| 術(shù)語(yǔ) | 描述 |
|---|---|
| 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn) calibration standards | 由主要稀釋溶液或儲(chǔ)備液制備的標(biāo)準(zhǔn)溶液，含有待測(cè)元素或內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)元素。 |
| 線(xiàn)性校準(zhǔn)范圍 linear calibration range | 儀器響應(yīng)呈線(xiàn)性的濃度范圍。 |
| 靈敏度 sensitivity | 分析曲線(xiàn)線(xiàn)性擬合的斜率，表示熒光強(qiáng)度與濃度之間的函數(shù)關(guān)系。 |
| 檢測(cè)限 detection limit | 最小元素濃度，能夠以99%的信心認(rèn)為該元素濃度不同于空白。 |
| 全反射X射線(xiàn)熒光光譜儀 Mo作為X射線(xiàn)源和Ga作為內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn) | 用于表面化學(xué)分析，特別適用于硅片等樣品的元素含量測(cè)定。 |
01 導(dǎo)言 X 射線(xiàn)反射鏡是一種能反射和聚焦短波長(zhǎng) X 射線(xiàn)（束）的反射光學(xué)元件，廣泛應(yīng)用于各種分析儀器中。為了有效表征 X 射線(xiàn)的光學(xué)和物理性質(zhì)，各種反射鏡形態(tài)須達(dá)到平均粗糙度在亞納米級(jí)的高表面精度。便攜式 X 射線(xiàn)元素分析儀基于全反射 X 射線(xiàn)熒光 (TXRF) 分析技術(shù)構(gòu)建，應(yīng)用于需要...
主要使用X射線(xiàn)束激發(fā)熒光輻射，第一次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現(xiàn)在，該方法作為非破壞性分析技術(shù)，并作為過(guò)程控制的工具，廣泛應(yīng)用于采掘和加工工業(yè)。原則上，最輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由于儀器的局限性和輕元素的低X射線(xiàn)產(chǎn)量，往往難以量化，所以針對(duì)能量分散式的X射線(xiàn)熒光光譜儀...
X射線(xiàn)熒光光譜（XRF）技術(shù)是一項(xiàng)可用于確定各類(lèi)材料成份構(gòu)成的分析技術(shù)，已經(jīng)成熟運(yùn)用多年。其應(yīng)用方向主要包括金屬合金、礦物、石化產(chǎn)品等等。而全反射X射線(xiàn)熒光作為X射線(xiàn)熒光中的后起之秀，因?yàn)橹茦雍?jiǎn)單且具有可與原子吸收光譜 (AAS), 電感耦合等離子體質(zhì)譜 (ICP-MS) 比擬的低至PPb級(jí)別...
X射線(xiàn)熒光光譜化學(xué)分析熔鑄玻璃片法，是用熔鑄玻璃片法制樣，以消除礦物和粒度效應(yīng)，將樣品鑄成適合X射線(xiàn)熒光光譜儀測(cè)量形狀的玻璃片，測(cè)量玻璃片中待測(cè)元素的X射線(xiàn)熒光強(qiáng)度，根據(jù)校準(zhǔn)曲線(xiàn)來(lái)得到待測(cè)元素含量...
分析测试百科网标准频道是为分析测试行业提供标准信息检索而建立，方便分析测试行业从业人员查找适用的标准。
本页面内容根据标准题录信息制作，有可能不准确甚至可能有错误。如需准确的标准信息，请参阅正式版完整文本。
部分标准提供预览和封面图，这些内容由系统根据一般约定生成，不意味着与正式版本一致，请以正式版本为准。
为响应国家号召，推广中国国家强制标准，部分GB（中国国家强制标准）可以在本站下载到标准文本，也可以前往中国国家标准化委员会网站下载。除此以外的所有标准，本站均没有相应标准的完整文本，无法提供下载，页面上提供的预览页是前几页，它不是完整文本。
为帮助用户买到标准，本站提供了一些可能的采购渠道， 部分采购渠道不属于本站，用户需要自行甄别真实性，本站不对非本站的采购渠道的真实性提供保证。本站提供的采购渠道中，部分标准提供在线采购，这类渠道可以在本站直接完成采购，实际销售方为“中国标准服务网”或“分析测试百科网”。
本页面提到的所有商标中，除“分析测试百科网”外，其他所有产品和品牌名称是对应的机构或者生产商的商标或注册商标。TM 和 ® 的标示有可能在本网站上被省略。
Copyright ?2007-2025 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP備07018254號(hào) 京公網(wǎng)安備1101085018 電信與信息服務(wù)業(yè)務(wù)經(jīng)營(yíng)許可證：京ICP證110310號(hào)
頁(yè)面更新時(shí)間: 2025-04-22 17:24
