ISO 14975:2000
表面化學分析 信息格式
Surface chemical analysis - Information formats
- 標準號
- ISO 14975:2000
- 發(fā)布
- 2000年
- 中文版
- GB/T 21007-2007 (等同采用的中文版本)
- 發(fā)布單位
- 國際標準化組織
- 當前最新
- ISO 14975:2000
- 適用范圍
- 本國際標準規(guī)定了一種補充 ISO 14976 的格式，用于傳輸用于創(chuàng)建、擴展和修訂表面化學分析光譜數(shù)據(jù)庫的數(shù)據(jù)。 該格式適用于俄歇電子能譜 (AES) 和 X 射線光電子能譜 (XPS) 光譜數(shù)據(jù)。