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BS ISO 19749:2021
納米技術(shù) 用掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布

Nanotechnologies. Measurements of particle size and shape distributions by scanning electron microscopy

BS ISO 19749:2021 中，可能用到以下儀器設(shè)備

ParticleX 全自動(dòng)顆粒分析系統(tǒng)

復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司

Phenom Particle Metric顆粒測(cè)試

復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司

PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測(cè)量系統(tǒng)

安徽澤攸科技有限公司

標(biāo)準(zhǔn)號(hào): BS ISO 19749:2021
發(fā)布: 2021年
發(fā)布單位: 英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
當(dāng)前最新: BS ISO 19749:2021

專題

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BS ISO 19749:2021相似標(biāo)準(zhǔn)

ISO 19749:2021 納米技術(shù).用掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布 KS C ISO 19749-2023 納米技術(shù)——用掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布 EN ISO 19749:2023 納米技術(shù).用掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布 DANSK DS/ISO 19749:2021 納米技術(shù) 通過(guò)掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布 UNE-EN ISO 19749:2023 納米技術(shù) 通過(guò)掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布

BS ISO 19749:2021 中可能用到的儀器設(shè)備

電鏡附件及外設(shè) 掃描電鏡SEM

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