IEC 61967-4:2006
集成電路.150kHz～1GHz電磁輻射測(cè)量.第4部分:電導(dǎo)輻射測(cè)量.1～150Ω直接耦合法
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions; 1 /150 direct coupling method
點(diǎn)擊查看大圖
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- IEC 61967-4:2006
- 發(fā)布
- 2006年
- 發(fā)布單位
- 國(guó)際電工委員會(huì)
- 替代標(biāo)準(zhǔn)
- IEC 61967-4:2002/AMD1:2006
- 當(dāng)前最新
- IEC 61967-4:2021 RLV
IEC 61967 的這一部分規(guī)定了一種通過(guò)使用 1 Ω 電阻探頭直接測(cè)量射頻 (RF) 電流和使用 150 Ω 耦合網(wǎng)絡(luò)測(cè)量 RF 電壓來(lái)測(cè)量集成電路傳導(dǎo)電磁發(fā)射 (EME) 的方法。這些方法保證了 EME 測(cè)量的高度可重復(fù)性和相關(guān)性。 IEC 61967-1 規(guī)定了測(cè)試方法的一般條件和定義。
IEC 61967-4:2006相似標(biāo)準(zhǔn)
NF C96-260-4/A1*NF EN 61967-4/A1:2006 集成電路.150kHz～1GHz電磁輻射的測(cè)量.第4部分:傳導(dǎo)輻射測(cè)量.1Ω～150Ω直接耦合法
IEC 61967-4:2002/AMD1:2006 修改件1.集成電路.150kHz-1GHz電磁輻射的測(cè)量.第4部分:1Ω/150Ω直接耦合法
BS EN IEC 61967-4:2021 集成電路. 電磁輻射測(cè)量. 第4部分: 電導(dǎo)輻射測(cè)量. 1～150Ω直接耦合法
BS EN 61967-4:2002 集成電路.150kHz～1GHz電磁輻射的測(cè)量.第4部分:傳導(dǎo)輻射的測(cè)量.1ohm/150ohm直接耦合法
CEI EN IEC 61967-4:2022 集成電路 電磁輻射測(cè)量 第4部分:傳導(dǎo)輻射測(cè)量 1Ω/150Ω直接耦合法