掃描電鏡電子能譜

本專題涉及掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)有84條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，掃描電鏡電子能譜涉及到犯罪行為防范、光學(xué)設(shè)備、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、涂料和清漆、建筑材料、分析化學(xué)、詞匯、教育、金屬材料試驗(yàn)、醫(yī)學(xué)科學(xué)和保健裝置綜合、熱力學(xué)和溫度測(cè)量、電子顯示器件、表面處理和鍍涂、物理學(xué)、化學(xué)、長(zhǎng)度和角度測(cè)量。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，掃描電鏡電子能譜涉及到犯罪鑒定技術(shù)、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、顏料、電磁計(jì)量、、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、檢驗(yàn)專用設(shè)備、化學(xué)計(jì)量、教學(xué)專用儀器、技術(shù)管理、教育、學(xué)位、學(xué)銜、石油地質(zhì)勘探、石油勘探、開發(fā)與集輸工程綜合、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、記錄儀器及光線示波器、光學(xué)設(shè)備、放大鏡與顯微鏡、電子元件綜合、材料防護(hù)。

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-司法，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

SF/T 0139-2023 泥土檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 17359-1998 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則
GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
GB/T 17362-1998 黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
GB/T 17361-1998 沉積巖中自生粘土礦物掃描電子顯微鏡及X射線能譜鑒定方法
GB/T 25189-2010 微束分析.掃描電鏡能譜儀定量分析參數(shù)的測(cè)定方法
GB/T 17361-2013 微束分析沉積巖中自生粘土礦物鑒定掃描電子顯微鏡及能譜儀方法
GB/T 19267.6-2008 刑事技術(shù)微量物證的理化檢驗(yàn) 第6部分:掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-公共安全標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

GA/T 1939-2021 法庭科學(xué) 電流斑檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
GA/T 1938-2021 法庭科學(xué) 金屬檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
GA/T 1937-2021 法庭科學(xué) 橡膠檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
GA/T 1522-2018 法庭科學(xué) 射擊殘留物檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
GA/T 1521-2018 法庭科學(xué) 塑料元素成分檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
GA/T 1519-2018 法庭科學(xué) 墨粉元素成分檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
GA/T 1418-2017 法庭科學(xué)玻璃物證的元素成分檢驗(yàn) 掃描電鏡/能譜法
GA/T 909-2010 微量物證的提取、包裝方法掃描電子顯微鏡/能譜法檢驗(yàn)射擊殘留物
GA/T 1520-2018 法庭科學(xué) 黑火藥、煙火藥元素成分檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
GA/T 823.3-2018 法庭科學(xué)油漆物證的檢驗(yàn)方法第3部分：掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

JIS K 0132:1997 掃描電子顯微鏡總則

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測(cè)量用掃描電子顯微鏡的鑒定
ISO 22493:2008 微光束分析.掃描電子顯微鏡方法.詞匯
ISO 16700:2016 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南
ISO 16700:2004 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南
ISO/TS 10798:2011 納米技術(shù).使用掃描電鏡與X射線能譜分析的單臂碳納米管的特征描述

福建省地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

DB35/T 110-2000 油漆物證檢測(cè)電子探針和掃描電鏡X射線能譜分析方法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

JB/T 6842-1993 掃描電子顯微鏡試驗(yàn)方法
JB/T 5384-1991 掃描電子顯微鏡.技術(shù)條件

國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

JJF 1916-2021 掃描電子顯微鏡校準(zhǔn)規(guī)范

國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

JJG(教委) 11-1992 掃描電子顯微鏡檢定規(guī)程
JJG 550-1988 掃描電子顯微鏡試行檢定規(guī)程

中國(guó)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

T/CSTM 00229-2020 涂料中石墨烯材料的測(cè)定掃描電鏡-能譜法
T/CSTM 00346-2021 鋼中夾雜物的自動(dòng)分類和統(tǒng)計(jì) 掃描電鏡能譜法
T/GAIA 017-2022 鋁及鋁合金表面涂層氟含量的測(cè)定掃描電鏡能譜法
T/QGCML 1940-2023 掃描電子顯微鏡原位高溫力學(xué)測(cè)試裝置
T/SPSTS 032-2023 掃描電化學(xué)顯微鏡通用規(guī)范

韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

KS M 0044-1999 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
KS I 0051-1999(2019) 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
KS I 0051-2019 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
KS I 0051-1999 掃描電子顯微鏡試驗(yàn)方法通則
KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
KS D ISO 22493:2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
KS D ISO 22493:2012 微光束分析.掃描電子顯微鏡.術(shù)語(yǔ)
KS D ISO 16700:2013 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 33834-2017 微束分析掃描電子顯微術(shù) 生物試樣掃描電子顯微鏡分析方法

GSO，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

BH GSO ISO 22493:2017 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
GSO ISO 22493:2015 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
GSO ISO 25498:2015 微束分析分析掃描電子顯微鏡使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
GSO ISO 9220:2013 金屬涂層涂層厚度測(cè)量掃描電子顯微鏡法

SCC，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

BS ISO 22493:2008 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
06/30128226 DC ISO 22493 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
AWWA ACE56156 使用平板掃描儀和掃描電子顯微鏡評(píng)估膜表面污染模式
VDI 3866 BLATT 5-2017 工業(yè)產(chǎn)品中石棉的測(cè)定掃描電子顯微鏡法
DANSK DS/ISO 9220:2022 金屬涂層涂層厚度測(cè)量掃描電子顯微鏡法
13/30203227 DC BS ISO 13083 表面化學(xué)分析掃描探針顯微鏡掃描擴(kuò)散電阻顯微鏡和掃描電容顯微鏡的空間分辨率定義和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)

KR-KS，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

KS D ISO 22493-2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-教育，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

JY/T 0584-2020 掃描電子顯微鏡分析方法通則
JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 35099-2018 微束分析掃描電鏡-能譜法大氣細(xì)粒子單顆粒形貌與元素分析

英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析掃描電子顯微鏡用于掃描電子顯微鏡（TIFF/SEM）的標(biāo)記圖像文件格式
BS ISO 16700:2004 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.圖像放大校準(zhǔn)指南
BS EN ISO 9220:1989 金屬鍍層.鍍層厚度測(cè)量.掃描電子顯微鏡法

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E766-98 校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)
ASTM E766-98(2003) 校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)
ASTM E1588-08 用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進(jìn)行槍擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
ASTM E1588-95(2001) 用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進(jìn)行槍擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
ASTM E1588-95 用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進(jìn)行槍擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
ASTM E1588-10 用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進(jìn)行槍擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
ASTM E986-04 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
ASTM E986-04(2010) 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
ASTM E986-04(2017) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
ASTM E986-04(2024) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
ASTM E766-14 掃描電子顯微鏡放大倍率校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)方法
ASTM E986-97 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
ASTM E1588-20 通過(guò)掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法進(jìn)行槍支殘留分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐

上海市標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

DB31/T 297-2003 掃描電子顯微鏡放大倍率校準(zhǔn)方法

國(guó)家能源局，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

SY/T 5162-2021 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-石油，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

SY 5162-2014 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
SY/T 5162-1997 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
SY/T 5162-2014 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法

法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

NF X21-005:2006 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-商品檢驗(yàn)，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

SN/T 4388-2015 皮革鑒定掃描電鏡和光學(xué)顯微鏡法

VDI - Verein Deutscher Ingenieure，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

VDI 3866 BLATT 5-2015 技術(shù)產(chǎn)品中石棉的測(cè)定掃描電子顯微鏡法
VDI 3866 Blatt 5-2003 工業(yè)產(chǎn)品中石棉的測(cè)定掃描電子顯微鏡法

GOSTR，關(guān)于掃描電鏡電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)

PNST 508-2020 納米技術(shù) 單壁碳納米管通過(guò)掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜法表征

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