GB/T 11685-2003
半導(dǎo)體X射線探測器系統(tǒng)和半導(dǎo)體X射線能譜儀的測量方法
Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers
GBT11685-2003, GB11685-2003
- 標(biāo)準(zhǔn)號
- GB/T 11685-2003
- 別名
- GBT11685-2003, GB11685-2003
- 發(fā)布
- 2003年
- 總頁數(shù)
- 30頁
- 發(fā)布單位
- 國家質(zhì)檢總局
- 當(dāng)前最新
- GB/T 11685-2003
- 被代替標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 8992-1988 GB/T 11685-1989
- 適用范圍
- 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體X射線探測器系統(tǒng)和半導(dǎo)體X射線能譜儀主要特性的測量方法。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體X射線探測器系統(tǒng)和半導(dǎo)體X射線能譜儀主要性能的測量。
GB/T 11685-2003 中可能用到的儀器設(shè)備
專題
GB/T 11685-2003相似標(biāo)準(zhǔn)
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