ISO 18554:2016
表面化學(xué)分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對材料進行分析的X射線的意外降解的識別, 評估和修正程序
Surface chemical analysis - Electron spectroscopies - Procedures for identifying, estimating and correcting for unintended degradation by X-rays in a material undergoing analysis by X-ray photoelectron spectroscopy
ISO 18554:2016 發(fā)布歷史
ISO 18554:2016由國際標準化組織 IX-ISO 發(fā)布于 2016-03。
ISO 18554:2016 在中國標準分類中歸屬于: G04 基礎(chǔ)標準與通用方法，在國際標準分類中歸屬于: 71.040.40 化學(xué)分析。
ISO 18554:2016 表面化學(xué)分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對材料進行分析的X射線的意外降解的識別, 評估和修正程序的最新版本是哪一版？
最新版本是 ISO 18554:2016 。
ISO 18554:2016的歷代版本如下：
- 2016年 ISO 18554:2016 表面化學(xué)分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對材料進行分析的X射線的意外降解的識別, 評估和修正程序
采用 ISO 18554 的發(fā)行版本有：
- BS ISO 18554:2016 表面化學(xué)分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對材料進行分析的X射線的意外降解的識別, 評估和修正程序
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- 標準號
- ISO 18554:2016
- 發(fā)布
- 2016年
- 發(fā)布單位
- 國際標準化組織
- 當前最新
- ISO 18554:2016
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