • UNE 70-106-1986 結(jié)晶點(diǎn)的一般測(cè)定法測(cè)定
  • UNE-EN 17289-1:2021 散裝材料的表征 粒度加權(quán)細(xì)粒部分和結(jié)晶二氧化硅含量的測(cè)定 第1部分:一般信息和測(cè)試方法的選擇

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  • NS-EN 13925-1:2003 無(wú)損檢測(cè) 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第1部分:一般原則
  • NS-EN 14530:2004 工作場(chǎng)所大氣 柴油顆粒物的測(cè)定 一般要求
  • NS 9004:1981 結(jié)晶點(diǎn)的測(cè)定 一般方法
  • NS-EN 10113-1:1993 可焊接細(xì)晶粒結(jié)構(gòu)鋼熱軋產(chǎn)品 第1部分:一般交貨條件
  • NS-EN 17289-1:2020 散裝材料的表征 粒度加權(quán)細(xì)粒部分和結(jié)晶二氧化硅含量的測(cè)定 第1部分:一般信息和測(cè)試方法的選擇

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英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì),關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

  • BS EN 10113-1:1993 可焊接細(xì)晶粒結(jié)構(gòu)鋼熱軋產(chǎn)品 一般交貨條件
  • BS DD ENV 623-3:1993 先進(jìn)技術(shù)陶瓷 整體陶瓷 一般和質(zhì)構(gòu)特性晶粒尺寸的測(cè)定
  • BS EN 10113-1:1993(1998) 可焊接細(xì)晶粒結(jié)構(gòu)鋼熱軋產(chǎn)品 第 1 部分:一般交貨條件
  • BS EN 17289-1:2020 散裝材料的特性 粒度加權(quán)細(xì)顆粒和結(jié)晶二氧化硅含量的測(cè)定 一般信息和測(cè)試方法的選擇

韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局,關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì),關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

  • EN ISO 643:2024 鋼材 明顯晶粒大小的微觀測(cè)定(ISO 643:2024)
  • prEN 10113-1-1992 可焊細(xì)晶粒結(jié)構(gòu)鋼熱軋制品.第1部分:一般交貨條件
  • EN 13925-1:2003 無(wú)損檢驗(yàn).多晶體材料和無(wú)定形材料的X射線衍射.第1部分:一般原理

CU-NC,關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

  • NC 04-61-1984 材料測(cè)試.非鐵金屬中顆粒大小的的測(cè)定.一般要求
  • NC 26-116-1985 藥物.粒狀.一般質(zhì)量規(guī)格

CEN - European Committee for Standardization,關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

  • EN 10113-1:1993 可焊接細(xì)晶粒結(jié)構(gòu)鋼的熱軋產(chǎn)品 第1部分:一般交貨條件
  • DD ENV 623-3-1993 高級(jí)技術(shù)陶瓷 整體陶瓷 一般和結(jié)構(gòu)特性 第3部分:晶粒尺寸的測(cè)定

BE-NBN,關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

  • NBN-EN 10113-1-1993 適于焊接的細(xì)晶粒結(jié)構(gòu)鋼熱軋制品.第1部分:一般交貨條件
  • NBN T 02-104-1979 結(jié)晶點(diǎn)的測(cè)定.一般方法

法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì),關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

  • NF A35-505-1:1993 可焊細(xì)晶粒結(jié)構(gòu)鋼熱軋制品.第1部分:一般交貨條件
  • NF EN 13925-1:2003 無(wú)損檢測(cè) - X 射線衍射應(yīng)用于多晶和非晶材料 - 第 1 部分:一般原理
  • NF EN 17289-1:2020 散裝材料的表征 粒度加權(quán)細(xì)粒部分和結(jié)晶二氧化硅含量的測(cè)定 第1部分:一般信息和測(cè)試方法的選擇

RO-ASRO,關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

海灣阿拉伯國(guó)家合作委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)組織,關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

(美國(guó))軍事條例和規(guī)范,關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

HU-MSZT,關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

  • MSZ 22510/1-1981 晶粒尺寸的鉆石或氮化硼.指定和粒度分布的粗晶粒
  • MSZ 22510/2-1982 晶粒尺寸的鉆石或氮化硼.指定和粒度分布的粗晶粒檢查

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織,關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

  • ISO 643:1983 鋼.鐵素體或奧氏體晶粒大小的顯微照相測(cè)定

美國(guó)采暖、制冷與空調(diào)工程師協(xié)會(huì),關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

  • ASHRAE 52.2-2007 由顆粒大小去除效率的一般通風(fēng)空調(diào)凈化裝置測(cè)試方法

美國(guó)國(guó)防后勤局,關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

美國(guó)機(jī)動(dòng)車工程師協(xié)會(huì),關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

黑龍江省地方標(biāo)準(zhǔn),關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

國(guó)際電信聯(lián)盟,關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì),關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 35309-2017 用區(qū)熔法和光譜分析法評(píng)價(jià)顆粒狀多晶硅的規(guī)程

IN-BIS,關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)

  • IS 9020-1979 動(dòng)力脫粒機(jī)的一般和安全要求

白俄羅斯標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì),關(guān)于一般的晶粒多大的標(biāo)準(zhǔn)


一般的晶粒多大,晶粒一般多大一般晶粒多大,一般的晶粒尺寸,晶粒的尺寸一般一般晶粒的尺寸,一般晶粒的大小,晶粒的一般大小,的分子量一般多大一般的晶粒大小。

 

可能用到的儀器設(shè)備

 

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 奧龍Along X射線晶體定向儀(X-RAY NDT)

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