產(chǎn)品特點可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果可以測量從1nm到10mm的薄膜厚度可以測量厚度、折射率、反射率和穿透率產(chǎn)品參數(shù)測量結(jié)果我們深耕薄膜測量行業(yè)十多年，不論您在薄膜測量方面有什么問題，我們的技術(shù)專家都可以為您提供有價值的建議或解決方案。歡迎來電，我們很高興與您討論您的應(yīng)用問題。...
覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必備手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。...
這篇簡短的文章探討了掃描探針技術(shù)如何有助于獲得更多的測量（在相對較短的時間內(nèi)），以更好地評估涂層厚度的一致性，特別是在更大，更復(fù)雜的結(jié)構(gòu)上。背景? ? ? ?有兩個行業(yè)標準被廣泛用于測量涂層厚度。這些包括ASTM D7091，應(yīng)用于黑色金屬和非磁性涂層的非磁性涂層的干膜厚度的無損測量的標準規(guī)范和應(yīng)用于有色金屬的非磁性涂層和SSPC-PA 2，確定符合干涂層厚度要求的程序。...
例如，保證最小的涂層厚度，避免過量使用材料造成資源浪費；在防腐蝕和航空航天領(lǐng)域，需要確保足夠的涂層厚度和涂層均一性，防止在使用中出現(xiàn)安全問題。目前，電渦流式相關(guān)設(shè)備可以用于金屬板材厚度檢測，但這種方法不能用于導(dǎo)電性差的纖維增強復(fù)合材料；超聲波檢測可以用于導(dǎo)電性差的材料，但需要接觸式測量。這時就體現(xiàn)出了太赫茲技術(shù)的優(yōu)勢：1. 非接觸式和非破壞性測量；2. 測量結(jié)果不受環(huán)境溫度影響；3....
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