創(chuàng)想X射線熒光光譜儀 為了獲得全反射，原級X射線的入射角必須小于臨界角(中)，φ。的定義為:入射X射線剛好發(fā)生反射現(xiàn)象時的人射角度。忽略在吸收限處的共振和量子效應，由經典色散理論可推出臨界角公式1/2中: = (5.4 x 10"Zp\3/A)(2)式中：Z為原子序數(shù)；p為密度,g/cm2 ；λ為人射X射線的波長，cm；λ反射體的原子量,g/mol。...
盡管二者都是把物質激發(fā)后檢測其熒光，但二者的區(qū)別很大，從大的方面看主要有兩點： 1、激發(fā)光源不同。 原子熒光用的光源很多，如各種激光等，但很少見有用X-射線的；而X-射線熒光則是用X-射線作激發(fā)光源。 2、用途不同。 原熒主要用來作定量分析，尤其是金屬元素的定量分析；而X熒主要用來作定性分析和結構分析。當然二者的儀器構造、使用方法、檢測范圍、樣品制備等等都不一樣。 ...
、非接觸、非破壞性及多元素分析等特點；然而X-光熒光分析儀分析的靈敏度受到試片基質散射效應及入射X-光與試片基座反應產生的制動幅射的限制，爾后逐漸發(fā)展出全反射X-光熒光分析儀，才大幅提高X-光熒光分析儀的靈敏度。? ????...
近些年來，X射線儀器仍然取得了巨大的進步，如：全反射X射線熒光光譜儀（TXRF）、聚焦微束X射線熒光光譜儀（μXRF）、偏振X射線熒光光譜儀（EDPXRF）等相繼商品化。 ...
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