由于底片上記錄的信息十分豐富，且可以長(zhǎng)期保存，從而使射線照相法成為各種無(wú)損檢測(cè)方法中記錄zui真實(shí)、zui直觀、zui全面、可追蹤性的檢測(cè)方法。（2）可以獲得缺陷的投影圖象，缺陷定性定量準(zhǔn)確?！ 「鞣N無(wú)損檢測(cè)方法中，射線照相對(duì)缺陷定性是zui準(zhǔn)的。在定量方面，對(duì)體積型缺陷（氣孔、夾渣類）的長(zhǎng)度、寬度尺寸的確定也很準(zhǔn)，其誤差大致在零點(diǎn)幾毫米。...
如果各射線照片之間的腳步足夠小，則可根據(jù)成套的射線照片來重新計(jì)算出樣品中各點(diǎn)的衰減系數(shù)值。這種重構(gòu)可通過合適的軟件來實(shí)現(xiàn)。 特點(diǎn)：X射線層析攝像技術(shù)可對(duì)微結(jié)構(gòu)（可細(xì)至納米尺度）進(jìn)行定量的無(wú)損檢測(cè)，空間分辨尺度可達(dá)10納米左右?！ ?em>X射線折射分析法 定量的二維X射線折射層析攝像技術(shù)可用來改進(jìn)材料的無(wú)損檢測(cè)，如用于生物醫(yī)學(xué)陶瓷、工業(yè)陶瓷、高性能陶瓷、復(fù)合材料和其他異質(zhì)材料。...
X射線折射分析法 定量的二維X射線折射層析攝像技術(shù)可用來改進(jìn)材料的無(wú)損檢測(cè)，如用于生物醫(yī)學(xué)陶瓷、工業(yè)陶瓷、高性能陶瓷、復(fù)合材料和其他異質(zhì)材料。該方法基于來自微結(jié)構(gòu)界面的X射線折射率差異而產(chǎn)生的X射線折射超小角散射探測(cè)技術(shù)，可直接檢測(cè)得出尺寸范圍在微米級(jí)至納米級(jí)范圍的內(nèi)部表面數(shù)量和位置。折射強(qiáng)度正比于內(nèi)表面密度，即式樣的表面積與單位體積之比率。...
總的來說，RT的特性是——定性更準(zhǔn)確，有可供長(zhǎng)期保存的直觀圖像，總體成本相對(duì)較高，而且射線對(duì)人體有害，檢驗(yàn)速度會(huì)較慢。無(wú)損檢測(cè)X光機(jī)用于工業(yè)部門的工業(yè)檢驗(yàn)X光機(jī)通常為工業(yè)無(wú)損檢測(cè)X光機(jī)（無(wú)損耗檢測(cè)），此類便攜式X光機(jī)可以檢測(cè)各類工業(yè)元器件、電子元件、電路內(nèi)部。例如插座插頭橡膠內(nèi)部線路連接，二極管內(nèi)部焊接等的檢測(cè)。...
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