（3）液體樣品 那些不均勻、不規(guī)則金屬、合金、礦石等，按標(biāo)準(zhǔn)難以制備固成體、粉末試樣，而只能制備成液體，以及本身形態(tài)就是液體的試樣，這些就是常見液體樣品。常使用直接溶液法測定，或經(jīng)薄樣技術(shù)制成特殊樣片進(jìn)行分析。...
分析線的強(qiáng)度和研磨面的方向有關(guān)，入射線和出射線構(gòu)成的平面和磨面研磨方向平行時(shí)吸收最小，垂直時(shí)吸收最大。采用樣品旋轉(zhuǎn)就能使這影響平均化。實(shí)質(zhì)上，表面的光潔度不一樣時(shí)入射的一次X?射線和熒光X?射線的光程隨表面磨紋的粗細(xì)而改變。研磨前后表面光潔度的變化三、粉末樣品粉末樣品不存在固體樣品的主要缺點(diǎn)（不能用添加劑）。粉末樣品很容易采用標(biāo)準(zhǔn)添加法、稀釋法、低吸收稀釋和高吸收稀釋法、內(nèi)標(biāo)法和強(qiáng)度參考內(nèi)標(biāo)法。...
校正公式簡化為:巖石礦物分析第三分冊(cè)有色、稀有、分散、稀土、貴金屬礦石及鈾釷礦石分析式中:w(WO3)為被測試樣WO3的質(zhì)量分?jǐn)?shù);IW為未知試樣中扣除背景的WLα分析線凈強(qiáng)度;IW100為純WO3的Lα的凈強(qiáng)度值，應(yīng)取相同條件下制備3個(gè)純WO3試樣的平均凈強(qiáng)度;w(WO3)100為純WO3的質(zhì)量分?jǐn)?shù)，巖石礦物分析第三分冊(cè)有色、稀有、分散、稀土、貴金屬礦石及鈾釷礦石分析注意事項(xiàng)1)X射線熒光光譜法穩(wěn)定性高...
分析線的強(qiáng)度和研磨面的方向有關(guān)，入射線和出射線構(gòu)成的平面和磨面研磨方向平行時(shí)吸收最小，垂直時(shí)吸收最大。采用樣品旋轉(zhuǎn)就能使這影響?平均化。實(shí)質(zhì)上，表面的光潔度不一樣時(shí)入射的一 次X?射線和熒光X?射線的光程隨表面磨紋的粗細(xì)而改變。三、粉末樣品 粉末樣品不存在固體樣品的主要缺點(diǎn)（不能用添加劑）。粉末樣品很容易采用標(biāo)準(zhǔn)添加法、稀釋法、低吸收稀釋和高吸?收稀釋法、內(nèi)標(biāo)法和強(qiáng)度參考內(nèi)標(biāo)法。...
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