ASTM D5723-95(2010)
X射線熒光法測(cè)定金屬基體上鉻處理重量標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

Standard Practice for Determination of Chromium Treatment Weight on Metal Substrates by X-Ray Fluorescence

被代替

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

ASTM D5723-95(2010)

發(fā)布

1995年

發(fā)布單位

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)

替代標(biāo)準(zhǔn)

ASTM D5723-95(2015)

當(dāng)前最新

ASTM D5723-95(2019)

 

 

適用范圍

本實(shí)踐中描述的程序旨在提供一種可以確定金屬基材上鉻處理的涂層重量的方法。本程序適用于測(cè)定總涂層重量和含鉻處理的鉻涂層重量。
1.1 本實(shí)踐涵蓋使用 X 射線熒光 (XRF) 技術(shù)來(lái)測(cè)定金屬基材上鉻處理的涂層重量。這些技術(shù)適用于測(cè)定各種金屬基材上的鉻涂層重量或含鉻處理的總涂層重量，或兩者。
1.2 本標(biāo)準(zhǔn)并不旨在解決與其使用相關(guān)的所有安全問題（如果有）。本標(biāo)準(zhǔn)的使用者有責(zé)任在使用前建立適當(dāng)?shù)陌踩徒】祵?shí)踐并確定監(jiān)管限制的適用性。

ASTM D5723-95(2010)相似標(biāo)準(zhǔn)

推薦