這些詞與前半部分結(jié)合后，形成的縮略語(yǔ)則分別是 NDI、NDT 和 NDE，翻譯成中文就出現(xiàn)了無(wú)損探傷、無(wú)損檢查（非破壞檢查）、無(wú)損檢驗(yàn)、無(wú)損檢測(cè)、無(wú)損評(píng)價(jià)等不同術(shù)語(yǔ)形式和寫法。實(shí)際上，這些不同的英文及其相應(yīng)的中文術(shù)語(yǔ)，它們具有的意義相同，都是同義詞。...
2、樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊?！ ?、射線檢測(cè)器檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向，通過(guò)儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)?！ ?、衍射圖的處理分析系統(tǒng)，現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。 ...
在一些情況下,物質(zhì)結(jié)晶相和非晶相的衍射圖譜往往會(huì)重疊。結(jié)晶度的測(cè)定主要是根據(jù)結(jié)晶相的衍射圖譜面積與非晶相圖譜面積的比,在測(cè)定時(shí)必須把晶相、非晶相及背景不相干散射分離開來(lái)。? ?6 晶體取向及織構(gòu)的測(cè)定? ?晶體取向的測(cè)定又稱為單晶定向,就是找出晶體樣品中晶體學(xué)取向與樣品外坐標(biāo)系的位向關(guān)系。...
粒子探測(cè)器應(yīng)用與天文學(xué)，粒子物理，醫(yī)學(xué)成像，光譜成像，粒子追蹤，電子顯微鏡，無(wú)損檢測(cè)，質(zhì)譜學(xué)，X射線成像，X射線衍射，X射線熒光光譜? ? 粒子探測(cè)器描述：? ? 為現(xiàn)代粒子加速器設(shè)計(jì)的粒子探測(cè)器外部尺寸和造價(jià)都很龐大。當(dāng)粒子探測(cè)器僅僅計(jì)數(shù)粒子的數(shù)目但不解析粒子的能量時(shí)，經(jīng)常用術(shù)語(yǔ)“計(jì)數(shù)器”來(lái)代替“探測(cè)器”。...
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