ISO 11699-1:2008
無(wú)損檢測(cè).工業(yè)X射線照相底片.第1部分:工業(yè)X射線照相底片系列的分類(lèi)

Non-destructive testing - Industrial radiographic film - Part 1: Classification of film systems for industrial radiography

適用范圍: ISO 11699 這一部分的目的是確定膠片系統(tǒng)的性能。 ISO 11699 的這一部分適用于工業(yè)射線照相（無(wú)損檢測(cè)）中與指定鉛屏相結(jié)合的膠片系統(tǒng)的分類(lèi)。 ISO 11699 的這一部分旨在確保射線照片的圖像質(zhì)量（就其受膠片系統(tǒng)的影響而言）符合 ISO 5579、ISO 17636 和 EN 12681 等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的要求。 ISO 11699 的一部分不適用于熒光增感屏使用的膠片的分類(lèi)。 ISO 11699 這一部分中的膠片系統(tǒng)測(cè)量?jī)H限于選定的輻射質(zhì)量，以簡(jiǎn)化程序。薄膜的性能會(huì)隨著輻射能量的變化而變化，但薄膜系統(tǒng)質(zhì)量的排序不會(huì)變化。 ISO 11699-2 中描述了評(píng)估照相過(guò)程的其他方法，通過(guò)該方法可以在工業(yè)給定的條件下控制膠片系統(tǒng)的性能。

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