ISO 22489:2016
微光束分析.電子探針微量分析.運(yùn)用波長(zhǎng)色散X射線光譜測(cè)量法定量分析塊狀樣品
Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Quantitative point analysis for bulk specimens using wavelength dispersive X-ray spectroscopy
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- ISO 22489:2016
- 發(fā)布
- 2016年
- 發(fā)布單位
- 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織
- 當(dāng)前最新
- ISO 22489:2016
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 14594:2014 ISO 14595:2014 ISO 17470:2014 ISO 22309:2006 ISO 23833:2013 ISO/IEC 17025:2005
專(zhuān)題
ISO 22489:2016相似標(biāo)準(zhǔn)
BS ISO 22489:2016 微光束分析.電子探針微量分析.用波長(zhǎng)色散X-射線光譜測(cè)量法作塊狀樣品的定量點(diǎn)分析
BS ISO 22489:2007 微光束分析.電子探針微量分析.用波長(zhǎng)色散X-射線光譜測(cè)量法作塊狀樣品的定量點(diǎn)分析
NF X21-006:2007 微光束分析.電子探針微量分析.用波長(zhǎng)色散X-射線光譜測(cè)量法進(jìn)行塊狀樣品的定量點(diǎn)分析
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BH GSO ISO 22489:2017 微束分析 電子探針微量分析 使用波長(zhǎng)色散 X 射線光譜對(duì)大塊樣品進(jìn)行定量點(diǎn)分析